[發明專利]結構光投影模組的主動調焦方法在審
| 申請號: | 201810922256.6 | 申請日: | 2018-08-14 |
| 公開(公告)號: | CN109031683A | 公開(公告)日: | 2018-12-18 |
| 發明(設計)人: | 葉永青;岑權;羅菁冬;李鑫 | 申請(專利權)人: | 深圳睿晟自動化技術有限公司 |
| 主分類號: | G02B27/42 | 分類號: | G02B27/42 |
| 代理公司: | 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414 | 代理人: | 張全文 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 結構光投影 模組 投影光學器件 標準參數 光源 調焦 檢測系統 投影圖案 位置校正 校正 相對位置調整 圖案 結構光圖案 調節系統 圖案效果 圖像投射 用戶體驗 良率 投影 檢測 | ||
1.一種結構光投影模組的主動調焦方法,其特征在于:包括以下步驟:
預備包括光源和可用于形成特定的結構光圖案的投影光學器件的結構光投影模組、投影圖案檢測系統以及結構光投影模組調節系統,所述結構光投影模組具有關于所述結構光圖案的深度與方向的標準參數;
通過所述投影圖案檢測系統檢測所述結構光圖案的參數與標準參數是否一致,若均是,則不校正;
若否,所述投影圖案檢測系統將所述參數與所述標準參數的偏差值反饋至所述結構光投影模組調節系統,所述結構光投影模組調節系統根據所述偏差值將所述光源與所述投影光學器件間的相對位置調整至所述參數與所述標準參數一致。
2.根據權利要求1所述的結構光投影模組的主動調焦方法,其特征在于:所述結構光投影模組調節系統將所述光源與所述投影光學器件間的相對位置調整至所述參數與所述標準參數一致的過程中,所述投影圖案檢測系統實時監測所述參數與所述標準參數。
3.根據權利要求2所述的結構光投影模組的主動調焦方法,其特征在于:所述投影圖案監測系統包括用于對所述結構光圖案進行圖像顯影的結構光圖案承載面以及獲取所述參數的圖像信息獲取結構,所述圖像信息獲取結構位于所述結構光圖案承載面一側。
4.根據權利要求3所述的結構光投影模組的主動調焦方法,其特征在于:所述光源、所述投影光學器件、所述結構光圖案承載面以及所述圖像信息獲取結構依次并排設置。
5.根據權利要求4所述的結構光投影模組的主動調焦方法,其特征在于:所述投影光學結構包括透鏡以及衍射光學元件,且所述透鏡與所述衍射光學元件的光軸重合。
6.根據權利要求3所述的結構光投影模組的主動調焦方法,其特征在于:所述光源、所述投影光學器件、所述結構光圖案承載面、以及所述圖像信息獲取結構依次并排設置,且所述圖像信息獲取結構通過所述結構光圖案承載面的透射的所述圖像來獲取所述參數。
7.根據權利要求6所述的結構光投影模組的主動調焦方法,其特征在于:所述投影光學結構包括依次排列的掩膜、物鏡以及投影透鏡,且所述物鏡與所述投影透鏡的光軸重合。
8.根據權利要求4或6所述的結構光投影模組的主動調焦方法,其特征在于:以所述結構光圖案承載面所在平面為基準面,所述基準面具有相互垂直的X軸、Y軸,垂直于所述基準面為Z軸,所述結構光投影模組調節系統可帶動所述光源分別沿X軸、和/或Y軸、和/或Z軸移動,和/或所述結構光投影模組調節系統可帶動所述光源分別沿X軸、和/或Y軸、和/或Z軸轉動。
9.根據權利要求4或6所述的結構光投影模組的主動調焦方法,其特征在于:以所述結構光圖案承載面所在平面為基準面,所述基準面具有相互垂直的X軸、Y軸,垂直于所述基準面為Z軸,所述結構光投影模組調節系統可帶動所述投影光學器件分別沿X軸、和/或Y軸、和/或Z軸移動,和/或所述結構光投影模組調節系統可帶動所述投影光學器件分別沿X軸、和/或Y軸、和/或Z軸轉動。
10.根據權利要求1~7任一項所述的結構光投影模組的主動調焦方法,其特征在于:所述光源為多個垂直腔面發射激光器。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳睿晟自動化技術有限公司,未經深圳睿晟自動化技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810922256.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





