[發明專利]材料成分的檢測方法、裝置、計算設備和存儲介質

在審

• 申請號: 201810907522.8
• 申請日: 2018-08-10
• 公開（公告）號: CN110823935A
• 公開（公告）日: 2020-02-21
• 發明（設計）人: 王秀桃;蘭邦銀;蔡愛玲;紀曉榕
• 申請（專利權）人: 領凡新能源科技（北京）有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223;G01N21/73;G06F17/18
• 代理公司: 北京智晨知識產權代理有限公司 11584
• 代理人: 張婧

本申請公開了一種材料成分的檢測方法、裝置、計算設備和存儲介質，涉及材料檢測技術領域，用以解決ICP檢測操作復雜，成本高且對環境要求苛刻的問題。該方法中由于X射線熒光光譜分析方法相較ICP具有成本低、操作簡便和對環境要求低的特點，故此先采用X射線熒光光譜分析方法檢測成分得到檢測結果，并基于X射線熒光光譜分析方法的測定結果和ICP測定結果之間的對應關系，確定該檢測結果對應的ICP測定結果，得到逼近ICP測試的結果。這樣，實現了檢測結果準確性高，且操作方便成本低廉的檢測方案。

技術領域

本申請涉及材料檢測技術領域，尤其涉及材料成分的檢測方法、裝置、計算設備和存儲介質。

背景技術

現有技術中通常需要對物品的材料成分進行檢測。例如檢測金屬成分，檢測的結果通常包括材料成分組成和/或材料成分的含量。

現有技術中為了得到比較準確可靠的檢測結果，通常采用ICP(發射光譜法)對材料成分進行檢測，或者采用XRF(X—Ray Fluorescence，X射線熒光光譜分析方法)進行檢測。

其中，XRF檢測的準確性較低，而采用ICP進行檢測，雖然準確性較高，但其具有以下缺點：

1、成本太高，測量周期太長，不適合大規模工業生產：

需要采用酸性溶液對檢測物品進行溶解，其對酸性溶液的濃度具有嚴格的要求，而這一的溶液成本一般較高。ICP檢測需要Ar氣(氬氣)，也會進一步導致檢測成本高昂。此外，ICP的使用環境及配套要求也比較復雜，且需要無塵車間。

2、操作復雜：

ICP的化學處理需要檢測人員具有一定的專業知識。例如，在化學處理過程中，有時會引入不利于測定的污染物質或鹽類，會導致樣品分解后，相當稀釋50倍以上，從而降低了元素在樣品中的絕對測定靈敏度。所以ICP檢測對操作人員的經驗及分析能力要求比較高。

發明內容

本申請實施例提供一種材料成分的檢測方法、裝置、計算設備和存儲介質，用于克服ICP檢測操作復雜，成本高且測量周期太長，不適合大規模工業生產的問題。

第一方面，本申請實施例提供一種材料成分的檢測方法，該方法包括：

讀取基于X射線熒光光譜分析方法對待檢測物品的第一測定結果；

根據預先建立的針對相同樣品的X射線熒光光譜分析方法的測定結果和發射光譜法的測定結果之間的對應關系，確定所述待檢測物品的X射線熒光光譜分析的第一測定結果對應的發射光譜法的第二測定結果；

將確定的所述發射光譜法的第二測定結果作為最終的測定結果并輸出。

進一步的，建立X射線熒光光譜分析方法的測定結果和發射光譜法測定結果之間的對應關系，包括：

分別采用所述X射線熒光光譜分析方法和所述發射光譜法對預設樣品的成分進行測試，得到所述X射線熒光光譜分析方法的測定結果，以及發射光譜法的測定結果；

采用線性回歸方法，建立所述X射線熒光光譜分析方法的測定結果和所述發射光譜法的測定結果之間的對應關系。

進一步的，確定預設樣品包括：

接收輸入的樣品成分范圍；

基于實驗設計方法從所述樣品成分范圍中選取預設數量的樣品作為預設樣品。

進一步的，采用線性回歸方法，建立所述X射線熒光光譜分析方法的測定結果和所述發射光譜法的測定結果之間的對應關系包括：

調用交互式可視化統計發現JMP軟件內置的線性回歸方法，建立所述X射線熒光光譜分析方法的測定結果和所述發射光譜法的測定結果之間的對應關系。