[發(fā)明專利]測(cè)試系統(tǒng)及其方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810953000.1
• 申請(qǐng)日: 2018-08-21
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110850268A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-02-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 賴志強(qiáng)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華邦電子股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 王天堯;湯在彥

1.一種測(cè)試系統(tǒng)，用以測(cè)試一待測(cè)裝置，其特征在于，上述待測(cè)裝置包括多個(gè)待測(cè)電路，上述測(cè)試系統(tǒng)包括：

一探針卡，包括多個(gè)探針，其中上述探針是用以暫時(shí)性地電性耦接至上述待測(cè)電路；

一測(cè)試設(shè)備，固持上述探針卡，并通過(guò)上述探針卡測(cè)試上述待測(cè)電路；以及

一控制器，控制上述測(cè)試設(shè)備，并執(zhí)行一測(cè)試方法，其中上述測(cè)試方法包括：

量測(cè)上述探針卡與上述待測(cè)電路的每一者的一接觸電阻；

決定上述接觸電阻的一統(tǒng)計(jì)數(shù)值；

判斷上述統(tǒng)計(jì)數(shù)值是否超過(guò)一第一閾值；

當(dāng)上述統(tǒng)計(jì)數(shù)值不超過(guò)上述第一閾值時(shí)，設(shè)定一清針指標(biāo)為一第一狀態(tài)；

當(dāng)上述統(tǒng)計(jì)數(shù)值超過(guò)上述第一閾值時(shí)，設(shè)定上述清針指標(biāo)為一第二狀態(tài)；以及

根據(jù)上述清針指標(biāo)，對(duì)上述探針執(zhí)行一清針動(dòng)作。

2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，在上述量測(cè)上述待測(cè)電路的每一者的上述接觸電阻的步驟之后，上述測(cè)試程序更包括：

將上述探針卡與上述待測(cè)裝置的一接觸次數(shù)加1；

判斷上述接觸次數(shù)是否超過(guò)一第二閾值；以及

當(dāng)上述接觸次數(shù)不超過(guò)上述第二閾值且上述統(tǒng)計(jì)數(shù)值超過(guò)上述第一閾值時(shí)，設(shè)定上述清針指標(biāo)為一第三狀態(tài)。

3.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，在上述設(shè)定上述清針指標(biāo)為上述第二狀態(tài)的步驟以及上述設(shè)定上述清針指標(biāo)為上述第三狀態(tài)的步驟之后，上述控制器更執(zhí)行一量測(cè)程序，其中上述量測(cè)程序包括：

選取上述待測(cè)電路的一者為一選取待測(cè)電路；

量測(cè)上述選取待測(cè)電路的多個(gè)電性參數(shù)；

判斷量測(cè)上述電性參數(shù)是否成功；

當(dāng)量測(cè)上述電性參數(shù)不成功時(shí)，將一連續(xù)量測(cè)失敗次數(shù)加1；

判斷上述連續(xù)量測(cè)失敗次數(shù)是否超過(guò)一第三閾值；

當(dāng)上述連續(xù)量測(cè)失敗次數(shù)并未超過(guò)上述第三閾值時(shí)，再次量測(cè)上述選取待測(cè)電路的上述電性參數(shù)；

當(dāng)上述連續(xù)量測(cè)失敗次數(shù)超過(guò)上述第三閾值時(shí)，對(duì)上述探針執(zhí)行上述清針動(dòng)作；

當(dāng)量測(cè)上述電性參數(shù)成功時(shí)，歸零上述連續(xù)量測(cè)失敗次數(shù)；

選取上述待測(cè)電路的下一者為上述選取待測(cè)電路；以及

量測(cè)上述選取待測(cè)電路的上述電性參數(shù)。

4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，上述控制器更執(zhí)行一清針程序，其中上述清針程序包括：

判斷上述清針指標(biāo)為上述第一狀態(tài)、上述第二狀態(tài)以及上述第三狀態(tài)的一者；

當(dāng)上述清針指標(biāo)為上述第一狀態(tài)時(shí)，不對(duì)上述探針進(jìn)行上述清針動(dòng)作；

當(dāng)上述清針指標(biāo)為上述第二狀態(tài)時(shí)，選取一第一清針?lè)桨福?/p>

根據(jù)上述第一清針?lè)桨福瑢?duì)上述探針進(jìn)行上述清針動(dòng)作，其中上述第一清針?lè)桨赣靡阅コ鲜鎏结樀尼樇獾漠愇镆约疤蓟瘜樱?/p>

當(dāng)上述清針指標(biāo)為上述第三狀態(tài)時(shí)，選取一第二清針?lè)桨福?/p>

根據(jù)上述第二清針?lè)桨福瑢?duì)上述探針進(jìn)行上述清針動(dòng)作，其中上述第二清針?lè)桨赣靡阅コ鲜鎏结樀膫?cè)邊的異物并銳化上述探針的針尖；以及

當(dāng)執(zhí)行上述清針動(dòng)作后，歸零上述接觸次數(shù)以及上述清針指標(biāo)。

5.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，上述清針程序更包括：

當(dāng)上述連續(xù)量測(cè)失敗次數(shù)超過(guò)上述第三閾值時(shí)，選取一第三清針?lè)桨福灰约?/p>

根據(jù)上述第三清針?lè)桨福瑢?duì)上述探針進(jìn)行上述清針動(dòng)作，其中上述第三清針?lè)桨咐谜凑车姆绞剑瞥鲜鎏结樕系漠愇铩?/p>

6.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，上述測(cè)試程序更包括：

計(jì)數(shù)上述探針卡與上述待測(cè)裝置的一連續(xù)接觸次數(shù)；

其中上述清針程序更包括：

計(jì)數(shù)上述清針動(dòng)作的一清針次數(shù)；

根據(jù)上述連續(xù)接觸次數(shù)以及上述清針次數(shù)，決定一清針頻率；

判斷上述清針頻率是否超過(guò)一第四閾值；

當(dāng)上述清針頻率超過(guò)上述第四閾值時(shí)，發(fā)出一警示；

判斷上述連續(xù)接觸次數(shù)是否超過(guò)一第五閾值；以及

當(dāng)上述連續(xù)接觸次數(shù)超過(guò)一第五閾值時(shí)，歸零上述連續(xù)接觸次數(shù)以及上述清針次數(shù)。