[發明專利]成像方法、圖像配準方法及裝置

有效

• 申請號: 201810967433.2
• 申請日: 2018-08-23
• 公開（公告）號: CN109242893B
• 公開（公告）日: 2020-09-04
• 發明（設計）人: 彭念;胡曄;郭曙光;張力翊
• 申請（專利權）人: 深圳市斯爾頓科技有限公司
• 主分類號: G06T7/37
• 分類號: G06T7/37;G06T7/33;A61B3/10;A61B3/12;A61B3/14
• 代理公司: 深圳市創富知識產權代理有限公司 44367
• 代理人: 程苗

1.一種成像方法，用于應用OCT設備對被測對象進行成像，其特征在于，該成像方法包括：

輸出掃描光束對所述被測對象進行掃描；

獲取所述被測對象的第一圖像與第二圖像，其中所述第二圖像和所述第一圖像所包含的全部信息中，至少有一部分信息為該兩個圖像所共有；

對所述第二圖像的信號強度進行加窗處理，并將加窗處理后的所述第二圖像與作為基準圖像的所述第一圖像進行圖像配準；所述對所述第二圖像的信號強度進行加窗處理，具體包括：分別獲取所述第一圖像和所述第二圖像的信號強度包絡，根據所述第一圖像和所述第二圖像的信號強度包絡得到信號包絡窗，通過所述信號包絡窗對所述第二圖像的信號強度進行加窗處理；

根據所述圖像配準的結果，調整所述OCT設備的掃描光束在所述被測對象上的掃描位置。

2.根據權利要求1所述的成像方法，其特征在于，所述圖像配準具體包括：將加窗處理后的所述第二圖像通過空間坐標變換與所述第一圖像進行配準，其中所述第二圖作為待配準圖像。

3.根據權利要求1所述的成像方法，其特征在于，所述根據所述圖像配準的結果，調整所述OCT設備的掃描光束在所述被測對象上的掃描位置，具體包括：

計算所述第二圖像相對于所述第一圖像的位置偏移量；

根據所述位置偏移量，調整所述掃描光束在所述被測對象上的掃描位置。

4.根據權利要求1所述的成像方法，其特征在于，采用如下公式得到所述信號包絡窗：

W＝yR/yB，其中，W為信號包絡窗，yR為所述第一圖像的信號強度包絡，yB為所述第二圖像的信號強度包絡。

5.根據權利要求4所述的成像方法，其特征在于，采用如下公式對所述第二圖像的信號強度進行加窗處理：BImgOverlap’＝BImgOverlap*W，

其中，BImgOverlap’為加窗處理后的第二圖像的強度，W為信號包絡窗，BImgOverlap為加窗處理前第二圖像的信號強度。

6.一種圖像配準方法，其特征在于，該圖像配準方法包括：

獲取被測對象的第一圖像與第二圖像，其中所述第二圖像和所述第一圖像所包含的全部信息中，至少有一部分信息為該兩個圖像所共有；

對所述第二圖像的信號強度進行加窗處理，并將加窗處理后的所述第二圖像與作為基準圖像的所述第一圖像進行圖像配準；所述對所述第二圖像的信號強度進行加窗處理，具體包括：分別獲取所述第一圖像和所述第二圖像的信號強度包絡，根據所述第一圖像和所述第二圖像的信號強度包絡得到信號包絡窗，通過所述信號包絡窗對所述第二圖像的信號強度進行加窗處理。

7.一種存儲介質，其特征在于，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被執行時實現權利要求1～5任一項所述的成像方法，或實現權利要求6所述的圖像配準方法。

8.一種計算機設備，其特征在于，其包括處理器、存儲器及存儲于所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求1～5任一項所述的成像方法，或實現權利要求6所述的圖像配準方法。

9.一種OCT系統，用于測量被測對象，包括光源、耦合器、參考臂、樣品臂、光信號檢測器和控制器，所述光源用于發出測量光，所述測量光經所述耦合器分為參考光和樣品光，所述參考光進入所述參考臂，所述樣品光經所述樣品臂進入所述被測對象，所述樣品光被所述被測對象反射后與被所述參考臂反射的所述參考光發射干涉形成干涉光信號，所述光信號檢測器檢測到所述干涉光信號并生成與所述干涉光信號對應的第一信號，所述光信號檢測器將所述第一信號傳遞給所述控制器，所述控制器利用所述第一信號生成圖像，其特征在于：

所述控制器用于實現權利要求1～5任一項所述的成像方法，或實現權利要求6所述的圖像配準方法。