[發明專利]一種1AF料液測量設備在審
| 申請號： | 201810895980.4 | 申請日： | 2018-08-08 |
| 公開（公告）號： | CN108919330A | 公開（公告）日： | 2018-11-30 |
| 發明（設計）人： | 柏磊;王仲奇;劉曉琳;邵婕文;李新軍 | 申請（專利權）人： | 中國原子能科學研究院 |
| 主分類號： | G01T1/167 | 分類號： | G01T1/167;G01T3/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 102413 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 料液 中子測量裝置 無源 測量設備 測量通道 測量裝置 測量腔 中子管 測量技術領域 電子學系統 定量測量 技術途徑 入口處 包殼 鈾钚 分析 外圍 | ||
1.一種1AF料液測量設備，包括混合式K邊界/X熒光測量裝置，其特征是：在所述混合式K邊界/X熒光測量裝置的測量腔(8)的入口處設置無源中子測量裝置，所述無源中子測量裝置包括與所述測量腔(8)的入口相連的、能夠通過1AF料液樣品(6)的測量通道(1)，設置在所述測量通道(1)外圍的若干He3中子管(4)，連接所述He3中子管(4)的電子學系統。
2.如權利要求1所述的1AF料液測量設備，其特征是：所述測量通道(1)與所述測量腔(8)同軸，所述He3中子管(4)沿所述測量通道(1)的軸向均勻設置。
3.如權利要求2所述的1AF料液測量設備，其特征是：還包括設置在所述測量通道(1)與所述He3中子管(4)之間的內層鉛屏蔽體(2)。
4.如權利要求3所述的1AF料液測量設備，其特征是：所述測量通道(1)通過所述內層鉛屏蔽體(2)設置在所述測量腔(8)的入口處。
5.如權利要求4所述的1AF料液測量設備，其特征是：還包括設置在所述內層鉛屏蔽體(2)外圍的外層鉛屏蔽體(5)，所述He3中子管(4)設置在所述內層鉛屏蔽體(2)與所述外層鉛屏蔽體(5)之間的空間內。
6.如權利要求5所述的1AF料液測量設備，其特征是：所述內層鉛屏蔽體(2)與所述外層鉛屏蔽體(5)之間的空間內設有聚乙烯慢化體(3)，聚乙烯慢化體(3)成套筒狀，所述He3中子管(4)內嵌在所述聚乙烯慢化體(3)中。
7.如權利要求2所述的1AF料液測量設備，其特征是：還包括設置在所述測量通道(1)內的傳送裝置，所述傳送裝置能夠將所述1AF料液樣品(6)運送至所述測量通道(1)內的測量位置，并進而運送到所述測量腔(8)的測量位置，所述傳送裝置由電機驅動，所述電機由控制軟件進行遠程控制。
8.如權利要求6所述的1AF料液測量設備，其特征是：所述內層鉛屏蔽體(2)的厚度為4cm，所述外層鉛屏蔽體(5)的厚度為3cm，所述聚乙烯慢化體(3)的厚度為10cm。
9.如權利要求1所述的1AF料液測量設備，其特征是：所述電子學系統用于為所述He3中子管(4)提供高壓，并實現對所述He3中子管(4)的信號的采集、放大、整型、收集。
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