[發明專利]電位器總裝測試系統及其測試方法

有效

• 申請號: 201810927429.3
• 申請日: 2018-08-15
• 公開（公告）號: CN108645455B
• 公開（公告）日: 2023-09-15
• 發明（設計）人: 范羅榮
• 申請（專利權）人: 無錫市航鵠科技有限公司
• 主分類號: G01D21/02
• 分類號: G01D21/02
• 代理公司: 無錫松禾知識產權代理事務所(普通合伙) 32316
• 代理人: 段小麗

本發明公開了電位器總裝測試系統，包括測試平臺、測試工裝、被測直線電位器、光柵尺和固定板，所述測試工裝設置在所述測試平臺的滑臺上，所述被測直線電位器安裝設置在所述測試工裝上，所述光柵尺設置在測試平臺的長度方向上，所述固定板設置在測試平臺的固定基座上，且所述固定板上沿測試工裝的滑動方向設置有推桿，所述推桿朝向被測電位器的一端與被測直線電位器的活動端子連接設置；所述被測直線電位器的活動端子在測試平臺的滑臺的往復滑動位移作用下與被測直線電位器的固定端子相對滑動位移，可方便快速和準確的對直線電位器進行各參數的測試。

技術領域

本發明屬于電位器測試領域，特別涉及電位器總裝測試系統及其測試方法。

背景技術

電位器通常由電阻體和可移動的電刷組成，當電刷沿電阻體移動時，在輸出端即獲得與位移量成一定關系的電阻值或電壓值。其包含直線式電位器等，在生產或者在精密場合使用該系列的電位器時，需測量其線性度、重復精度誤差等參數，所測參數作為電位器驗收合格與否的判定依據。

發明內容

發明目的：為了克服現有技術中存在的不足，本發明提供一種電位器總裝測試系統及其測試方法，可方便快速和準確的對直線電位器進行各參數的測試。

技術方案：為實現上述目的，本發明的技術方案如下：

電位器總裝測試系統，包括測試平臺、測試工裝、被測直線電位器、光柵尺和固定板，所述測試平臺為往復直線位移模組，所述測試工裝設置在所述測試平臺的滑臺上，所述被測直線電位器安裝設置在所述測試工裝上，且所述被測直線電位器的長度方向沿測試平臺的直線位移方向設置，所述光柵尺設置在測試平臺的長度方向上，所述固定板設置在測試平臺的固定基座上，且所述固定板上沿測試工裝的滑動方向設置有推桿，所述推桿朝向被測電位器的一端與被測直線電位器的活動端子連接設置；所述被測直線電位器的活動端子在測試平臺的滑臺的往復滑動位移作用下與被測直線電位器的固定端子相對滑動位移。

進一步的，所述被測直線電位器與固定板之間設置有支撐座，所述支撐座設置在測試平臺的滑臺上，所述支撐座支撐設置被測直線電位器的一端，所述測試工裝為絲桿機構，所述測試工裝的滑塊支撐所述被測直線電位器的另一端設置，所述被測直線電位器通過支撐座和滑塊保持水平設置。

進一步的，所述支撐座包括固定座和設置所述固定座上方的鎖緊塊，所述被測直線電位器的一端被夾緊設置在所述固定座與鎖緊塊之間；所述鎖緊塊上貫通開設有推桿通孔，所述推桿穿過推桿通孔與活動端子連接，所述推桿通孔內壁與推桿間距設置。

進一步的，所述鎖緊塊朝向固定塊的一側貫通開設有通槽，所述通槽為矩形槽，所述通槽的頂部與推桿通孔連通設置，且所述通槽的底部朝向固定座開口設置；所述通槽的寬度大于活動端子的寬度，且所述通槽在推桿通孔軸向方向上與滑塊正對設置。

進一步的，所述固定座的頂部凹設有安裝凹槽，所述安裝凹槽在被測直線電位的長度方向上貫通設置。

進一步的，還包括限位裝置，所述限位裝置包括位距調節機構、導向桿、限位塊、支撐組件和支座，所述位距調節機構設置在測試平臺的滑臺上方，且所述位距調節機構與測試工裝相對固定設置，所述位距調節桿機構為絲桿機構，所述絲桿機構的滑動塊為位距滑塊，所述位距滑塊的滑動方向與測試平臺的滑臺的滑動方向相同，所述導向桿的一端固定設置在位距滑塊上，且所述導向桿的另一端為自由端，且所述導向桿的自由端沿滑臺的位移方向活動穿設在遠離所述位距調節機構驅動端的端向側壁上，所述導向桿伸出至位距調節機構外部；所述支座相鄰測試平臺設置，所述支座上設置有支撐組件，所述支撐組件向位距調節機構的一側伸出，所述支撐組件的伸出端上設置有限位塊，所述限位塊為活動套設在導向桿上的環形件，所述限位塊位于位距滑塊與端向側壁之間；所述位距滑塊與端向側壁之間的間距形成測試平臺往復位移的測試行程，且通過所述限位塊在測試行程內限位滑臺往復位移的兩行程極點。

進一步的，所述位距滑塊與端向側壁相對的兩側壁上均設置有行程開關或者接觸傳感器。