[發(fā)明專利]測量材料相變性能的串聯(lián)微帶線測試系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810889767.2 | 申請日： | 2018-08-07 |
| 公開（公告）號： | CN108776153A | 公開（公告）日： | 2018-11-09 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 趙敏;王赟;王慶國;周星;王妍;楊清熙;成偉 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國人民解放軍陸軍工程大學(xué) |
| 主分類號： | G01N27/04 | 分類號： | G01N27/04 |
| 代理公司： | 石家莊輕拓知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 13128 | 代理人： | 王占華 |
| 地址： | 050000 河北*** | 國省代碼： | 河北;13 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 微帶信號 測量材料 串聯(lián) 微帶線 信號輸入端口 模擬器 測試系統(tǒng) 測試裝置 高頻噪聲 一端連接 示波器 衰減器 電磁防護材料 電磁兼容測試 響應(yīng)時間測量 信號輸出端口 信號輸入端 被測材料 技術(shù)測試 使用測試 輸出端口 同軸線纜 阻抗變化 變型 測試 | ||
1.一種測量材料相變性能的串聯(lián)微帶線測試系統(tǒng)，其特征在于：包括高頻噪聲模擬器、串聯(lián)微帶線測試裝置、衰減器以及示波器，所述高頻噪聲模擬器通過同軸線纜與所述測試裝置的信號輸入端口（8）連接，所述信號輸入端口（8）與第一微帶信號線（4）的一端連接，第一微帶信號線（4）的另一端經(jīng)被測量材料（10）與所述第二微帶信號線（5）的一端連接，第二微帶信號線（5）的另一端與所述裝置上的信號輸出端口（9）連接，使所述第一微帶信號線（4）、被測量材料（10）以及第二微帶信號線（5）之間構(gòu)成串聯(lián)關(guān)系，所述輸出端口（9）經(jīng)所述衰減器與所述示波器的信號輸入端連接。
2.如權(quán)利要求1所述的測量材料相變性能的串聯(lián)微帶線測試系統(tǒng)，其特征在于：所述測試裝置包括屏蔽殼體（1）、高頻電路板（2）、若干條接地線（3）、第一柱形電極（6）、第二柱形電極（7）、信號輸入端口（8）和信號輸出端口（9），所述信號輸入端口（8）以及信號輸出端口（9）內(nèi)嵌在所述屏蔽殼體（1）相對的兩個面上，所述高頻電路板（2）豎向安裝在屏蔽殼體（1）內(nèi)，所述高頻電路板（2）的正面沿水平方向間隔的設(shè)置有第一微帶信號線（4）和第二微帶信號線（5），所述第一微帶信號線（4）的一端與所述信號輸入端口（8）連接，第一柱形電極（6）的底部垂直焊接在第一微帶信號線（4）的另一端，第二柱形電極（7）的底部垂直焊接在第二微帶信號線（5）的一端，第二微帶信號線（5）的另一端與所述信號輸出端口（5）連接，第一柱形電極（6）和第二柱形電極（7）呈水平排列，其中所述第一柱形電極（6）用于壓持固定被測材料的一端，所述第二柱形電極（7）用于壓持固定被測材料的另一端，兩個存在一定距離的柱形電極之間形成固定被測材料（10）的空間，通過所述第一柱形電極（6）和第二柱形電極（7）對被測材料施加水平或垂直的極化電場。
3.如權(quán)利要求2所述的測量材料相變性能的串聯(lián)微帶線測試系統(tǒng)，其特征在于：所述第一微帶信號線（4）和第二微帶信號線（5）上下側(cè)的高頻電路板（2）上設(shè)置有若干個過孔，所述過孔內(nèi)設(shè)置有接地線（3），所述高頻線路板（2）的背面設(shè)置覆銅板，所述覆銅板與屏蔽殼體（1）之間通過接地線連接，使得高頻電路板（2）、接地線（3）和屏蔽殼體（1）等電位。
4.如權(quán)利要求2所述的測量材料相變性能的串聯(lián)微帶線測試系統(tǒng)，其特征在于：所述第一柱形電極（6）和第二柱形電極（7）的結(jié)構(gòu)相同，均包括一體式圓柱體（12）以及壓持裝置（11），所述圓柱體的下部與所述第一微帶信號線（4）或第二微帶信號線（5）焊接，所述壓持裝置（11）為Z字形銅片，其中所述Z字形銅片的上水平部分上設(shè)置有過孔，所述一體式圓柱體（12）的上端面設(shè)置有螺紋孔，固定螺栓（13）首先穿過所述Z字形銅片上側(cè)的過孔后與所述一體式圓柱體（12）上端面的螺紋孔固定連接，將所述Z字形銅片固定在所述一體式圓柱體上；對被測材料進行壓持時， 第一柱形電極（6）中Z字形銅片的下水平部與所述被測材料（10）一端的上表面接觸，第二柱形電極（7）中Z字形銅片的下水平部與所述被測材料（10）另一端的上表面接觸，使得兩個Z字形銅片的下水平部之間產(chǎn)生平行于所述被測材料（10）的電場。
5.如權(quán)利要求2所述的測量材料相變性能的串聯(lián)微帶線測試系統(tǒng)，其特征在于：所述第一柱形電極（6）與第二柱形電極（7）的結(jié)構(gòu)相似，均包括一體式圓柱體（12）以及壓持裝置（11），所述圓柱體的下部與所述第一微帶信號線（4）或第二微帶信號線（5）焊接，所述壓持裝置（11）為Z字形銅片，其中所述Z字形銅片的上水平部分上設(shè)置有過孔，所述一體式圓柱體的上端面設(shè)置有螺紋孔，固定螺栓（13）首先穿過所述Z字形銅片上側(cè)的過孔后與所述一體式圓柱體（12）上端面的螺紋孔固定連接，將所述Z字形銅片固定在所述一體式圓柱體（12）上；所述第一柱形電極（6）中Z字形銅片的傾斜段的長度與所述第二柱形電極（7）中Z字形銅片的傾斜段的長度不同，對被測材料進行壓持時，第一柱形電極（6）中Z字形銅片的下水平部與所述被測材料（10）一端的上表面或下表面接觸，第二柱形電極（7）中Z字形銅片的下水平部與所述被測材料（10）另一端的下表面或上表面接觸，且兩個Z字形銅片的下水平部在上下方向具有重疊，使得兩個Z字形銅片的下水平部之間產(chǎn)生垂直于所述被測材料的電場。
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