[發(fā)明專利]多用途微振動試驗(yàn)集合試驗(yàn)室有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810938907.0 | 申請日: | 2018-08-17 |
| 公開(公告)號: | CN109100104B | 公開(公告)日: | 2020-08-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 晏廷飛;方貴前;武耀;張俊剛;樊世超;王鶴;謝一村;王磊 | 申請(專利權(quán))人: | 北京衛(wèi)星環(huán)境工程研究所 |
| 主分類號: | G01M7/02 | 分類號: | G01M7/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100094 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 多用途 振動 試驗(yàn) 集合 試驗(yàn)室 | ||
本發(fā)明公開了一種多用途的微振動集合試驗(yàn)室,包括容納空間墻體部分和地面部分,地面部分上分區(qū)域設(shè)置擾源測試系統(tǒng)、敏感單機(jī)微振動環(huán)境性能驗(yàn)證系統(tǒng)、以及整星和單機(jī)微振動響應(yīng)測試系統(tǒng);其中,容納空間墻體部分進(jìn)行隔聲和吸聲處理,地面部分分別在兩側(cè)構(gòu)建隔振基礎(chǔ)一和隔振基礎(chǔ)二,以供設(shè)置上述各個(gè)系統(tǒng)。本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)在同一背景噪聲下進(jìn)行衛(wèi)星研制周期內(nèi)的包含單機(jī)擾源微振動分析、傳遞路徑分析、微振動響應(yīng)分析、微振動擾源模擬等全包絡(luò)的微振動測試分析,并且,具有極低的微振動測試背景噪聲,其中,噪聲環(huán)境優(yōu)于35dB(A),振動環(huán)境優(yōu)于10?5g。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于航天器干擾源微振動試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種多用途微振動試驗(yàn)集合試驗(yàn)室。
背景技術(shù)
航天器在軌微振動是一種隨運(yùn)動部件的運(yùn)動而伴生的振動。不同于一般發(fā)生在平衡位置附近的往復(fù)振動,它是發(fā)生在運(yùn)動位置上的隨機(jī)往復(fù)運(yùn)動,具有振幅小(微米量級)、影響頻帶寬,非線性和強(qiáng)耦合等特點(diǎn),且隨運(yùn)動部件的工作特性改變而變化。作為微振動源的運(yùn)動部件如控制力矩陀螺(CMG)、太陽翼驅(qū)動機(jī)構(gòu)(SADA)等工作而引起的這種振動,雖不造成結(jié)構(gòu)破壞但顯著影響高精度有效載荷的性能。在軌微振動是影響空間望遠(yuǎn)鏡、高分辨率遙感衛(wèi)星、激光通信衛(wèi)星等高精度航天器成像質(zhì)量和指向精度等關(guān)鍵性能的重要因素,在衛(wèi)星的研制階段同時(shí)對微振動問題進(jìn)行設(shè)計(jì)分析十分必要。
對微振動問題的研究目前大多從源頭、路徑、接受者這三部分入手,對應(yīng)著微振動的振動源研究、傳遞路徑研究、敏感單機(jī)抗微振動研究。每一部分的微振動研究都對應(yīng)著不同類型的微振動試驗(yàn),主要包括面向擾振源的微振動擾振源識別試驗(yàn)、面向傳遞路徑的微振動傳遞路徑分析試驗(yàn)、面向接受者的在軌微振動環(huán)境模擬試驗(yàn),產(chǎn)品抗微振動性能驗(yàn)證試驗(yàn)等等,進(jìn)行每一項(xiàng)微振動試驗(yàn)需要有專門的試驗(yàn)環(huán)境,即超低的振動環(huán)境以及超低的噪聲環(huán)境,甚至超低的氣體流動環(huán)境。因?yàn)槲⒄駝拥牧考壓苄。車h(huán)境任何微小的振動、噪聲、氣流都可能會對測試結(jié)果產(chǎn)生很大的影響。
由于微振動試驗(yàn)對周圍環(huán)境的特殊性需求,微振動試驗(yàn)最好在進(jìn)行特殊設(shè)計(jì)過的微振室內(nèi)進(jìn)行。而目前的微振室功能比較單一,各微振室均只進(jìn)行研制階段的部分微振動試驗(yàn),并且各微振室的背景環(huán)境很難做到相同,而微振動量級本身很小,背景噪聲的影響會被放大,進(jìn)而對分析造成困難。對此,根據(jù)微振動問題的分析流程,發(fā)明了一種具有多用途的微振動試驗(yàn)集合試驗(yàn)室,伴隨產(chǎn)品研制階段在同一背景環(huán)境下進(jìn)行微振動試驗(yàn)會使產(chǎn)品的微振動研究更便捷、更準(zhǔn)確,同一背景噪聲會更有利于發(fā)現(xiàn)問題解決問題,目前還沒有系統(tǒng)化進(jìn)行各研制階段微振動試驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)室。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明旨在提供一個(gè)多用途的微振動試驗(yàn)集合試驗(yàn)室,在滿足微振動背景噪聲需求的同時(shí),在該試驗(yàn)室內(nèi),可伴隨產(chǎn)品的研究階段,面向擾振源、傳遞路徑、接受者集中開展不同階段的微振動試驗(yàn),如單機(jī)干擾源微振動識別、微振動干擾源模擬、微振動傳遞路徑分析、高精度微振動信號測試等,使得產(chǎn)品研制過程的微振動試驗(yàn)更便捷,并且各階段的微振動試驗(yàn)均在同一背景噪聲下,更有利于發(fā)現(xiàn)問題解決問題。
本發(fā)明采用了如下的技術(shù)方案:
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