[發(fā)明專利]微帶器件測(cè)試夾具

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810972277.9
• 申請(qǐng)日: 2018-08-24
• 公開（公告）號(hào): CN108957047B
• 公開（公告）日: 2023-08-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 丁敬壘;閆歡;胡藝?yán)_;尹久紅
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 西南應(yīng)用磁學(xué)研究所
• 主分類號(hào): G01R1/04
• 分類號(hào): G01R1/04
• 代理公司: 成都市熠圖知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51290
• 代理人: 楊金濤

本發(fā)明公開了一種微帶器件測(cè)試夾具，包括基板（1）、支架（2）和測(cè)試模塊（3），其中，所述支架（2）位于基板（1）上，所述測(cè)試模塊（3）位于支架（2）上；所述測(cè)試模塊（3）包括腔體（6）、彈性簧片（7）、下頂片（8）、手柄（9）、限位板（10）、測(cè)試連接器（11）和測(cè)試插針（12）；本發(fā)明可以有效解決傳統(tǒng)微帶測(cè)試夾具插針易損、接地不良和生產(chǎn)效率低下的問題，本發(fā)明的使用頻率DC～60GHz，而傳統(tǒng)微帶測(cè)試夾具使用頻率DC～20GHz，大大延展了微帶器件的測(cè)試頻率，本發(fā)明的測(cè)試效率為≤1.2分鐘/只，而傳統(tǒng)微帶測(cè)試夾具測(cè)試效率為≥10分鐘/只，大大提升了測(cè)試效率，并且提升了微帶器件測(cè)試夾具測(cè)試的準(zhǔn)確性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及微波元器件測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種微帶器件測(cè)試夾具。

背景技術(shù)

微帶器件憑借小型化、高性能的優(yōu)勢(shì)，廣泛應(yīng)用在現(xiàn)代無(wú)線通信、雷達(dá)、電子對(duì)抗等電子系統(tǒng)中。微帶器件的測(cè)試作為研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)節(jié)的重要工序和關(guān)鍵技術(shù)，長(zhǎng)久以來(lái)微帶器件的測(cè)試一直是困擾器件大批量生產(chǎn)的瓶頸。

具體而言，長(zhǎng)期以來(lái)，傳統(tǒng)的微帶器件的測(cè)量沒有形成一個(gè)高效通用的測(cè)量技術(shù)，現(xiàn)有的測(cè)試方法只能使用于低頻率（DC～20GH在）的器件，現(xiàn)有的微帶器件測(cè)試夾具結(jié)構(gòu)如圖1所示，包括托塊13和測(cè)試插針12，被測(cè)試件4位于托塊13和測(cè)試插針12之間，測(cè)試插針12為兩個(gè)，其在托塊13的上方左右兩端對(duì)稱分布。這樣的測(cè)試夾具，存在以下缺點(diǎn)：

（1）測(cè)試插針12易受損傷：因?yàn)橥袎K13每次向上施加的力量不一樣，測(cè)試的結(jié)果會(huì)不同，測(cè)試插針12也更容易損傷；

（2）頻率受限：這種結(jié)構(gòu)由于接地不良，該測(cè)試夾具僅適用于20GHz以下的頻率，在更高頻率的測(cè)試中，會(huì)帶來(lái)不可接受的誤差；對(duì)于高頻微帶器件的測(cè)量，甚至需要通過焊接同軸連接器的方式對(duì)其進(jìn)行測(cè)量；

（3）生產(chǎn)效率低下：因?yàn)闇y(cè)試結(jié)果的不準(zhǔn)確性，導(dǎo)致測(cè)試工作重復(fù)，生產(chǎn)效率低下。

即，現(xiàn)有的測(cè)試夾具，測(cè)試效率不高、高頻器件無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)試是微帶器件測(cè)試面臨的主要問題，某些高頻率微帶產(chǎn)品為了獲取其性能指標(biāo)往往需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行焊接后，再進(jìn)行測(cè)試，這樣不僅損壞產(chǎn)品，而且成本昂貴，效率低下，也不適用于生產(chǎn)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的就在于提供一種新型的微帶器件測(cè)試夾具，以解決上述問題。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是這樣的：一種微帶器件測(cè)試夾具，包括基板、支架和測(cè)試模塊，其中，所述支架位于基板上，所述測(cè)試模塊位于支架上；所述測(cè)試模塊包括腔體、彈性簧片、下頂片、手柄、限位板、測(cè)試連接器和測(cè)試插針，所述彈性簧片位于腔體內(nèi)上方，所述下頂片與腔體貼合，下頂片與手柄相連，所述限位板位于腔體頂部，所述測(cè)試插針位于下頂片與限位板之間，所述測(cè)試連接器）位于腔體上方可以與儀器連接。

測(cè)試模塊的本測(cè)試夾具的核心部件，其中，

腔體：作為測(cè)試模塊的結(jié)構(gòu)框架；

彈性簧片：通過彈性簧片可以將下頂片緊密地貼合在腔體的表面上；

下頂片：在彈力的作用下，始終保持向上的狀態(tài)和力量，并可以與限位板貼合，也是保證被測(cè)件接地良好的關(guān)鍵件；

手柄：通過向手柄可以將下頂片向下移動(dòng)，將下頂片和限位板分離；

限位板；是下頂片向上移動(dòng)的限位板，也是測(cè)試插針變形量的限位板；

測(cè)試連接器：通過該測(cè)試連接器可以和測(cè)試儀器相連；

測(cè)試插針：與被測(cè)件輸入端口和輸出端口連接的中心導(dǎo)體。

作為優(yōu)選的技術(shù)方案：所述微帶器件測(cè)試夾具還包括腳墊，所述腳墊位于基板底部。設(shè)置腳墊方便固定測(cè)試夾具。