[發(fā)明專利]一種8腔體立式PECVD-PVD一體化硅片鍍膜工藝在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810941720.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110835731A | 公開(公告)日: | 2020-02-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃振;黃海賓;周浪;彭德香;任棟梁;劉超 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中智(泰興)電力科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | C23C14/08 | 分類號(hào): | C23C14/08;C23C14/35;C23C14/56;C23C16/24;C23C16/46;C23C16/54;H01L21/67;H01L31/20 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 225400 江蘇省泰州*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 立式 pecvd pvd 一體化 硅片 鍍膜 工藝 | ||
本發(fā)明涉及一種8腔體立式PECVD?PVD一體化硅片鍍膜工藝,上料腔體、預(yù)加熱腔體、本征非晶硅薄膜沉積PECVD腔體、摻雜非晶硅薄膜沉積PECVD腔體、第一、二、三TCO薄膜沉積PVD腔體和下料腔體通過(guò)真空鎖依次連接且頭尾設(shè)置真空鎖,一移動(dòng)裝置由前至后穿接各腔體和真空鎖,上料腔體內(nèi)設(shè)立式載板,立式載板設(shè)置于移動(dòng)裝置上呈在本一體化設(shè)備中由前至后可移動(dòng)狀態(tài),第二TCO薄膜沉積PVD腔體內(nèi)設(shè)濺射靶,上述各個(gè)腔體外接超純氣路、加熱系、抽真空系統(tǒng)。能有效避免產(chǎn)品制備過(guò)程工序暴露于空氣,提升晶體硅異質(zhì)結(jié)太陽(yáng)電池的性能,降低其生產(chǎn)成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及高效晶體硅太陽(yáng)電池制造領(lǐng)域,特別是一種用于太陽(yáng)電池制造的8腔體立式PECVD-PVD一體化設(shè)備。
背景技術(shù)
目前,一類先進(jìn)高效的晶體硅太陽(yáng)電池是基于非晶硅/晶體硅異質(zhì)結(jié)結(jié)構(gòu)。其生產(chǎn)技術(shù)中非常關(guān)鍵的兩個(gè)步驟是非晶硅基薄膜的沉積(包括本征層和摻雜層,材質(zhì)為非晶硅、微晶硅、納米硅、摻氧非晶硅等)以及透明導(dǎo)電氧化物TCO層的沉積。比較常用的非晶硅基薄膜的沉積方法是低溫化學(xué)氣相沉積法,包括等離子體化學(xué)氣相沉積(PECVD)和熱絲化學(xué)氣相沉積(HWCVD)兩種;而TCO層的制備一般采用PVD法(磁控濺射法最常用)。在生產(chǎn)中,這兩種技術(shù)所對(duì)應(yīng)的設(shè)備通常是分開來(lái)的。即低溫CVD設(shè)備是一套獨(dú)立的系統(tǒng),通常包括上料及預(yù)加熱腔體、本征層沉積腔、摻雜沉積腔(p型或n型)以及下料腔體等幾部分;而PVD設(shè)備也要包括上料腔、預(yù)加熱腔、薄膜沉積腔以及下料腔體等。CVD與PVD系統(tǒng)之間還需要硅片的上料和下料裝置以及硅片在不同設(shè)備間傳遞的傳送裝置等。整體體系非常復(fù)雜。而且因?yàn)樵贑VD與PVD系統(tǒng)之間傳遞過(guò)程中產(chǎn)品必須暴露于空氣中,導(dǎo)致產(chǎn)品的表面受空氣中水蒸氣、氧氣、灰塵等影響造成性能下降;生產(chǎn)中運(yùn)營(yíng)費(fèi)用高,需要的工人數(shù)量也較多。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種能有效避免產(chǎn)品制備過(guò)程中本征和摻雜硅基薄膜以及TCO膜層工序暴露于空氣,提升晶體硅異質(zhì)結(jié)太陽(yáng)電池的性能,降低其生產(chǎn)成本的用于太陽(yáng)電池制造的8腔體立式PECVD-PVD一體化硅片鍍膜工藝。
本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:一種用于太陽(yáng)電池制造的8腔體立式PECVD-PVD一體化設(shè)備,其特征在于:包括上料腔體、預(yù)加熱腔體、本征非晶硅薄膜沉積PECVD腔體、摻雜非晶硅薄膜沉積PECVD腔體、第一TCO薄膜沉積PVD腔體、第二TCO薄膜沉積PVD腔體、第三TCO薄膜沉積PVD腔體和下料腔體,上述各腔體之間通過(guò)真空鎖依次連接,上料腔體進(jìn)料口和下料腔體的出料口同樣設(shè)置真空鎖,一移動(dòng)裝置由前至后穿接各腔體和真空鎖,本征非晶硅薄膜沉積PECVD腔體、摻雜非晶硅薄膜沉積PECVD腔體、第一TCO薄膜沉積PVD腔體、第二TCO薄膜沉積PVD腔體、第三TCO薄膜沉積PVD腔體均為立式結(jié)構(gòu),上料腔體內(nèi)設(shè)立式載板,立式載板設(shè)置于移動(dòng)裝置上呈在本一體化設(shè)備中由前至后可移動(dòng)狀態(tài),第二TCO薄膜沉積PVD腔體內(nèi)設(shè)濺射靶,上述各個(gè)腔體外接超純氣路系統(tǒng)和/或加熱系統(tǒng)和/或冷卻水系統(tǒng)和/或抽真空系統(tǒng)。
所述移動(dòng)裝置為推料進(jìn)給軌道或移動(dòng)軌道或移動(dòng)掛架。
所述下料腔體外接氮?dú)庀到y(tǒng)和抽真空系統(tǒng)。
一種8腔體立式PECVD-PVD一體化硅片鍍膜工藝,采用立式結(jié)構(gòu)的本征非晶硅薄膜沉積PECVD腔體、摻雜非晶硅薄膜沉積PECVD腔體,以及立式結(jié)構(gòu)的三TCO薄膜沉積PVD腔體,將這兩種薄膜沉積裝備集成,各腔體之間采用真空鎖或真空鎖結(jié)構(gòu)連接,產(chǎn)品在設(shè)備各腔體之間通過(guò)移動(dòng)裝置傳遞時(shí)不暴露大氣。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中智(泰興)電力科技有限公司,未經(jīng)中智(泰興)電力科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810941720.6/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
C23C 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C14-00 通過(guò)覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進(jìn)行鍍覆
C23C14-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
C23C14-58 .后處理
- 全自動(dòng)大型平板式PECVD晶硅光伏減反射覆膜制備設(shè)備
- 全自動(dòng)大型平板式PECVD晶硅光伏減反射覆膜制備設(shè)備
- 一種全自動(dòng)大型平板PECVD氮化硅覆膜制備系統(tǒng)
- PECVD設(shè)備用氣源柜及PECVD設(shè)備
- 一種PECVD設(shè)備中央計(jì)算機(jī)集成控制系統(tǒng)
- PECVD沉積槽
- 去除PECVD裝置的電荷的系統(tǒng)及其控制方法
- 一種多晶硅PECVD三層鍍膜工藝制備方法
- 一種復(fù)合薄膜生長(zhǎng)裝置結(jié)構(gòu)
- 一種減少管式PECVD插片劃傷的方法及采用該方法的鍍膜工藝





