[發(fā)明專利]用于檢測連接器上的外物的電子裝置和方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810972240.6
• 申請日: 2018-08-24
• 公開（公告）號: CN109490699B
• 公開（公告）日: 2022-08-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 金濟國
• 申請（專利權(quán)）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G01R31/66
• 分類號: G01R31/66;G01R27/02;G01V3/02
• 代理公司: 北京天昊聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112
• 代理人: 張帆;趙南

提供了一種電子裝置以及通過電子裝置執(zhí)行的外物檢測方法，該電子裝置包括：連接器，其包括多個引腳；以及檢測電路，其具有上拉電路和下拉電路中的至少一個以及所述多個引腳中的第一引腳與第二引腳之間的連接電路，所述檢測電路被構(gòu)造為：選擇第一引腳和第二引腳，通過控制連接電路與上拉電路和下拉電路中的至少一個的連接來測量所選擇的第一引腳與第二引腳之間的阻抗，以及基于測量到的阻抗產(chǎn)生指示連接器上存在或不存在外物的檢測信號。

相關(guān)申請的交叉引用

本申請要求于2017年9月11日在韓國知識產(chǎn)權(quán)局提交的韓國專利申請No.10-2017-0115908的權(quán)益，該申請的公開以引用方式全文并入本文中。

技術(shù)領(lǐng)域

一些示例實施例涉及電子裝置，并且更具體地說，涉及用于檢測連接器上的外物的電子裝置和方法。

背景技術(shù)

電子裝置可包括連接器并且可經(jīng)插入連接器中的線纜與外部電子裝置通信。當外物進入連接器中時，連接器上的一些引腳可短路、腐蝕或損壞。另外，當通過線纜為電子裝置充電時，電流可在連接器上的一些引腳之間流動，導(dǎo)致電子裝置的功耗過大，這會導(dǎo)致電子裝置的損壞。

發(fā)明內(nèi)容

根據(jù)一些示例實施例，提供了一種電子裝置，其包括多個引腳和檢測電路。檢測電路包括上拉電路和下拉電路中的至少一個以及所述多個引腳中的第一引腳與第二引腳之間的連接電路。檢測電路被構(gòu)造為選擇第一引腳和第二引腳。檢測電路還被構(gòu)造為通過控制連接電路與上拉電路和下拉電路中的至少一個的連接測量所選擇的第一引腳和第二引腳之間的阻抗。此外，檢測電路被構(gòu)造為基于測量出的阻抗產(chǎn)生指示連接器上存在或不存在外物的檢測信號。

根據(jù)一些示例實施例，提供了一種電子裝置，其包括具有多個引腳的連接器和電力輸送集成電路(PDIC)。PDIC被構(gòu)造為產(chǎn)生指示連接器上存在或不存在外物的檢測信號。PDIC包括選擇電路，其被構(gòu)造為選擇所述多個引腳中的第一引腳和第二引腳。PDIC還包括上拉電路，其被構(gòu)造為將電源電壓提供至連接至第一引腳的第一節(jié)點和連接至第二引腳的第二節(jié)點。PDIC還包括：下拉電路，其被構(gòu)造為將地電壓提供至第一節(jié)點和第二節(jié)點；連接電路，其包括第一節(jié)點與第二節(jié)點之間的電阻器。此外，PDIC包括控制器，其被構(gòu)造為基于第一節(jié)點的第一電壓信號和第二節(jié)點的第二電壓信號產(chǎn)生檢測信號。

根據(jù)一些示例實施例，提供了一種通過包括控制器的電子裝置執(zhí)行的外物檢測方法。所述方法包括以下步驟：選擇包括在連接器中的多個引腳中的第一引腳和第二引腳。所述方法還包括：利用控制器測量所選擇的第一引腳與第二引腳之間的阻抗。所述方法還包括：基于測量的阻抗產(chǎn)生指示在連接器上存在或不存在外物的檢測信號。此外，所述方法包括：根據(jù)產(chǎn)生的檢測信號提供外物警報消息。

附圖說明

附圖可不根據(jù)比例，并且為了便于示出，可示出夸大或縮小的組件。

圖1是示意性地示出根據(jù)一些示例實施例的電子裝置的框圖；

圖2示出了根據(jù)一些示例實施例的連接器的示例；

圖3是根據(jù)一些示例實施例的圖1的檢測電路的詳細框圖；

圖4是示出根據(jù)一些示例實施例的檢測電路的電路圖，在該檢測電路中上拉電路和下拉電路中的每一個包括兩個電流源、兩個電阻器和兩個選擇器；

圖5是示出根據(jù)一些示例實施例的圖4的檢測電路的修改形式的電路圖，其中上拉電路和下拉電路中的每一個包括兩個電流源；

圖6是示出根據(jù)一些示例實施例的圖4的檢測電路的修改形式的電路圖，其中上拉電路和下拉電路中的每一個包括兩個電阻器；

圖7A示出了根據(jù)一些示例實施例的測量所選擇的第一引腳與所選擇的第二引腳之間的阻抗的檢測電路的示例，圖7B是圖7A的等效電路圖；