[發(fā)明專利]關(guān)鍵語(yǔ)義測(cè)試方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810895986.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110825608A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-02-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳磊;周敬巖;賈瑞卿;牛鋒華;王浩;劉軍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京京東尚科信息技術(shù)有限公司;北京京東世紀(jì)貿(mào)易有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京律智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11438 | 代理人: | 王輝;闞梓瑄 |
| 地址: | 100195 北京市海淀區(qū)杏石口路6*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 關(guān)鍵 語(yǔ)義 測(cè)試 方法 裝置 存儲(chǔ) 介質(zhì) 電子設(shè)備 | ||
本公開(kāi)涉及一種關(guān)鍵語(yǔ)義測(cè)試方法、關(guān)鍵語(yǔ)義測(cè)試裝置、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備。本公開(kāi)實(shí)施例提供的關(guān)鍵語(yǔ)義測(cè)試方法包括:根據(jù)預(yù)期關(guān)鍵語(yǔ)義得到包括一個(gè)或者多個(gè)語(yǔ)義關(guān)鍵詞的關(guān)鍵語(yǔ)義數(shù)組;對(duì)所述待測(cè)試語(yǔ)句進(jìn)行分詞處理,得到包括一個(gè)或者多個(gè)分詞單元的待測(cè)試數(shù)組;判斷所述關(guān)鍵語(yǔ)義數(shù)組是否為所述待測(cè)試數(shù)組的子集;若所述關(guān)鍵語(yǔ)義數(shù)組是所述待測(cè)試數(shù)組的子集,則判定所述待測(cè)試語(yǔ)句包含所述預(yù)期關(guān)鍵語(yǔ)義。本公開(kāi)實(shí)施例所提供的關(guān)鍵語(yǔ)義測(cè)試方法不僅可以提高語(yǔ)義測(cè)試的準(zhǔn)確率和效率,而且可以減少人工參與,擴(kuò)大自動(dòng)化測(cè)試的覆蓋范圍。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開(kāi)涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種關(guān)鍵語(yǔ)義測(cè)試方法、關(guān)鍵語(yǔ)義測(cè)試裝置、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備。
背景技術(shù)
隨著信息技術(shù)的不斷發(fā)展,被測(cè)系統(tǒng)呈現(xiàn)多元化的發(fā)展趨勢(shì)。在很多項(xiàng)目的測(cè)試過(guò)程中,測(cè)試人員都是依據(jù)一些關(guān)鍵語(yǔ)義進(jìn)行預(yù)期結(jié)果的檢測(cè)。這個(gè)關(guān)鍵語(yǔ)義的檢測(cè)、識(shí)別過(guò)程對(duì)于人來(lái)說(shuō),是很容易的,但是如何讓自動(dòng)化測(cè)試腳本或者框架來(lái)完成這個(gè)過(guò)程,目前還沒(méi)有很好的解決途徑。
因此,如何實(shí)現(xiàn)關(guān)鍵語(yǔ)義的自動(dòng)化測(cè)試是目前亟待解決的問(wèn)題。
需要說(shuō)明的是,在上述背景技術(shù)部分公開(kāi)的信息僅用于加強(qiáng)對(duì)本公開(kāi)的背景的理解,因此可以包括不構(gòu)成對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員已知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。
發(fā)明內(nèi)容
本公開(kāi)的目的在于提供一種關(guān)鍵語(yǔ)義測(cè)試方法、關(guān)鍵語(yǔ)義測(cè)試裝置、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備,進(jìn)而至少在一定程度上克服由于相關(guān)技術(shù)的限制和缺陷而導(dǎo)致的無(wú)法在自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程中實(shí)現(xiàn)關(guān)鍵語(yǔ)義測(cè)試的技術(shù)問(wèn)題。
根據(jù)本公開(kāi)的一個(gè)方面,提供一種關(guān)鍵語(yǔ)義測(cè)試方法,其特殊之處在于,包括:
根據(jù)預(yù)期關(guān)鍵語(yǔ)義得到包括一個(gè)或者多個(gè)語(yǔ)義關(guān)鍵詞的關(guān)鍵語(yǔ)義數(shù)組;
對(duì)所述待測(cè)試語(yǔ)句進(jìn)行分詞處理,得到包括一個(gè)或者多個(gè)分詞單元的待測(cè)試數(shù)組;
判斷所述關(guān)鍵語(yǔ)義數(shù)組是否為所述待測(cè)試數(shù)組的子集;
若所述關(guān)鍵語(yǔ)義數(shù)組是所述待測(cè)試數(shù)組的子集,則判定所述待測(cè)試語(yǔ)句包含所述預(yù)期關(guān)鍵語(yǔ)義。
在本公開(kāi)的一種示例性實(shí)施方式中,所述判斷所述關(guān)鍵語(yǔ)義數(shù)組是否為所述待測(cè)試數(shù)組的子集,包括:
獲取所述關(guān)鍵語(yǔ)義數(shù)組中的全部語(yǔ)義關(guān)鍵詞;
判斷各個(gè)語(yǔ)義關(guān)鍵詞是否包含在所述待測(cè)試數(shù)組中;
若全部語(yǔ)義關(guān)鍵詞均包含在所述待測(cè)試數(shù)組中,則判定所述關(guān)鍵語(yǔ)義數(shù)組是所述待測(cè)試數(shù)組的子集。
在本公開(kāi)的一種示例性實(shí)施方式中,所述判斷各個(gè)語(yǔ)義關(guān)鍵詞是否包含在所述待測(cè)試數(shù)組中,包括:
循環(huán)遍歷所述待測(cè)試數(shù)組中的分詞單元,逐一判斷所述待測(cè)試數(shù)組中是否存在與所述語(yǔ)義關(guān)鍵詞相同的分詞單元;
若所述待測(cè)試數(shù)組中存在與所述語(yǔ)義關(guān)鍵詞相同的分詞單元,則判定所述語(yǔ)義關(guān)鍵詞包含在所述待測(cè)試數(shù)組中。
在本公開(kāi)的一種示例性實(shí)施方式中,所述判斷各個(gè)語(yǔ)義關(guān)鍵詞是否包含在所述待測(cè)試數(shù)組中,包括:
根據(jù)預(yù)設(shè)排序規(guī)則對(duì)所述待測(cè)試數(shù)組中的分詞單元進(jìn)行排序;
使用二分查找的方法,逐一判斷所述待測(cè)試數(shù)組中是否存在與所述語(yǔ)義關(guān)鍵詞相同的分詞單元;
若所述待測(cè)試數(shù)組中存在與所述語(yǔ)義關(guān)鍵詞相同的分詞單元,則判定所述語(yǔ)義關(guān)鍵詞包含在所述待測(cè)試數(shù)組中。
在本公開(kāi)的一種示例性實(shí)施方式中,所述根據(jù)預(yù)設(shè)排序規(guī)則對(duì)所述待測(cè)試數(shù)組中的分詞單元進(jìn)行排序,包括:
按照預(yù)設(shè)編碼格式獲取所述待測(cè)試數(shù)組中各個(gè)分詞單元的編碼;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京京東尚科信息技術(shù)有限公司;北京京東世紀(jì)貿(mào)易有限公司,未經(jīng)北京京東尚科信息技術(shù)有限公司;北京京東世紀(jì)貿(mào)易有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 關(guān)鍵詞輸出設(shè)備和關(guān)鍵詞輸出方法
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