[發(fā)明專利]一種基于遷移學(xué)習(xí)的人臉檢測(cè)的方法、裝置以及設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810890473.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-07 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109086723B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-03-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李莉;陳瑋;廖廣軍;武垚欣 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣東工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06V40/16 | 分類號(hào): | G06V40/16;G06V10/774;G06V10/82;G06V10/764;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G06V40/40 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 羅滿 |
| 地址: | 510006 廣東省*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 遷移 學(xué)習(xí) 檢測(cè) 方法 裝置 以及 設(shè)備 | ||
1.一種基于遷移學(xué)習(xí)的人臉檢測(cè)的方法,其特征在于,包括:
依據(jù)源數(shù)據(jù)集中的人臉圖像的大小對(duì)采集到的目標(biāo)數(shù)據(jù)集中的人臉圖像進(jìn)行歸一化處理;
對(duì)所述源數(shù)據(jù)集的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的遷移部分進(jìn)行直接遷移,并對(duì)所述源數(shù)據(jù)集的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的非遷移部分進(jìn)行微調(diào),從而得到所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的網(wǎng)格結(jié)構(gòu);
對(duì)所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集的確定網(wǎng)格結(jié)構(gòu)后的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行訓(xùn)練,得到所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的目標(biāo)網(wǎng)格參數(shù);
利用確定所述網(wǎng)格結(jié)構(gòu)和所述目標(biāo)網(wǎng)格參數(shù)后的所述目標(biāo)數(shù)據(jù)的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),對(duì)所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集中真實(shí)人臉圖像進(jìn)行識(shí)別;
所述依據(jù)源數(shù)據(jù)集中的人臉圖像的大小對(duì)采集到的目標(biāo)數(shù)據(jù)集中的人臉圖像進(jìn)行歸一化處理包括:
利用插值法和源數(shù)據(jù)集的Alexnet卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中輸入層內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)化圖像尺寸,對(duì)采集到的目標(biāo)數(shù)據(jù)集中的人臉圖像進(jìn)行歸一化處理,以便于依據(jù)所述Alexnet卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)得到所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);
所述對(duì)所述源數(shù)據(jù)集的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的遷移部分進(jìn)行直接遷移,并對(duì)所述源數(shù)據(jù)集的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的非遷移部分進(jìn)行微調(diào),從而得到所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的網(wǎng)格結(jié)構(gòu)包括:
對(duì)所述Alexnet卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中除最后三層以外的其他層進(jìn)行直接遷移;
對(duì)所述Alexnet卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的全連接層、soft-max層和分類輸出層進(jìn)行微調(diào),從而得到所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的網(wǎng)格結(jié)構(gòu);
所述對(duì)所述Alexnet卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的全連接層、soft-max層和分類輸出層進(jìn)行微調(diào)包括:
將所述Alexnet卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的全連接層的大小設(shè)置為所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集中的類別數(shù)目;
將所述Alexnet卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的soft-max層設(shè)置為所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集中每個(gè)類別概率似然值;
將所述Alexnet卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的分類輸出層設(shè)置為所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集的類別數(shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述對(duì)所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集的確定網(wǎng)格結(jié)構(gòu)后的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行訓(xùn)練,得到所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的目標(biāo)網(wǎng)格參數(shù)包括:
取所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集中的預(yù)設(shè)數(shù)量的樣本作為訓(xùn)練集,將所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集中除預(yù)設(shè)數(shù)量的樣本外的其他樣本作為測(cè)試集,對(duì)所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行訓(xùn)練,得到所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的目標(biāo)網(wǎng)格參數(shù)。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述目標(biāo)數(shù)據(jù)集的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的網(wǎng)格參數(shù)包括:權(quán)重學(xué)習(xí)率,偏置學(xué)習(xí)率,批樣本數(shù),回合數(shù)以及初始學(xué)習(xí)率。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于廣東工業(yè)大學(xué),未經(jīng)廣東工業(yè)大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810890473.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 遷移方法和裝置
- 移動(dòng)邊緣系統(tǒng)中遷移應(yīng)用方法、相關(guān)設(shè)備及系統(tǒng)
- 虛擬機(jī)的遷移方法及裝置
- 數(shù)據(jù)遷移方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 計(jì)算任務(wù)遷移方法及計(jì)算任務(wù)遷移器
- 文件遷移方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 基于遷移工具的國(guó)產(chǎn)化應(yīng)用系統(tǒng)遷移方法
- 數(shù)據(jù)遷移方法及裝置
- 文件遷移方法及裝置
- 一種數(shù)據(jù)遷移方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 根據(jù)用戶學(xué)習(xí)效果動(dòng)態(tài)變化下載學(xué)習(xí)數(shù)據(jù)的系統(tǒng)及方法
- 用于智能個(gè)人化學(xué)習(xí)服務(wù)的方法
- 漸進(jìn)式學(xué)習(xí)管理方法及漸進(jìn)式學(xué)習(xí)系統(tǒng)
- 輔助學(xué)習(xí)的方法及裝置
- 基于人工智能的課程推薦方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 基于強(qiáng)化學(xué)習(xí)的自適應(yīng)移動(dòng)學(xué)習(xí)路徑生成方法
- 一種線上視頻學(xué)習(xí)系統(tǒng)
- 一種基于校園大數(shù)據(jù)的自適應(yīng)學(xué)習(xí)方法、裝置及設(shè)備
- 一種學(xué)習(xí)方案推薦方法、裝置、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 游戲?qū)W習(xí)效果評(píng)測(cè)方法及系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





