[發明專利]電壓開啟重置信號產生裝置及其電壓檢測電路

有效

• 申請號: 201810901264.2
• 申請日: 2018-08-09
• 公開（公告）號: CN110824223B
• 公開（公告）日: 2022-01-25
• 發明（設計）人: 賴俊宇;劉興羽;張雅俊
• 申請（專利權）人: 華邦電子股份有限公司
• 主分類號: H03K17/22
• 分類號: H03K17/22
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 吳志紅;臧建明

1.一種電壓檢測電路，用以檢測電源電壓的變化狀態，包括：

閂鎖電路，具有反向器以及反或閘電路，所述反向器的輸入端耦接至所述反或閘電路的輸出端，所述反向器的輸出端耦接至所述反或閘電路的第一輸入端，所述反或閘電路的第二輸入端接收參考接地電壓；

預充電路，耦接在所述反向器接收所述電源電壓的路徑間，依據電源開啟重置信號或所述電源電壓以進行預充電動作；

下拉開關，耦接在所述反向器的輸出端與所述參考接地電壓間，依據所述電源開啟重置信號以被導通或斷開；以及

輸出級電路，接收所述電源電壓，基于所述電源電壓，以依據所述反向器的輸入端上的電壓以及所述電源開啟重置信號來產生檢測輸出電壓。

2.根據權利要求1所述的電壓檢測電路，其中所述預充電路包括：

第一晶體管，耦接在所述電源電壓以及所述反向器的第一端間，依據所述電源開啟重置信號以被導通或斷開；

二極管，其陽極接收所述電源電壓，所述二極管的陰極耦接至所述反向器的第一端；

電容，耦接在所述反向器的第一端與所述參考接地電壓間，

其中，所述反向器的第一端用以接收所述電源電壓。

3.根據權利要求2所述的電壓檢測電路，其中所述二極管為第二晶體管，所述第二晶體管的第一端接收所述電源電壓，所述第二晶體管的第二端耦接至所述第二晶體管的控制端以及所述反向器的第一端，所述第二晶體管為P型晶體管。

4.根據權利要求2所述的電壓檢測電路，其中所述下拉開關包括：

第二晶體管，其第一端耦接至所述反向器的輸出端，所述第二晶體管的第二端耦接至所述參考接地電壓，所述第二晶體管接收所述電源開啟重置信號。

5.根據權利要求1所述的電壓檢測電路，其中所述反向器包括：

第一晶體管，其第一端接至所述預充電路，所述第一晶體管的第二端耦接至所述反向器的輸出端，所述第一晶體管的控制端耦接至所述反或閘電路的輸出端；以及

第二晶體管，其第一端接至所述第一晶體管的第二端，所述第二晶體管的第二端耦接至所述參考接地電壓，所述第二晶體管的控制端耦接至所述第一晶體管的控制端。

6.根據權利要求5所述的電壓檢測電路，還包括：

第三晶體管，耦接在所述第二晶體管耦接至所述參考接地電壓的路徑間，所述第三晶體管的控制端接收所述電源電壓。

7.根據權利要求1所述的電壓檢測電路，其中所述反或閘電路包括：

第一晶體管，其第一端接收所述電源電壓，所述第一晶體管的控制端為所述反或閘電路的第二輸入端；

第二晶體管，其第一端耦接至所述第一晶體管的第二端，所述第二晶體管的第二端耦接至所述反向器的輸入端，所述第二晶體管的控制端耦接至所述反向器的輸出端；

第三晶體管，其第一端耦接至所述第二晶體管的第二端，所述第三晶體管的第二端耦接至所述參考接地電壓，所述第三晶體管的控制端耦接至所述第二晶體管的控制端；以及

第四晶體管，其第一端耦接至所述第二晶體管的第二端，所述第四晶體管的第二端耦接至所述參考接地電壓，所述第四晶體管的控制端耦接至所述參考接地電壓。

8.根據權利要求1所述的電壓檢測電路，其中所述輸出級電路包括：

第一晶體管，其第一端接收所述電源電壓，所述第一晶體管的控制端耦接至所述反或閘電路的輸出端；以及

第二晶體管，其第一端耦接至所述第一晶體管的第二端，所述第二晶體管的第二端產生所述檢測輸出電壓，所述第二晶體管的控制端接收所述電源開啟重置信號。