[發(fā)明專利]計(jì)算復(fù)雜地表區(qū)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810930300.8 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110837120A | 公開(公告)日: | 2020-02-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 余青露;居興國(guó);李進(jìn);鄒少峰;肖盈;高艷霞;祝媛媛;劉思思 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)石油化工股份有限公司;中國(guó)石油化工股份有限公司石油物探技術(shù)研究院 |
| 主分類號(hào): | G01V1/36 | 分類號(hào): | G01V1/36 |
| 代理公司: | 北京聿宏知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11372 | 代理人: | 吳大建;張杰 |
| 地址: | 100728 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 計(jì)算 復(fù)雜 地表 浮動(dòng) 基準(zhǔn)面 校正 方法 | ||
1.一種用于計(jì)算復(fù)雜地表區(qū)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量的方法,所述浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量為三維地震數(shù)據(jù)中每個(gè)CMP點(diǎn)相對(duì)固定基準(zhǔn)面的靜校正量,所述方法包括:
通過平均靜校正量法計(jì)算出所述每個(gè)CMP點(diǎn)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量;
利用非局部均值濾波法在空間域平滑所述每個(gè)CMP點(diǎn)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,通過平均靜校正量法計(jì)算出所述每個(gè)CMP點(diǎn)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量包括:
對(duì)每個(gè)CMP道集的各道的炮點(diǎn)和檢波點(diǎn)相對(duì)固定基準(zhǔn)面的靜校正量進(jìn)行求和平均,得到每個(gè)CMP點(diǎn)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其中,所述炮點(diǎn)和檢波點(diǎn)相對(duì)固定基準(zhǔn)面的靜校正量Tm的計(jì)算公式為:
其中,Eg(m)是第m個(gè)炮點(diǎn)或檢波點(diǎn)的高程;hnm為第m個(gè)炮點(diǎn)或者檢波點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第n層低速帶厚度,Vn是低速帶各層速度;N為低速帶層數(shù);vc是靜校正替換速度;Ed是固定基準(zhǔn)面的高程。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,在計(jì)算所述每個(gè)CMP點(diǎn)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量時(shí)加入所述每個(gè)CMP點(diǎn)的權(quán)重值。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,利用非局部均值濾波法在空間域平滑所述每個(gè)CMP點(diǎn)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量包括:
選取控制濾波強(qiáng)度的參數(shù),使得經(jīng)平滑的所述每個(gè)CMP點(diǎn)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量與通過平均靜校正量法得到的所述每個(gè)CMP點(diǎn)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量相比,二者形態(tài)相似。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,利用非局部均值濾波法在空間域平滑所述每個(gè)CMP點(diǎn)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量包括:
假設(shè)p點(diǎn)是濾波器要處理的點(diǎn),當(dāng)濾波器遍歷到p點(diǎn)時(shí),需要對(duì)p點(diǎn)鄰域內(nèi)的像素點(diǎn)進(jìn)行遍歷,假設(shè)q點(diǎn)是p點(diǎn)鄰域內(nèi)的一個(gè)像素,算法遍歷到q點(diǎn),則需要計(jì)算p點(diǎn)和q點(diǎn)之間的權(quán)重值,其包括:
得到兩個(gè)分別以p和q為中心、大小為(2f+1)(2f+1)的矩形相似窗口B(p,f)和B(q,f),f為相似窗口的半徑;以及
計(jì)算出B(p,f)和B(q,f)之間的高斯加權(quán)歐式距離。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其中,利用非局部均值濾波法在空間域平滑所述每個(gè)CMP點(diǎn)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量還包括:
加入高斯核計(jì)算得到p點(diǎn)和q點(diǎn)之間的權(quán)重值。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其中,利用非局部均值濾波法在空間域平滑所述每個(gè)CMP點(diǎn)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量還包括:
根據(jù)得到的權(quán)重值以及q點(diǎn)處的值計(jì)算出p點(diǎn)的平滑結(jié)果。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其中,利用非局部均值濾波法在空間域平滑所述每個(gè)CMP點(diǎn)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量包括:
選取的搜索半徑為9,相似半徑為5,控制濾波強(qiáng)度的參數(shù)為80。
10.一種存儲(chǔ)介質(zhì),其中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)可執(zhí)行的程序,所述程序在被執(zhí)行時(shí)適于實(shí)施用于計(jì)算復(fù)雜地表區(qū)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量的方法,所述浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量為三維地震數(shù)據(jù)中每個(gè)CMP點(diǎn)相對(duì)固定基準(zhǔn)面的靜校正量,所述方法包括:
通過平均靜校正量法計(jì)算出所述每個(gè)CMP點(diǎn)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量;
利用非局部均值濾波法在空間域平滑所述每個(gè)CMP點(diǎn)的浮動(dòng)基準(zhǔn)面靜校正量。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)石油化工股份有限公司;中國(guó)石油化工股份有限公司石油物探技術(shù)研究院,未經(jīng)中國(guó)石油化工股份有限公司;中國(guó)石油化工股份有限公司石油物探技術(shù)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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