[發(fā)明專利]一種帶電極的反向臺(tái)面超薄晶片及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810921268.7 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109103080A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-12-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李洋洋;薛海蛟;胡文 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 濟(jì)南晶正電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/18 | 分類號(hào): | H01L21/18;H01L21/28 |
| 代理公司: | 山東濟(jì)南齊魯科技專利事務(wù)所有限公司 37108 | 代理人: | 張娟 |
| 地址: | 250100 山東省濟(jì)南市高新區(qū)港興*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 目標(biāo)晶片 支撐襯底晶片 電極 下電極 超薄晶片 帶電極 隔離層 臺(tái)面 制備 從上而下 石英 表面平整度 頻率穩(wěn)定性 有效面積 金屬膜 諧振器 鉭酸鋰 鈮酸鋰 玻璃 申請(qǐng) | ||
1.一種帶電極的反向臺(tái)面超薄晶片,其特征在于:從上而下包括上電極、目標(biāo)晶片、下電極、隔離層和支撐襯底晶片;其中目標(biāo)晶片的厚度為10~80μm,并且目標(biāo)晶片的總體厚度偏差TTV為0.005~1μm,表面粗糙度≤0.2nm,目標(biāo)晶片的材料為鉭酸鋰、鈮酸鋰或石英;隔離層為二氧化硅,厚度為100~4000nm;上電極和下電極均為厚度為5nm~1μm的金屬膜,所述金屬為金、銀、銅或鉑;支撐襯底晶片的厚度為0.2~1mm,支撐襯底晶片的材料為硅、石英或玻璃,并且目標(biāo)晶片和支撐襯底晶片的材料不同。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種帶電極的反向臺(tái)面超薄晶片,其特征在于:目標(biāo)晶片的材料為鉭酸鋰,支撐襯底晶片的材料為硅。
3.一種帶電極的反向臺(tái)面超薄晶片的制備方法,其特征在于:包括以下步驟:
①準(zhǔn)備目標(biāo)晶片和支撐襯底晶片,目標(biāo)晶片的材料為鉭酸鋰、鈮酸鋰或石英;支撐襯底晶片的材料為硅、石英或玻璃,并且目標(biāo)晶片和支撐襯底晶片的材料不同;
②對(duì)目標(biāo)晶片進(jìn)行清洗;
③在目標(biāo)晶片的一面制備一層金屬膜作為下電極,然后在下電極面采用化學(xué)氣相沉積工藝制備一層二氧化硅作為隔離層;得到帶有二氧化硅隔離層的目標(biāo)晶片;其中下電極為厚度為5nm~1μm的金屬膜,所述金屬為金、銀、銅或鉑;制作下電極采用的工藝為沉積法、濺射法、真空蒸發(fā)鍍膜法或化學(xué)鍍法;隔離層的厚度為100~4000nm;
④對(duì)支撐襯底晶片和步驟③所得帶有二氧化硅隔離層的目標(biāo)晶片進(jìn)行清洗后鍵合,得到鍵合體;支撐襯底晶片的材料為硅、石英或玻璃,并且目標(biāo)晶片和支撐襯底晶片的材料不同;
⑤對(duì)步驟④鍵合體中的目標(biāo)晶片進(jìn)行研磨減薄,并進(jìn)行拋光處理,使目標(biāo)晶片的厚度為10~80μm;然后在目標(biāo)晶片上表面的拋光面制備一層金屬膜作為上電極;其中上電極為厚度為5nm~1μm的金屬膜,所述金屬為金、銀、銅或鉑;制作上電極采用的工藝為沉積法、濺射法、真空蒸發(fā)鍍膜法或化學(xué)鍍法;
⑥將步驟④鍵合體中的支撐襯底晶片研磨減薄至0.2~1mm,然后在支撐襯底晶片的下表面制備掩模涂層圖形,得到帶有掩模涂層的鍵合體;掩模涂層為光刻膠;
⑦將步驟⑥所得帶有掩模涂層的鍵合體浸入襯底腐蝕液,去除未掩模涂層圖形的支撐襯底晶片部分;
當(dāng)支撐襯底晶片的材料為硅時(shí),襯底腐蝕液為TMAH,氫氧化鉀溶液、氫氧化鈉溶液或混合酸溶液;其中混合酸溶液由HF、HNO3和CH3COOH組成,其中HF、HNO3和CH3COOH的體積比為1:3~6:2~10.5;氫氧化鉀溶液、氫氧化鈉溶液的質(zhì)量百分濃度均為5~26%;
當(dāng)支撐襯底晶片的材料為石英或玻璃時(shí),襯底腐蝕液為HF;
⑧先用掩模涂層腐蝕液去除掩模涂層,然后用酸性溶液去除隔離層,切割,得到帶電極的反向臺(tái)面超薄晶片;所述掩模涂層腐蝕液為丙酮;所述酸性溶液為質(zhì)量濃度為30~40%的強(qiáng)酸溶液;所述強(qiáng)酸為鹽酸、硫酸、硝酸、磷酸或氫氟酸。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種帶電極的反向臺(tái)面超薄晶片的制備方法,其特征在于:步驟④中的鍵合為常溫直接鍵合或高真空鍵合。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種帶電極的反向臺(tái)面超薄晶片的制備方法,其特征在于:所述酸性溶液為質(zhì)量濃度為35%的氫氟酸溶液。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種帶電極的反向臺(tái)面超薄晶片的制備方法,其特征在于:步驟②中對(duì)目標(biāo)晶片進(jìn)行清洗采用的是RCA標(biāo)準(zhǔn)清洗工藝。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種帶電極的反向臺(tái)面超薄晶片的制備方法,其特征在于:制作上、下電極采用的工藝為真空蒸發(fā)鍍膜法。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





