[發(fā)明專利]一種深基坑開挖變形實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810902559.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108592813A | 公開(公告)日: | 2018-09-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 岳夏冰;馬豪豪;袁帥;牛亞鵬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 長(zhǎng)安大學(xué);中原工學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | G01B11/16 | 分類號(hào): | G01B11/16 |
| 代理公司: | 西安銘澤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 61223 | 代理人: | 李振瑞 |
| 地址: | 710021 陜*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光纖Bragg光柵 光探測(cè)器 鎧裝光纖 測(cè)斜管 電連接 耦合器 傳感器 光纖光柵解調(diào)儀 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)裝置 深基坑開挖 移動(dòng)電腦 激光器 監(jiān)測(cè) 變形 自動(dòng)化實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè) 傳感器端部 表面凹槽 波長(zhǎng)調(diào)制 監(jiān)測(cè)效率 經(jīng)濟(jì)成本 勞動(dòng)成本 安裝孔 測(cè)斜儀 微米級(jí) 點(diǎn)位 熔接 跳線 外設(shè) 光纖 | ||
本發(fā)明涉及一種深基坑開挖變形實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)裝置,包括光纖光柵解調(diào)儀、光纖Bragg光柵傳感器、鎧裝光纖、測(cè)斜管和移動(dòng)電腦,光纖光柵解調(diào)儀包括激光器、光探測(cè)器和耦合器,激光器、光探測(cè)器分別與耦合器電連接;測(cè)斜管通過(guò)預(yù)打的安裝孔埋設(shè)在監(jiān)測(cè)點(diǎn)位;光纖Bragg光柵傳感器沿深度方向布設(shè)在測(cè)斜管表面凹槽內(nèi),光纖Bragg光柵傳感器端部與鎧裝光纖相熔接,鎧裝光纖通過(guò)FC跳線與耦合器電連接,光探測(cè)器與外設(shè)的移動(dòng)電腦電連接。本發(fā)明監(jiān)測(cè)精度高,可達(dá)到微米級(jí),遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)常規(guī)測(cè)斜儀;其光纖Bragg傳感器屬于波長(zhǎng)調(diào)制型,監(jiān)測(cè)便捷、極大的提高了監(jiān)測(cè)效率,降低了勞動(dòng)成本,操作簡(jiǎn)單,經(jīng)濟(jì)成本低,可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè),實(shí)用性好,值得推廣。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于深基坑開挖過(guò)程中的變形監(jiān)測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種深基坑開挖變形實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)裝置。
背景技術(shù)
由于巖土體及施工環(huán)境復(fù)雜多變、土壓力計(jì)算理論、基坑設(shè)計(jì)和變形計(jì)算理論等的局限性,通過(guò)理論分析和數(shù)學(xué)方法計(jì)算基坑支護(hù)結(jié)構(gòu)和周圍土體、建筑物、管線等在基坑開挖過(guò)程中的變形仍存在很大的困難。深基坑工程在開挖過(guò)程中如果出現(xiàn)過(guò)大變形沒有及時(shí)發(fā)現(xiàn)后果將極其嚴(yán)重。為確保工程安全順利進(jìn)行,在深基坑開挖過(guò)程中進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)已經(jīng)成為一項(xiàng)必不可少的重要環(huán)節(jié)。深基坑開挖過(guò)程中的監(jiān)測(cè)項(xiàng)目主要有基坑周圍土體及建筑物的變形、支護(hù)結(jié)構(gòu)內(nèi)力、地下水動(dòng)態(tài)變化等內(nèi)容,其中圍護(hù)樁和基坑周圍土體的深層水平位移是深基坑圍護(hù)結(jié)構(gòu)變形和受力的直觀反應(yīng),是基坑安全的最重要的監(jiān)測(cè)項(xiàng)目,通常采用埋設(shè)測(cè)斜管進(jìn)行觀測(cè)。這種監(jiān)測(cè)方式目前應(yīng)用仍然比較普遍,但是經(jīng)過(guò)多年實(shí)際應(yīng)用之后已落后于時(shí)代,存在如下幾方面問(wèn)題:
1、監(jiān)測(cè)精度較低,測(cè)斜管的埋設(shè)狀況、數(shù)據(jù)的采集過(guò)程和電磁波等都對(duì)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)有較大影響,數(shù)據(jù)波動(dòng)大;
2、數(shù)據(jù)采集過(guò)程繁瑣,測(cè)斜管的數(shù)據(jù)采集過(guò)程需要在同一個(gè)斷面采集四次數(shù)據(jù),并且無(wú)法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)采集,人工勞動(dòng)量較大;
3、監(jiān)測(cè)過(guò)程無(wú)法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是克服上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的問(wèn)題,提供一種監(jiān)測(cè)精度高、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)監(jiān)測(cè),且不受電磁干擾,數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠,在降低監(jiān)測(cè)成本的同時(shí)極大的提升了監(jiān)測(cè)質(zhì)量的深基坑開挖變形實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)裝置。
本發(fā)明的技術(shù)方案是:
一種深基坑開挖變形實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)裝置,包括光纖光柵解調(diào)儀、光纖Bragg光柵傳感器、鎧裝光纖、測(cè)斜管和移動(dòng)電腦,所述光纖光柵解調(diào)儀包括激光器、光探測(cè)器和耦合器,所述激光器、光探測(cè)器分別與耦合器電連接;所述測(cè)斜管通過(guò)預(yù)打的安裝孔埋設(shè)在監(jiān)測(cè)點(diǎn)位;所述光纖Bragg光柵傳感器沿深度方向布設(shè)在測(cè)斜管表面凹槽內(nèi),所述光纖Bragg光柵傳感器端部與鎧裝光纖相熔接,所述鎧裝光纖通過(guò)FC跳線與耦合器電連接,所述光探測(cè)器與外設(shè)的移動(dòng)電腦電連接。
優(yōu)選的,所述光纖光柵解調(diào)儀是MOI公司生產(chǎn)的SM130型光纖解調(diào)儀。
優(yōu)選的,所述光纖Bragg光柵傳感器的長(zhǎng)度為10mm,間距50mm,封裝后直徑為1mm。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的一種深基坑開挖變形實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)裝置,監(jiān)測(cè)時(shí),光纖光柵解調(diào)儀內(nèi)的激光器發(fā)射光信號(hào)通過(guò)耦合器傳遞到鎧裝光纖后繼續(xù)傳遞到光纖Bragg光柵傳感器,光纖Bragg光柵傳感器監(jiān)測(cè)測(cè)斜管變形后反射光信號(hào),反射光信號(hào)通過(guò)鎧裝光纖傳遞到解調(diào)儀內(nèi)的光探測(cè)器,光探測(cè)器將信號(hào)傳遞給移動(dòng)電腦進(jìn)行記錄分析,本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)如下所示:
1、本發(fā)明的監(jiān)測(cè)精度高,可達(dá)到微米級(jí),遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)常規(guī)測(cè)斜儀;
2、本發(fā)明的光纖Bragg傳感器屬于波長(zhǎng)調(diào)制型,與傳統(tǒng)測(cè)斜技術(shù)相比數(shù)據(jù)更加穩(wěn)定。
3、本發(fā)明監(jiān)測(cè)便捷、可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè),極大的提高了監(jiān)測(cè)效率,降低了勞動(dòng)成本。
4、本發(fā)明操作簡(jiǎn)單,經(jīng)濟(jì)成本低,實(shí)用性好,值得推廣。
附圖說(shuō)明
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于長(zhǎng)安大學(xué);中原工學(xué)院,未經(jīng)長(zhǎng)安大學(xué);中原工學(xué)院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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