[發明專利]一種集成肖特基續流二極管碳化硅槽柵MOSFET有效
| 申請號: | 201810921041.2 | 申請日: | 2018-08-14 |
| 公開(公告)號: | CN109119419B | 公開(公告)日: | 2022-05-03 |
| 發明(設計)人: | 易波;張丙可 | 申請(專利權)人: | 電子科技大學 |
| 主分類號: | H01L27/06 | 分類號: | H01L27/06;H01L29/06;H01L29/872 |
| 代理公司: | 電子科技大學專利中心 51203 | 代理人: | 甘茂 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 集成 肖特基續流 二極管 碳化硅 mosfet | ||
1.一種集成肖特基續流二極管碳化硅槽柵MOSFET,其元胞由以下結構構成:
N+型襯底(8),
位于N+型襯底下的漏電極(10),
位于N+型襯底上的N-型漂移區(1),
分別位于N-型漂移區上左右兩側的P型基區(2),P型基區之間設置的柵電極(4),所述柵電極與P型基區之間及柵電極與N-型漂移區之間設置的柵氧化層(5),
位于P型基區內的N+源區(3),所述N+源區位于P型基區頂部且緊鄰柵電極一側,
深入一側P型基區(2)、且與N-型漂移區(1)直接接觸的深槽(6),
以及覆蓋所述P型基區(2)、N+源區(3)與深槽(6)的源電極(9);
其特征在于,所述元胞還包括一個P+型電場屏蔽區(7),所述P+型電場屏蔽區位于深槽(6)正下方,且所述源電極(9)于深槽(6)內側壁位置與N-型漂移區(1)形成肖特基接觸。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





