[發(fā)明專利]低功耗設(shè)備電池壽命測試系統(tǒng)和測試方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810957328.0
• 申請日: 2018-08-21
• 公開（公告）號: CN109061502A
• 公開（公告）日: 2018-12-21
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃和聰;鐘揚貴;吳連德
• 申請（專利權(quán)）人: 廈門盈趣科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/36
• 分類號: G01R31/36
• 代理公司: 廈門仕誠聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 35227
• 代理人: 樂珠秀

1.一種低功耗設(shè)備電池壽命測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：

直流電源分析儀，所述直流電源分析儀的電源輸出端口電連接被測試低功耗設(shè)備的電源輸入端，所述直流電源分析儀用于給被測試低功耗設(shè)備供電；

計算機(jī)，所述計算機(jī)與所述直流電源分析儀之間通過數(shù)據(jù)線連接。

2.如權(quán)利要求1所述的低功耗設(shè)備電池壽命測試系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)線為USB數(shù)據(jù)線。

3.如權(quán)利要求1所述的低功耗設(shè)備電池壽命測試系統(tǒng)，其特征在于，所述計算機(jī)為PC計算機(jī)。

4.如權(quán)利要求1所述的低功耗設(shè)備電池壽命測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括網(wǎng)關(guān)，所述被測試低功耗設(shè)備與所述網(wǎng)關(guān)通過無線信號連接；所述被測試低功耗設(shè)備為物聯(lián)網(wǎng)低功耗設(shè)備。

5.一種低功耗設(shè)備電池壽命測試方法，其特征在于，包括：

采用數(shù)據(jù)線將所述計算機(jī)連接與所述直流電源分析儀連接；

采用直流電源分析儀給被測試低功耗設(shè)備供電；

采用所述計算機(jī)采集指定時間內(nèi)所述直流電源分析儀因所述供電產(chǎn)生的功耗，并形成功耗報告。

6.如權(quán)利要求5所述的低功耗設(shè)備電池壽命測試方法，其特征在于，所述直流電源分析儀的輸出電流測量精度為微安級；在所述指定時間內(nèi)，所述計算機(jī)采集功耗的時間間隔為微秒級。

7.如權(quán)利要求5所述的低功耗設(shè)備電池壽命測試方法，其特征在于，所述指定時間為24小時。

8.如權(quán)利要求5所述的低功耗設(shè)備電池壽命測試方法，其特征在于，采用所述計算機(jī)上的自動化測試軟件形成所述功耗報告。

9.如權(quán)利要求5所述的低功耗設(shè)備電池壽命測試方法，其特征在于，根據(jù)所述功耗報告，計算所述被測試低功耗設(shè)備中電池的使用壽命。

10.如權(quán)利要求5所述的低功耗設(shè)備電池壽命測試方法，其特征在于，所述被測試低功耗設(shè)備為物聯(lián)網(wǎng)低功耗設(shè)備，采用無線信號將所述被測試低功耗設(shè)備與網(wǎng)關(guān)連接。