[發明專利]檢流計掃描器以及激光加工系統

有效

• 申請號: 201810949720.0
• 申請日: 2018-08-20
• 公開（公告）號: CN109420844B
• 公開（公告）日: 2020-08-11
• 發明（設計）人: 村上貴視;川合曉
• 申請（專利權）人: 發那科株式會社
• 主分類號: B23K26/21
• 分類號: B23K26/21;B23K26/70
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種檢流計掃描器，設置在機器人的臂的前端，向對象物照射激光來進行加工，該檢流計掃描器具備：

射出部，其用于射出激光；

保護玻璃，其用于從加工時產生的飛散物中保護所述射出部；以及

玻璃保持機構，其用于保持所述保護玻璃，

其中，所述保護玻璃至少在上下方向具備三重構造，

所述玻璃保持機構以使所述三重構造的所述保護玻璃中的最下層的所述保護玻璃能夠向下方脫落的方式進行保持，并且具有使最下層的所述保護玻璃通過所述機器人的動作向下方脫落的結構。

2.根據權利要求1所述的檢流計掃描器，其特征在于，

所述玻璃保持機構針對最下層的所述保護玻璃設置，并且具有以下結構：具有卡定機構以及銷能夠插通的通孔，該卡定機構能夠與最下層的所述保護玻璃的上層的所述保護玻璃直接地或者間接地進行卡定以及解除卡定，通過所述銷插入所述通孔來解除所述卡定機構，由此使最下層的所述保護玻璃向下方脫落。

3.根據權利要求1所述的檢流計掃描器，其特征在于，

所述玻璃保持機構具有以下結構：具有摩擦機構，該摩擦機構直接地或者間接地抵壓最下層的所述保護玻璃的外側面，利用摩擦力保持最下層的所述保護玻璃，通過對抗所述摩擦機構產生的所述摩擦力向下方拉拔最下層的所述保護玻璃，來使最下層的所述保護玻璃向下方脫落。

4.一種激光加工系統，其具備：

根據權利要求1～3中的任一項所述的檢流計掃描器；

移動單元，其使所述檢流計掃描器移動；

控制部，其控制所述檢流計掃描器以及所述移動單元的動作；以及

污垢探測部，其探測所述檢流計掃描器的最下層的所述保護玻璃的污垢，

其中，該激光加工系統還具備保護玻璃接受部，該保護玻璃接受部接受從所述檢流計掃描器向下方脫落的最下層的所述保護玻璃，

所述控制部控制所述移動單元的動作，使得在利用所述污垢探測部探測到最下層的所述保護玻璃的污垢的情況下，使所述檢流計掃描器移動到所述保護玻璃接受部，使所述玻璃保持機構所保持的最下層的所述保護玻璃向所述保護玻璃接受部脫落。