[發明專利]一種干式空心并聯電抗器運行風險評估方法及系統

在審

• 申請號: 201810980219.0
• 申請日: 2018-08-27
• 公開（公告）號: CN109242287A
• 公開（公告）日: 2019-01-18
• 發明（設計）人: 崔志剛;錢國超;彭慶軍;鄒德旭;程志遠;顏冰;王山;馬宏明;黑穎頓
• 申請（專利權）人: 云南電網有限責任公司電力科學研究院
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06Q50/06
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

1.一種干式空心并聯電抗器運行風險評估方法，其特征在于，所述干式空心并聯電抗器運行風險評估方法包括：

步驟S1，采集變電站運行干式空心并聯電抗器的特征參數，所述特征參數包括干式空心并聯電抗器的運行電壓、投切次數、運行年限和制造批次；

步驟S2，根據采集的所述運行電壓，通過歸一化處理，計算得到運行電壓風險因子U_Z；

步驟S3，根據采集的所述投切次數，通過歸一化處理，計算得到投切次數風險因子T_Z；

步驟S4，根據采集的所述運行年限，通過歸一化處理，計算得到運行年限風險因子N_Z；

步驟S5,根據采集的所述制造批次，通過歸一化處理，計算得到制造批次風險因子C_Z；

步驟S6，根據所述運行電壓風險因子U_Z、所述投切次數風險因子T_Z、所述運行年限風險因子N_Z和所述制造批次風險因子C_Z，計算得到干式空心并聯電抗器的運行風險值F_D；

步驟S7，根據所述運行風險值F_D，找出高風險干式空心并聯電抗器。

2.如權利要求1所述的干式空心并聯電抗器運行風險評估方法，其特征在于，所述根據采集的所述運行電壓，通過歸一化處理，計算得到運行電壓風險因子U_Z包括，按照下式計算得到所述運行電壓風險因子U_Z：

式中，U_Z為運行電壓風險因子；U_N為干式空心并聯電抗器額定電壓；U_S為干式空心并聯電抗器運行電壓；ξ_U為電壓歸一化因子。

3.如權利要求1所述的干式空心并聯電抗器運行風險評估方法，其特征在于，根據采集的所述投切次數，通過歸一化處理，計算得到投切次數風險因子T_Z包括，按照下式計算得到所述投切次數風險因子T_Z：

式中，T_Z為投切次數風險因子；T_S為干式空心并聯電抗器實際投切次數；ξ_T為投切次數歸一化因子。

4.如權利要求1所述的干式空心并聯電抗器運行風險評估方法，其特征在于，根據采集的所述運行年限，通過歸一化處理，計算得到運行年限風險因子N_Z包括，按照下式計算得到所述運行年限風險因子N_Z：

式中，N_Z為運行年限風險因子；N_S為干式空心并聯電抗器實際運行年限；ξ_N為運行年限歸一化因子。

5.如權利要求1所述的干式空心并聯電抗器運行風險評估方法，其特征在于，所述根據采集的所述制造批次，通過歸一化處理，計算得到制造批次風險因子C_Z包括，按照下式計算得到所述制造批次風險因子C_Z：

式中，C_Z為制造批次風險因子；S_g為該批次故障干式空心并聯電抗器的臺數；S_y為該批次干式空心并聯電抗器運行臺數；ξ_C為制造批次歸一化因子。