[發明專利]一種分光光度多波長檢測裝置及其檢測方法

有效

• 申請號: 201810886145.4
• 申請日: 2018-08-06
• 公開（公告）號: CN109142219B
• 公開（公告）日: 2020-05-19
• 發明（設計）人: 吳一輝;徐陽;遲明波;孫傳盛
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/31
• 代理公司: 深圳市科進知識產權代理事務所(普通合伙) 44316
• 代理人: 曹衛良

1.一種分光光度多波長檢測裝置，其特征在于，包括：

多波長校正模型構建模塊，所述多波長校正模型構建模塊將吸收池的表面粗糙度的影響表示為吸光度形式,根據吸光度的加和性，與多種組分的吸收相結合，構建包含表面散射影響的多波長校正模型；多波長校正模型的表達式為：

其中，1、1/λ²、A_E、A_R、A_T、A_S分別為常數向量、波長平方倒數向量、空吸收池吸收光譜、參比溶液吸收池吸收光譜、目標物質標準溶液吸收池吸收光譜、待測試樣吸收池吸收光譜；具體為：

波長選擇模塊，所述波長選擇模塊在待測目標物質的一個或多個吸收峰所在的波長范圍內選擇波長；

吸收光譜測量模塊，所述吸收光譜測量模塊分別通過測量空吸收池，充滿參比溶液的參比溶液吸收池，充滿標準溶液的標準溶液吸收池，充滿試樣的試樣吸收池獲得在選定波長相對空氣的吸收光譜；

計算模塊，所述計算模塊根據所述多波長校正模型，通過多元校正方法，計算獲取待測目標物質的濃度測量結果；其中，所述計算模塊具體根據多波長校正模型，通過最小二乘回歸計算模型中各向量系數；在標準溶液吸收池與試樣吸收池光程相同時，計算獲取試樣中目標物質濃度；具體為：

根據所述多波長校正模型，通過最小二乘回歸，對系數向量c進行回歸預測：

c＝(V^TV)^-1V^TA_S

其中

系數c_target,b_target,c^T_target,b^T_target分別為試樣中和標準溶液中目標物質濃度與光程，在光程相同時，c₄為試樣中目標物質濃度與標準溶液中目標物質濃度的比值，與標準溶液中目標物質濃度相乘，即可得到試樣中目標物質濃度預測值。

2.根據權利要求1所述分光光度多波長檢測裝置，其特征在于，所述波長選擇模塊選擇待測目標物質的一個或多個吸收峰所在的波長范圍，以固定間隔選取波長點，計算選定波長點選擇性，大于預定值，則選用這些波長點；小于預定值，則擴大波長范圍，或減小波長間隔，重新選擇波長點，直至獲得滿足要求的波長點以獲得所述選定波長范圍。

3.根據權利要求1所述分光光度多波長檢測裝置，其特征在于，所述吸光度表示為：

A＝a₀*1+a₁*1/λ²,

其中，a₀、a₁為系數、1為常數向量、1/λ²為波長平方倒數向量。