[發明專利]基于B-distance的時變可靠性序列優化方法

在審

• 申請號: 201810926815.0
• 申請日: 2018-08-15
• 公開（公告）號: CN109101731A
• 公開（公告）日: 2018-12-28
• 發明（設計）人: 汪忠來;程曉文;王志華;王磊;趙寧
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 成都虹盛匯泉專利代理有限公司 51268
• 代理人: 王偉

1.基于B-distance的時變可靠性序列優化方法，其特征在于，包括：

S1、建立產品預測模型與試驗數據之間的隨機誤差函數模型，并給定設計變量初始點、閾值以及設計參數；

S2、從設計參數中選取校驗參數；

S3、分解性能退化過程，采用B-distance指標法對步驟S2的校驗參數進行驗證并更新；

S4、根據矩形局部設計子域估計模型，得到設計變量初始點附近的矩形局部設計子域；

S5、在局部設計子域內結合PHI2+法進行相關時變可靠性分析，得到設計變量優化結果；

S6、若設計變量優化結果與設計變量初始點的差值的絕對值大于設置的閾值，則將步驟S5得到的設計變量優化結果作為新的設計變量初始點，返回步驟S2；否則根據步驟S5得到的設計變量結果，計算得到時變可靠度。

2.根據權利要求1所述的基于B-distance的時變可靠性序列優化方法，其特征在于，步驟S2采用ANOVA法對設計參數進行時變靈敏度分析，具體為：

對時變靈敏度結果按從大到小的順序排列，選取矩形局部設計子域內靈敏度數量級最高的參數作為校驗參數。

3.根據權利要求1所述的基于B-distance的時變可靠性序列優化方法，其特征在于，步驟S3包括以下分步驟：

S31、將性能退化過程的時間區間分解為若干個時間子區間；并構建各時間子區間上的模型極值矩陣；

S32、根據試驗數據，采用B-distance指標法計算各時間子區間上的B-distance指標值；

S33、根據各時間子區間上的B-distance指標值，得到校驗參數的估計值。

4.根據權利要求3所述的基于B-distance的時變可靠性序列優化方法，其特征在于，步驟S4具體為：采用隨機誤差函數模型和fmincon函數仿真出設計變量初始點附近的樣本數據，對樣本數據的每一維度數據按照從大到小進行排序，估計出各個維度數據在置信水平下的估計區間；根據各個維度對應的估計區間結合矩形局部設計子域估計模型，得到設計變量初始點附近的矩形局部設計子域。

5.根據權利要求3所述的基于B-distance的時變可靠性序列優化方法，其特征在于，步驟S5具體為：

S51、運用PHI2+法進行時變可靠性分析，得到優化模型；

S52、所述優化模型的約束條件至少包括：性能退化為主的時變可靠性約束；

S53、性能退化為主的時變可靠性約束為單邊穿越約束；

S54、采用穿越率法求解步驟S51中的優化模型，得到設計變量優化結果。

6.根據權利要求1至5的任意一項所述的基于B-distance的時變可靠性序列優化方法，其特征在于，隨機誤差函數模型為高斯隨機誤差函數模型。