[發(fā)明專利]TYPE C模組檢測設(shè)備及其檢測方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810955200.0
• 申請日: 2018-08-21
• 公開（公告）號: CN108957054A
• 公開（公告）日: 2018-12-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 譚小波;楊延航
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市宇隆宏天科技有限公司
• 主分類號: G01R1/06
• 分類號: G01R1/06;G01R31/00
• 代理公司: 廈門市新華專利商標(biāo)代理有限公司 35203
• 代理人: 葉玉鳳;徐勛夫

本發(fā)明公開了一種TYPE C模組檢測設(shè)備及其檢測方法，包括有機(jī)架、設(shè)于機(jī)架上的固定治具、第一檢測裝置和第二檢測裝置，所述第一檢測裝置設(shè)于固定治具的一側(cè)，第二檢測裝置設(shè)于固定治具的上方；所述固定治具包括有底座和設(shè)置于底座上的固定臺，該固定臺可放置多個(gè)TYPE C模組；所述第一檢測裝置具有第一固定座，第一固定座中固定有多個(gè)測試片，所述第二測裝置具有一第二固定座，第二固定座固定有多個(gè)組測試針，每一組測試針、每一TYPE C模組和每一測試片之間可相連構(gòu)成測試回路。其結(jié)構(gòu)設(shè)置合理，有效解決了以往TYPE C模組檢測設(shè)備無法檢測出引腳存在虛焊、TYPE C模組以母座作為測試件造成檢測成本高及無法實(shí)現(xiàn)多個(gè)TYPE C模組同時(shí)完成測試的情況。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及檢測設(shè)備領(lǐng)域技術(shù)，尤其是指一種TYPE C模組檢測設(shè)備及其檢測方法。

背景技術(shù)

隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，TYPE C模組作為一種傳輸信號的媒介產(chǎn)品，其應(yīng)用越來越廣泛，無論是工業(yè)生產(chǎn)用的設(shè)備還是人們經(jīng)常使用的手機(jī)、電腦、MP3等，TYPE C模組都作為一種重要的媒介元素而不可或缺，然而，對于部件較小、測試難的TYPE C模組產(chǎn)品，很大程度上依賴于傳統(tǒng)的人工作業(yè)，不但效率低，勞動強(qiáng)度大，成本高；人工檢測的質(zhì)量不穩(wěn)定，造成很大的浪費(fèi)。

針對此種情況出現(xiàn)了許多可以實(shí)現(xiàn)自動化檢測TYPE C模組的設(shè)備，然而這些設(shè)備存在不足的是：1、現(xiàn)有的檢測設(shè)備無法測出引腳存在虛焊等不良現(xiàn)象2、現(xiàn)有的TYPE C模組檢測設(shè)備均是以母座作為測試件3、現(xiàn)有的TYPE C模組檢測設(shè)備只能檢測特定的TYPE C模組，不同款TYPE C模組之間無法共用同一檢測設(shè)備4、現(xiàn)有的TYPE C模組檢測設(shè)備均是一個(gè)一個(gè)進(jìn)行檢測的，由此可見檢測速度慢、效率不高。有鑒于此，有必要對現(xiàn)有的TYPE C模組檢測裝機(jī)的TYPE C模組針腳檢測裝置予以改進(jìn)。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明針對現(xiàn)有技術(shù)存在之缺失，其主要目的是提供一種TYPE C模組檢測設(shè)備及其檢測方法，其結(jié)構(gòu)設(shè)置合理，有效解決了以往TYPE C模組檢測設(shè)備無法檢測出引腳存在虛焊、TYPE C模組以母座作為測試件造成檢測成本高及無法實(shí)現(xiàn)多個(gè)TYPE C模組同時(shí)完成測試的情況。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下之技術(shù)方案：

一種TYPE C模組檢測設(shè)備，包括有機(jī)架、設(shè)于機(jī)架上的固定治具、第一檢測裝置和第二檢測裝置，所述第一檢測裝置設(shè)于固定治具的一側(cè)，第二檢測裝置設(shè)于固定治具的上方；所述固定治具包括有底座和設(shè)置于底座上的固定臺，該固定臺可放置多個(gè)TYPE C模組；多個(gè)TYPE C模組的插接口朝向于第一檢測裝置的一方；所述第一檢測裝置具有第一固定座，第一固定座中固定有多個(gè)測試片，多個(gè)測試片與多個(gè)TYPE C模組的插接口一一對應(yīng)；所述第二測裝置具有一第二固定座，第二固定座固定有多個(gè)組測試針，多組測試針與多個(gè)TYPE C模組的PCB板一一對應(yīng)；測試片通過第一固定座的移動可插入到TYPE C模組的插口中，多組測試針通過第二固定座的移動可下壓到TYPE C模組的PCB板上，每一組測試針、每一TYPE C模組和每一測試片之間可相連構(gòu)成測試回路。

作為一種優(yōu)選方案：所述固定臺上表面左右兩側(cè)設(shè)有用于放置TYPE C模組的放置臺，中部設(shè)有用于對TYPE C模組進(jìn)行定位的定位部，定位部上設(shè)有定位銷；多個(gè)TYPE C模組在未分板時(shí)具有一PCB工藝邊，該P(yáng)CB工藝邊上具有定位孔，TYPE C模組放置于放置臺上，定位孔插入到定位銷中定位。

作為一種優(yōu)選方案：所述固定臺底部設(shè)置有安裝柱，所述底座上設(shè)置有安裝孔；該安裝孔一側(cè)設(shè)有一調(diào)節(jié)螺母，調(diào)節(jié)螺母伸入到安裝孔中；安裝柱插入到安裝孔中，通過一側(cè)設(shè)置的調(diào)節(jié)螺母可實(shí)現(xiàn)安裝臺的鎖緊或松開連接。

作為一種優(yōu)選方案：所述第一檢測裝置為鏡像設(shè)置的左右兩個(gè)，所述固定治具位于左右兩個(gè)第一檢測裝置之間；放置于左側(cè)放置臺上的TYPE C模組插接口朝向于左側(cè)第一檢測裝置，放置于右側(cè)放置臺上的TYPE C模組插接口朝向于右側(cè)第一檢測裝置。