[發明專利]PCIe卡測試裝置及其方法在審
| 申請號: | 201810932158.0 | 申請日: | 2018-08-16 |
| 公開(公告)號: | CN110837445A | 公開(公告)日: | 2020-02-25 |
| 發明(設計)人: | 付忠誠 | 申請(專利權)人: | 佛山市順德區順達電腦廠有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/22 | 分類號: | G06F11/22 |
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| 地址: | 528308 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | pcie 測試 裝置 及其 方法 | ||
本發明提供一種PCIe卡測試裝置及其方法,其用于測試一待測PCIe卡,該PCIe卡測試裝置包括:一PCIe接口模塊,其用于給該待測PCIe卡提供對應的測試連接界面;一信號控制模塊,其電連接該PCIe接口模塊,該信號控制模塊用于接收該PCIe接口模塊的一通斷信號;一軟體模塊,其電連接該信號控制模塊,該軟體模塊是一測試系統運行的載體并用于提供一測試程式對插入該PCIe接口模塊的該待測PCIe卡進行功能測試,該軟體模塊包括有一第二存儲器模塊;一處理器模塊,其分別電連接該信號控制模塊和該軟體模塊,該處理器模塊還分別電連接一顯示模塊、一聯網模塊和一第一存儲器模塊,該處理器模塊用于將該測試結果進行相應的處理;以及一供電模塊。
技術領域
本發明是有關于一種PCIe卡測試裝置及其方法,特別是一種能夠提高測試效率、降低測試成本并具有熱插拔功能的PCIe卡測試裝置及其方法。
背景技術
目前針對PCIe卡的測試都是基于對應的主板進行功能測試,每次測試完成后都需要進行開關機動作才能進行下一片的功能測試,測試時間長,并且不同的PCIe卡需要使用對應的測試主板和測試程式才能測試,測試站點多,測試標準不統一,造成整體的測試效率較低,測試成本較高,給測試和維護帶來了極大的不便,難以適應目前產品量小和產品種類多的狀況。
有鑒于此,本發明提供一種能夠提高測試效率、降低測試成本并具有熱插拔功能的PCIe卡測試裝置及其方法。
發明內容
本發明要解決的技術問題是在于提供一種能夠提高測試效率、降低測試成本并具有熱插拔功能的PCIe卡測試裝置及其方法。
為解決上述技術問題,一種PCIe卡測試裝置,其用于測試一待測PCIe卡,該PCIe卡測試裝置包括:
一PCIe接口模塊,其用于給該待測PCIe卡提供對應的測試連接界面;
一信號控制模塊,其電連接該PCIe接口模塊,該信號控制模塊用于接收該PCIe接口模塊的一通斷信號,當該待測PCIe卡正確插入該PCIe接口模塊時,該信號控制模塊接收到該通斷信號為接通,反之則為斷開;
一軟體模塊,其電連接該信號控制模塊,該軟體模塊是一測試系統運行的載體并用于提供一測試程式對插入該PCIe接口模塊的該待測PCIe卡進行功能測試并產生一測試結果,在接收到該信號控制模塊的該通斷信號為接通時,該軟體模塊的該測試系統能夠根據插入該待測PCIe卡類型的自動加載相對應的該測試程式進行功能測試,反之則不加載該測試程式對該待測PCIe卡進行功能測試,該軟體模塊包括有一第二存儲器模塊,該第二存儲器模塊用于存儲若干個測試程式;
一處理器模塊,其分別電連接該信號控制模塊和該軟體模塊,該處理器模塊還分別電連接一顯示模塊、一聯網模塊和一第一存儲器模塊,該處理器模塊通過該顯示模塊顯示該測試結果并將該測試結果存儲于該第一存儲器模塊,再通過該聯網模塊上傳該測試結果,在該測試程式測試完成和該處理器模塊處理完成后,該軟體模塊自動移除該測試程式會反饋一反饋信息給該信號控制模塊和該供電模塊,該信號控制模塊接收信號為斷開,同時該PCIe接口模塊的電被斷開,可以拔開測試完成的該待測PCIe卡,在拔開之后并且在插入下一張該待測PCIe卡之前該測試系統被重置;以及
一供電模塊,其電連接該處理器模塊,并同時為其他各模塊提供電力支持。
為解決上述技術問題,一種PCIe卡測試方法,其用于該PCIe卡測試裝置,包含以下步驟:
步驟S10:接通該供電模塊,再將該待測PCIe卡正確插入該PCIe接口模塊;
步驟S20:該信號控制模塊接收到該通斷信號為接通,則該軟體模塊的該測試系統能夠根據插入該待測PCIe卡類型的自動加載相對應的該測試程式進行功能測試并產生該測試結果;
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