[發明專利]高精度高溫變形測量方法

有效

• 申請號: 201810901719.0
• 申請日: 2018-08-09
• 公開（公告）號: CN108955555B
• 公開（公告）日: 2020-04-21
• 發明（設計）人: 王永紅;鮑思源;胡慧然
• 申請（專利權）人: 合肥工業大學
• 主分類號: G01B11/16
• 分類號: G01B11/16
• 代理公司: 北京旭路知識產權代理有限公司 11567
• 代理人: 董媛;王瑩

本發明實施例公開一種高精度高溫變形測量方法，包括：將待測件涂裝第一顏色的基色，第二顏色的散斑，所述第一顏色與所述第二顏色為不同色，所述第二顏色散斑涂裝于所述基色上；獲取所述待測件在未發生高溫形變的參考圖像，并獲取所述待測件在高溫形變過程中的圖像序列，所述圖像序列由所述待測件置于高溫環境中受彩色激光器和LED燈共同照射得到；確定所述參考圖像上的目標點，記錄所述目標點在所述未發生高溫形變的圖像上的位置；確定所述目標點在目標圖像上的位置，所述目標圖像為所述圖像序列中的一張圖像；根據所述目標點在所述參考圖像上的位置及所述目標點在所述目標圖像上的位置，確定在所述目標圖像上所述待測件的形變量。

技術領域

本發明涉及材料測試領域，尤其涉及一種高精度高溫變形測量方法。

背景技術

航空航天、汽車、發動機、船舶等領域的高速發展，使得應用在這些領域的材料引起人們的廣泛關注，由于這些材料在工作過程中會產生較為嚴重的摩擦發熱現象，為了保證產品安全可靠地運行，需要測量材料高溫環境下材料的形變。

目前，大多采用數字圖像相關方法測量高溫物體表面形變。數字圖像相關方法是一種基于可見光照明的位移形變測量技術，但熱氣流擾動常常影響形變測量的準確性。

發明內容

本發明實施例提供一種高精度高溫變形測量方法，能夠更準確的進行變形測量。

本發明實施例采用如下技術方案：

一種高精度高溫變形測量方法，包括：

將待測件涂裝第一顏色的基色，第二顏色的散斑，所述第一顏色與所述第二顏色為不同色，所述第二顏色散斑涂裝于所述基色上；

獲取所述待測件在未發生高溫形變的參考圖像，并獲取所述待測件在高溫形變過程中的圖像序列，所述圖像序列由所述待測件置于高溫環境中受彩色激光器和LED燈共同照射得到；

確定所述參考圖像上的目標點，記錄所述目標點在所述未發生高溫形變的圖像上的位置；

確定所述目標點在目標圖像上的位置，所述目標圖像為所述圖像序列中的一張圖像；

根據所述目標點在所述參考圖像上的位置及所述目標點在所述目標圖像上的位置，確定在所述目標圖像上所述待測件的形變量。

可選的，所述確定所述參考圖像上的目標點包括：

確定所述參考圖像上的目標區域，所述目標區域的中心點為所述目標點。

可選的，所述確定所述目標圖像上的位置包括：

根據在所述目標圖像上的定位所述目標區域，所述目標圖像上所述目標區域的中心點為所述目標點位置；其中，f(x_i,y_i)為所述參考圖像的灰度分布，為所述參考圖像的平均灰度，g(x_i',y_i')為所述目標圖像的灰度分布，為所述目標圖像的平均灰度。

可選的，所述根據所述目標點在所述參考圖像上的位置及所述目標點在所述目標圖像上的位置，確定在所述目標圖像上所述待測件的形變量包括：

確定所述參考圖像藍色通道圖像及綠色通道圖像上所述目標點的位置坐標；

確定所述目標圖像藍色通道圖像及綠色通道圖像上所述目標點的位置坐標；

根據所述目標圖像藍色通道圖像上所述目標點的位置坐標，與所述參考圖像藍色通道圖像上所述目標點的位置坐標，確定所述目標圖像藍色通道圖像上所述目標點的位移；

根據所述目標圖像綠色通道圖像上所述目標點的位置坐標，與所述參考圖像綠色通道圖像上所述目標點的位置坐標，確定所述目標圖像綠色通道圖像上所述目標點的位移；