[發(fā)明專利]陣列基板、液晶模組及液晶顯示設備

有效

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• 申請日: 2018-08-22
• 公開（公告）號: CN109031723B
• 公開（公告）日: 2021-06-04
• 發(fā)明（設計）人: 黃北洲
• 申請（專利權）人: 惠科股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1362
• 代理公司: 深圳精智聯(lián)合知識產權代理有限公司 44393
• 代理人: 鄧鐵華

本公開提供一種陣列基板、一種液晶模組及一種液晶顯示設備。該陣列基板包括顯示區(qū)域、非顯示區(qū)域和測試墊組；非顯示區(qū)域環(huán)繞包圍顯示區(qū)域且與顯示區(qū)域鄰接；測試墊位于非顯示區(qū)域內且遠離顯示區(qū)域設置，每一個測試墊組對應一個顯示區(qū)域，測試墊組包括數(shù)據(jù)線測試墊、多個掃描線測試墊、第一公共電極測試墊和第二公共電極測試墊；數(shù)據(jù)線測試墊用于連接液晶模組的數(shù)據(jù)線，掃描線測試墊用于連接液晶模組的掃描線，第一公共電極測試墊用于連接液晶模組的第一公共電極，第二公共電極測試墊用于連接液晶模組的第二公共電極。本公開實施例提供的陣列基板能夠提高點燈測試效率。

技術領域

本公開涉及液晶設備制造領域，尤其涉及一種陣列基板、液晶模組及液晶顯示設備。

背景技術

液晶顯示器(Liquid Crystal Display,LCD)作為一種平面超薄的顯示設備，具備功耗低、高畫質、體積小、重量輕的特點，成為顯示器的主流。液晶顯示器的類型大多是以薄膜晶體管(Thin Film Transistor，TFT)液晶顯示器為主，而一般薄膜晶體管液晶顯示器的制作可大致分為三部分:薄膜晶體管陣列(TFT Array)制備過程以及彩色濾光板制備工程、液晶顯示單元組裝(LC Cell Assembly)制備過程、液晶顯示模塊(Liquid CrystalModule，LCM)制備過程。

液晶面板在制作的過程中，需要進行多個檢驗程序，其中一個很重要檢驗程序就是對切割完成的液晶盒進行測試(Cell Test)，確認液晶盒是否存在缺陷。該測試過程先是對液晶面板輸入測試信號，使其像素呈現(xiàn)色彩，接著通過缺陷檢測裝置逐一觀察各個像素是否良好，此過程稱為點燈測試(Light-on Test)。在范例性的技術中，點燈測試一般采用以2條數(shù)據(jù)線(Data Line)和1條柵極線(Gate Line)組成的若干單元的連接方式(2D1G方式)，或者以3條數(shù)據(jù)線和2條柵極組成的若干單元的連接方式(3D2G方式)，再將數(shù)據(jù)信號和掃描信號分別接入到液晶面板的像素單元中，以檢測液晶面板的像素點是否存在不良。然而，上述方式將導致相鄰的兩數(shù)據(jù)線之間存在同種極性的現(xiàn)象，增加誤判幾率且連接方式復雜，從而影響了測試效率。

發(fā)明內容

本公開的實施例提供一種陣列基板、一種液晶模組及一種液晶顯示設備，以解決影響液晶面板測試效率較低的問題。

本公開提供了一種陣列基板，包括：

顯示區(qū)域，所述顯示區(qū)域包括多條數(shù)據(jù)線、多條掃描線和一個第二公共電極；

非顯示區(qū)域，環(huán)繞所述顯示區(qū)域且與所述顯示區(qū)域鄰接；

測試墊組，位于所述非顯示區(qū)域內且與所述顯示區(qū)域間隔設置，所述測試墊組包括多個數(shù)據(jù)線測試墊、多個掃描線測試墊、第一公共電極測試墊和第二公共電極測試墊；

其中，所述數(shù)據(jù)線測試墊電性連接所述陣列基板上的數(shù)據(jù)線，所述掃描線測試墊電性連接所述陣列基板上的掃描線，所述第一公共電極測試墊用于電性連接第一公共電極，所述第二公共電極測試墊電性連接所述第二公共電極。

在本公開的一個實施例中，所述第一公共電極位于所述顯示區(qū)域，且與所述第一公共電極測試墊電性連接。

在本公開的一個實施例中，所述掃描線測試墊的數(shù)量為四個，分別對應連接四條掃描線。

在本公開的一個實施例中，所述數(shù)據(jù)線測試墊包括奇數(shù)測試墊和偶數(shù)測試墊，所述奇數(shù)測試墊用于連接所述顯示區(qū)域內的奇數(shù)列數(shù)據(jù)線，所述偶數(shù)測試墊用于連接所述顯示區(qū)域內的偶數(shù)列數(shù)據(jù)線。

本公開提供了一種液晶模組，包括：

彩膜基板；

陣列基板，與所述彩膜基板相對設置；

液晶層，設置在所述彩膜基板與所述陣列基板之間；

其中，所述陣列基板包括：