[發明專利]慢盤檢測方法及裝置、計算機可讀存儲介質有效
| 申請號: | 201810980255.7 | 申請日: | 2018-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN110865896B | 公開(公告)日: | 2021-03-23 |
| 發明(設計)人: | 楊康;程曉琳;于德權;臧慧;向甜 | 申請(專利權)人: | 華為技術有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/07 | 分類號: | G06F11/07 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138 | 代理人: | 肖慶武 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 方法 裝置 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
本申請公開了一種慢盤檢測方法及裝置、計算機可讀存儲介質,屬于云存儲安全領域。包括:獲取包括硬盤的多個IO數據的訓練集;對訓練集執行x次訓練過程,訓練過程包括:從訓練集獲取m個IO數據,對于每個IO數據,從第一搜索空間獲取與IO數據中的目標IO值距離最近的k個IO值,基于目標IO值對應的目標時延值以及k個IO值對應的k個時延值確定IO數據對應的目標統計值,根據m個IO數據對應的m個目標統計值確定m個IO數據對應的累積分布函數;基于x次訓練過程得到的x個累積分布函數確定目標閾值;基于目標閾值和訓練集,根據硬盤的實時IO數據對硬盤進行慢盤檢測。本申請通過IO數據中的IO值和時延值確定目標閾值,解決了慢盤檢測的精確度較低的問題。
技術領域
本申請涉及云存儲安全領域,特別涉及一種慢盤檢測方法及裝置、計算機可讀存儲介質。
背景技術
硬盤由于磁頭老化、磁性退化、壞道、碎片、振動和節能設計等硬件和環境問題,會導致讀寫性能惡化,輸入輸出(Input/Output,IO)響應時間變長,進而成為慢盤,這種現象稱為慢盤現象。在云化場景下,硬盤除了硬件和環境問題以外,還可能由于應用層的IO數據沖擊導致IO響應時間變長,進而成為慢盤。云化場景可以劃分為三層結構,由底層至上層依次包括:基礎設施即服務(Infrastructure-as-a-Service,IaaS)(簡稱:I層)、平臺即服務(Platform-as-a-Service,PaaS)(簡稱:P層)和軟件即服務(Software-as-a-Service,SaaS)(簡稱:S層),常見的云化場景包括云優化場景、云增值場景和云創新場景。其中,由于硬件和環境問題導致的慢盤現象發生在I層,由于應用層的IO數據沖擊導致的慢盤現象發生在P層。慢盤現象輕則會引起業務性能和/或可靠性下降,重則會導致業務中斷。因此,快速精準地檢測慢盤對云存儲安全至關重要。
目前,業界主要采用自我監測、分析及報告技術(Self-Monitoring Analysis andReporting Technology,SMART)數據或IO數據進行慢盤檢測。其中,SMART數據主要包括磁盤性能數據,例如數據吞吐性能、馬達啟動時間和尋道錯誤率等,即SMART數據為I層的數據;IO數據包括IO值和等待時間(await)值,IO值包括磁盤的讀寫流量和讀寫次數等,await時延表征IO請求的完成耗時,也稱時延值,await值的大小取決于服務時間、IO隊列的長度以及IO請求的發出模式等。云化解耦場景是I層和P層相互獨立的云化場景,由于I層和P層相互獨立,P層無法獲取I層的數據,因此云化解耦場景下,處于P層的用戶設備無法獲取I層的SMART數據以進行慢盤檢測,基于SMART數據的慢盤檢測方法的通用性較低。
相關技術中提供了一種基于await值的慢盤檢測方法,包括:獲取磁盤中多個測試樣本(指IO請求)的await值,將每個測試樣本的await值與設定的閾值進行比較,對于同一磁盤,當超過一定數量的測試樣本的await值大于固定閾值時,則確定該磁盤為慢盤。
但是,采用相關技術中的慢盤檢測方法,由于相同IO值對應的await值可能不同,await值的波動較大,當固定閾值設定過高時,易造成慢盤的漏測,當固定閾值設定過低時,易造成慢盤的誤測,慢盤檢測的精確度較低。
發明內容
本申請實施例提供了一種慢盤檢測方法及裝置、計算機可讀存儲介質,可以解決相關技術中慢盤檢測的精確度較低的問題。所述技術方案如下:
第一方面,提供了一種慢盤檢測方法,該方法包括:
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