[發明專利]錐束計算機斷層成像圖像校正方法和系統有效
| 申請號: | 201810923092.9 | 申請日: | 2018-08-14 |
| 公開(公告)號: | CN108992083B | 公開(公告)日: | 2019-06-28 |
| 發明(設計)人: | 齊宏亮;陳宇思;徐月晉;胡潔;李翰威;吳書裕;駱毅斌 | 申請(專利權)人: | 廣州華端科技有限公司 |
| 主分類號: | A61B6/03 | 分類號: | A61B6/03 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 馮右明 |
| 地址: | 510700 廣東省廣州*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 投影圖像 斷層成像圖像 錐束計算機 內層模 嵌套模 校正 校正投影圖像 背景投影 圖像投影數據 氣體介質 曲線獲取 圓周掃描 中內層 圖像 申請 | ||
1.一種錐束計算機斷層成像圖像校正方法,其特征在于,包括以下步驟:
分別對嵌套模體、內層模體和氣體介質進行圓周掃描,并獲取嵌套模體投影圖像、內層模體投影圖像和背景投影圖像,其中,所述嵌套模體為外層模體和所述內層模體嵌套的模體套件,所述嵌套模體放置在圓周掃描的旋轉中心軸上的成像可視區域中,所述內層模體放置在所述成像可視區域中;
根據所述嵌套模體投影圖像、所述內層模體投影圖像和所述背景投影圖像投影數據獲取多能曲線,根據所述多能曲線獲取單能曲線,其中,所述多能曲線用于表示多能線積分值與長度值的關系,所述單能曲線用于表示單能線積分值與長度值的關系;
根據所述多能曲線和所述單能曲線,校正待校正投影圖像并生成目標錐束計算機斷層成像圖像。
2.根據權利要求1所述的錐束計算機斷層成像圖像校正方法,其特征在于,所述分別對嵌套模體、內層模體和氣體介質進行圓周掃描,并獲取嵌套模體投影圖像、內層模體投影圖像和背景投影圖像的步驟,包括以下步驟:
控制探測器在各個預設位置分別對所述嵌套模體進行圓周掃描,并得到所述嵌套模體在各所述預設位置的投影圖像,對所述嵌套模體在各所述預設位置的投影圖像進行拼接并得到所述嵌套模體投影圖像,其中,所述預設位置用于使得所述探測器在各所述預設位置的探測區域保持連續;
控制所述探測器在各所述預設位置分別對所述內層模體進行圓周掃描,并得到所述內層模體在各所述預設位置的投影圖像,對所述內層模體在各所述預設位置的投影圖像進行拼接并得到所述內層模體投影圖像;
控制所述探測器在各所述預設位置分別對所述氣體介質進行圓周掃描,并得到所述氣體介質在各所述預設位置的投影圖像,對所述氣體介質在各所述預設位置的投影圖像進行拼接并得到所述背景投影圖像。
3.根據權利要求2所述的錐束計算機斷層成像圖像校正方法,其特征在于,還包括以下步驟:
根據獲取所述成像可視區域的直徑,其中,L=Lsensor+Ladd,D為所述成像可視區域的直徑,SAD為射線源與所述旋轉中心軸的距離,SDD為所述射線源與所述探測器的垂直距離,L為所述探測器的可探測區域與延伸探測區域的總長度,Lsensor為所述探測器的可探測區域的長度,Ladd為所述探測器的延伸探測區域的長度。
4.根據權利要求3所述錐束計算機斷層成像圖像校正方法,其特征在于,所述預設位置的個數至少為[Ladd/Lsensor]+1,其中,[]為向上取整符號。
5.根據權利要求4所述錐束計算機斷層成像圖像校正方法,其特征在于,所述預設位置的個數為N個,相鄰的預設位置之間間隔的距離為Lstep=Ladd/(N-1),其中,N≥[Ladd/Lsensor]+1,[]為向上取整符號,Lstep為所述相鄰的預設位置之間間隔的距離,N為正整數。
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