[發(fā)明專利]調(diào)相機(jī)失磁保護(hù)勵磁低電壓判斷方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810933020.2
• 申請日: 2018-08-16
• 公開（公告）號: CN109038494B
• 公開（公告）日: 2019-10-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄭玉平;鄭作偉;季學(xué)軍;揭萍;郝后堂;李延新;潘書燕;李志堅(jiān);譚凌
• 申請（專利權(quán)）人: 國電南瑞科技股份有限公司
• 主分類號: H02H7/06
• 分類號: H02H7/06
• 代理公司: 南京縱橫知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32224
• 代理人: 董建林

本發(fā)明公開了一種調(diào)相機(jī)失磁保護(hù)勵磁低電壓判斷方法，將方均根值判據(jù)和脈波方均根值判據(jù)作為主要判據(jù)，可準(zhǔn)確區(qū)分失磁故障和調(diào)相機(jī)深度進(jìn)相運(yùn)行，能夠識別完全失磁和部分失磁等類型的失磁故障；同時(shí)平均值高值判據(jù)作為輔助判據(jù)對保護(hù)起把關(guān)作用，其定值不需要按照躲過調(diào)相機(jī)正常運(yùn)行時(shí)的最小勵磁電壓整定，可以整定為較高的值,平均值低值判據(jù)可以按照躲過調(diào)相機(jī)正常運(yùn)行時(shí)的最小勵磁電壓整定，作為勵磁低電壓判據(jù)的輔助判據(jù)，用于防止逆變狀態(tài)或者異常工況導(dǎo)致勵磁低電壓判據(jù)拒動。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種調(diào)相機(jī)失磁保護(hù)勵磁低電壓判斷方法，屬于電力系統(tǒng)繼電保護(hù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

失磁故障是同步發(fā)電機(jī)和調(diào)相機(jī)等帶勵磁回路的同步電機(jī)可能發(fā)生的一種故障類型。當(dāng)發(fā)生失磁故障以后，同步電機(jī)機(jī)端電氣量發(fā)生一系列的變化，同步電機(jī)將逐步過渡到異步運(yùn)行。一方面同步電機(jī)將發(fā)出更少的無功或者從系統(tǒng)吸收更多的無功，可能導(dǎo)致系統(tǒng)無功不足；另一方面同步電機(jī)過渡到異步運(yùn)行之后將在轉(zhuǎn)子繞組產(chǎn)生差頻電流，引起轉(zhuǎn)子繞組發(fā)熱。

為了減少失磁故障對同步電機(jī)及所在系統(tǒng)的破壞，機(jī)組保護(hù)都會配置失磁保護(hù)。對于發(fā)電機(jī)，失磁保護(hù)有阻抗圓、勵磁低電壓，機(jī)端低電壓和反向無功等成熟的判據(jù)，失磁保護(hù)比較完善。對于調(diào)相機(jī)失磁保護(hù)，由于調(diào)相機(jī)與系統(tǒng)沒有有功功率交換，發(fā)電機(jī)失磁保護(hù)作用最顯著的阻抗圓判據(jù)將不能使用，因此勵磁低電壓，機(jī)端低電壓等判據(jù)將成為調(diào)相機(jī)失磁保護(hù)的主要判據(jù)。

作為調(diào)相機(jī)失磁保護(hù)主要判據(jù)的勵磁低電壓判據(jù)，其動作量為勵磁電壓，目前勵磁低電壓判據(jù)使用的是其平均值，當(dāng)調(diào)相機(jī)工作在深度進(jìn)相運(yùn)行時(shí)，勵磁電壓平均值非常小，如果勵磁低電壓判據(jù)按照躲過深度進(jìn)相運(yùn)行時(shí)的最小勵磁電壓整定，失磁保護(hù)勵磁低電壓判據(jù)將由于定值太小而基本不起作用，而如果整定定值較高，將有可能在調(diào)相機(jī)進(jìn)相到一定程度時(shí)判據(jù)誤動作。另外當(dāng)發(fā)生部分失磁時(shí)，由于失磁不是非常嚴(yán)重，勵磁電壓很可能不能下降到整定值以下，現(xiàn)有失磁保護(hù)勵磁低電壓判據(jù)也有可能拒動。綜上所述，現(xiàn)有的勵磁低電壓判據(jù)無法適用于調(diào)相機(jī)失磁保護(hù)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供了一種調(diào)相機(jī)失磁保護(hù)勵磁低電壓判斷方法，解決了現(xiàn)有勵磁低電壓判據(jù)無法適用于調(diào)相機(jī)失磁保護(hù)的問題。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是：

調(diào)相機(jī)失磁保護(hù)勵磁低電壓判斷方法，包括以下步驟，

1)對勵磁電壓進(jìn)行等間隔采樣，在每周波時(shí)間里面采樣N點(diǎn)，N為L的整數(shù)倍；

2)計(jì)算失磁保護(hù)動作采樣點(diǎn)數(shù)N_set；

3)對每個(gè)采樣點(diǎn)n做如下處理；

計(jì)算采樣點(diǎn)n往前N個(gè)采樣點(diǎn)勵磁電壓的算術(shù)平均值E_mean(n)；

計(jì)算采樣點(diǎn)n往前N個(gè)采樣點(diǎn)勵磁電壓的方均根值E_rms(n)；

計(jì)算采樣點(diǎn)n往前N/L個(gè)采樣點(diǎn)勵磁電壓的方均根值E_pul.rms(n)；

計(jì)算E_pul.rms(n-k*N/L)，k＝0,…,L-1共L個(gè)數(shù)據(jù)的最大值E_pul.rmsmax(n)和最小值E_pul.rmsmin(n)；

計(jì)算E_pul.rmsmax(n)與E_pul.rmsmin(n)的差值與E_pul.rmsmax(n)的比值E_pul.rms.d(n)；

判斷E_mean(n)是否小于整定的平均值低高值定值E_max.meanset，如果是，則平均值高值判據(jù)動作標(biāo)志b_max.mean(n)＝1，否則為0；