[發(fā)明專利]一種存儲器的編程方法和系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810942621.X | 申請日: | 2018-08-17 |
| 公開(公告)號: | CN110838325A | 公開(公告)日: | 2020-02-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 賀元魁;潘榮華 | 申請(專利權(quán))人: | 北京兆易創(chuàng)新科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G11C16/12 | 分類號: | G11C16/12 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 100083 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 存儲器 編程 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明公開了一種存儲器的編程方法和系統(tǒng)。存儲器的編程方法包括以下步驟:編程時序B1時,向存儲單元施加臺階編程電壓,所述臺階編程電壓具有臺階狀上升的電壓波形,所述電壓波形包括預(yù)設(shè)數(shù)量的電壓臺階,每個電壓臺階具有預(yù)設(shè)的臺階寬度,相鄰電壓臺階之間具有預(yù)設(shè)的臺階增幅D?pgm;校驗時序Y1時,向存儲單元施加校驗電壓,校驗成功則結(jié)束;若校驗失敗,校驗時序Y1后再次增加編程電壓的幅值以再次進(jìn)行校驗。存儲器的編程方法和系統(tǒng)具有提高存儲器編程準(zhǔn)確性的優(yōu)點。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實施例涉及存儲器技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種存儲器的編程方法和系統(tǒng)。
背景技術(shù)
存儲器時一種在編程時必須用到的元件,如Nand flash存儲器,Nand flash存儲器是一種非易失存儲器,具有改寫速度快,存儲容量大等優(yōu)點。而Nand flash存儲器編程操作時,會發(fā)生校驗失敗,每次校驗失敗后,就需要增加編程電壓的幅值。現(xiàn)有技術(shù)中,第一次編程寫入數(shù)據(jù)時,都是對存儲器的選擇字線直接施加一個較高的編程電壓,該較高的編程電壓會影響選擇字線上不需要編程的存儲單元,導(dǎo)致不需要編程的存儲單元的閾值升高,會引起讀取錯誤,編程的準(zhǔn)確性較低。
因此,如何提高存儲器的編程的準(zhǔn)確性,就成了存儲器技術(shù)領(lǐng)域的需求。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種存儲器的編程方法和系統(tǒng),以解決存儲器在編程時準(zhǔn)確性差的技術(shù)問題。
第一方面,本發(fā)明實施例提供了一種存儲器的編程方法,其包括以下步驟:編程時序B1時,向存儲單元施加臺階編程電壓,所述臺階編程電壓具有臺階狀上升的電壓波形,所述電壓波形包括預(yù)設(shè)數(shù)量的電壓臺階,每個電壓臺階具有預(yù)設(shè)的臺階寬度,相鄰電壓臺階之間具有預(yù)設(shè)的臺階增幅D-pgm;校驗時序Y1時,向存儲單元施加校驗電壓,校驗成功則結(jié)束;若校驗失敗,校驗時序Y1后再次增加編程電壓的幅值以再次進(jìn)行校驗。
優(yōu)選地,編程時序B1時,臺階編程電壓的第一個電壓臺階具有初步編程電壓,臺階編程電壓的最后一個電壓臺階具有目標(biāo)編程電壓,初步編程電壓值為目標(biāo)編程電壓值的20%~70%。
優(yōu)選地,預(yù)設(shè)的所述臺階增幅D-pgm的值為目標(biāo)編程電壓值的5%~30%。
優(yōu)選地,所述臺階編程電壓的增幅D-pgm維持不變或隨臺階上升減小。
優(yōu)選地,所述電壓臺階的預(yù)設(shè)數(shù)量為2至5個。
優(yōu)選地,所述目標(biāo)編程電壓的范圍是12V~16V。
優(yōu)選地,預(yù)設(shè)的所述臺階寬度為0.05~0.5s。
優(yōu)選地,編程時序B1時,對選擇字線施加臺階編程電壓,對未選擇字線施加通過電壓,對選擇位線施加0V,對未選擇位線施加正電壓。
優(yōu)選地,校驗時序Y1時,對選擇字線施加校驗電壓,將選擇位線預(yù)充到預(yù)充電電壓,對未選擇字線施加通過電壓;接著對選擇位線進(jìn)行第一時間的放電,然后將放電后的位線電壓與第一判定電壓進(jìn)行比較,若放電后位線的電壓高于所述第一判定電壓,則表示校驗成功可以結(jié)束操作,反之,表示校驗失敗需再次向存儲器中存入數(shù)據(jù)并進(jìn)行校驗,所述校驗電壓的范圍是0V~1V,所述預(yù)充電電壓的范圍是1V~1.2V。
第二方面,本發(fā)明還提供一種存儲器的編程系統(tǒng),存儲器的編程系統(tǒng)包括:編程模塊,用于編程時序B1時,向存儲單元施加臺階編程電壓,所述臺階編程電壓具有臺階狀上升的電壓波形,所述電壓波形包括預(yù)設(shè)數(shù)量的電壓臺階,每個電壓臺階具有預(yù)設(shè)的臺階寬度,相鄰電壓臺階之間具有預(yù)設(shè)的臺階增幅D-pgm;校驗?zāi)K,用于校驗時序Y1時,向存儲單元施加校驗電壓,校驗成功則結(jié)束;若校驗失敗,校驗時序Y1后,編程模塊再次增加編程電壓的幅值,校驗?zāi)K以再次進(jìn)行校驗。
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