[發(fā)明專利]光學(xué)式檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810877577.9
• 申請(qǐng)日: 2018-08-03
• 公開（公告）號(hào): CN108985258B
• 公開（公告）日: 2021-07-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王志宏;陳亦偉;何程翔
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 友達(dá)光電股份有限公司
• 主分類號(hào): G06K9/00
• 分類號(hào): G06K9/00
• 代理公司: 隆天知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003
• 代理人: 黃艷

一種光學(xué)式檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法。光學(xué)式檢測(cè)裝置包括感測(cè)元件陣列、光學(xué)膜層、驅(qū)動(dòng)器以及控制器。感測(cè)元件陣列用以檢測(cè)一碰觸動(dòng)作。光學(xué)膜層覆蓋感測(cè)元件陣列，用以接收碰觸動(dòng)作。控制器依據(jù)碰觸動(dòng)作來產(chǎn)生觸發(fā)信號(hào)。其中，驅(qū)動(dòng)器使光學(xué)膜層在初始時(shí)間區(qū)間依據(jù)觸發(fā)事件被點(diǎn)亮，在初始時(shí)間區(qū)間后的間隔時(shí)間區(qū)間，驅(qū)動(dòng)器使光學(xué)膜層停止被點(diǎn)亮，并在間隔時(shí)間區(qū)間后的檢測(cè)時(shí)間區(qū)間，驅(qū)動(dòng)器再度點(diǎn)亮光學(xué)膜層，使光學(xué)膜層依據(jù)碰觸動(dòng)作產(chǎn)生檢測(cè)影像。控制器并在檢測(cè)時(shí)間區(qū)間進(jìn)行檢測(cè)影像的識(shí)別動(dòng)作。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種光學(xué)式檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法，且特別涉及一種用以指紋識(shí)別的光學(xué)式檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

在現(xiàn)今的指紋識(shí)別技術(shù)中，通常可以應(yīng)用于個(gè)人使用的保險(xiǎn)箱、門鎖、消費(fèi)型電子裝置(個(gè)人電腦、手機(jī)、平板電腦)…等。目前較為廣泛使用的指紋識(shí)別技術(shù)主要是光學(xué)感測(cè)技術(shù)或電容感測(cè)技術(shù)，并且隨著相關(guān)技術(shù)的成熟，進(jìn)而提升指紋識(shí)別的分辨率及準(zhǔn)確度。

在一般的情況下，當(dāng)使用者通過觸控媒介(例如是手指)對(duì)指紋識(shí)別器的觸控面進(jìn)行按壓時(shí)，通常會(huì)在觸控面所呈現(xiàn)的影像上，殘留按壓時(shí)觸控媒介所產(chǎn)生的殘留影像(例如是指紋)。此殘留影像會(huì)導(dǎo)致指紋識(shí)別器中的檢測(cè)電路在進(jìn)行判讀指紋時(shí)，發(fā)生準(zhǔn)確度下降或錯(cuò)誤判斷等問題。

以下請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D1A至圖1C，圖1A至圖1C是現(xiàn)有的指紋識(shí)別器的操作過程的示意圖。其中，圖1A表示為尚未有任何觸控媒介對(duì)指紋識(shí)別器的觸控面進(jìn)行按壓時(shí)，觸控面上所呈現(xiàn)的黑畫面影像(例如是初始影像110)；圖1B表示為使用者通過觸控媒介(例如是手指)對(duì)指紋識(shí)別器的觸控面進(jìn)行按壓時(shí)，觸控面上所可獲取到的指紋影像120；圖1C表示為當(dāng)使用者的手指移除后，指紋識(shí)別器的觸控面所呈現(xiàn)的殘留影像130。值得一提的是，現(xiàn)有技術(shù)中，指紋識(shí)別器依據(jù)初始影像110所產(chǎn)生的暗電流Idark1，以及依據(jù)殘留影像130所產(chǎn)生的暗電流Idark2間，有一定程度的差值，這個(gè)暗電流的差值，將會(huì)影響到指紋識(shí)別器所進(jìn)行的指紋識(shí)別動(dòng)作，造成指紋識(shí)別的準(zhǔn)確度的下降。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種光學(xué)式檢測(cè)裝置，可以提高指紋識(shí)別的準(zhǔn)確度。

本發(fā)明的光學(xué)式檢測(cè)裝置包括感測(cè)元件陣列、光學(xué)膜層、驅(qū)動(dòng)器以及控制器。感測(cè)元件陣列用以檢測(cè)一碰觸動(dòng)作。光學(xué)膜層覆蓋感測(cè)元件陣列，用以接收碰觸動(dòng)作，且依據(jù)碰觸動(dòng)作產(chǎn)生檢測(cè)影像。驅(qū)動(dòng)器耦接光學(xué)膜層。控制器耦接驅(qū)動(dòng)器以及感測(cè)元件陣列，依據(jù)碰觸動(dòng)作來產(chǎn)生觸發(fā)信號(hào)，其中，驅(qū)動(dòng)器使光學(xué)膜層在初始時(shí)間區(qū)間依據(jù)觸發(fā)事件被點(diǎn)亮，在初始時(shí)間區(qū)間后之間隔時(shí)間區(qū)間，驅(qū)動(dòng)器使光學(xué)膜層停止被點(diǎn)亮，并在間隔時(shí)間區(qū)間后的檢測(cè)時(shí)間區(qū)間，驅(qū)動(dòng)器再度點(diǎn)亮光學(xué)膜層。其中，控制器并在檢測(cè)時(shí)間區(qū)間進(jìn)行檢測(cè)影像的識(shí)別動(dòng)作。

本發(fā)明的光學(xué)式檢測(cè)方法包括提供感測(cè)元件陣列以檢測(cè)碰觸動(dòng)作；提供光學(xué)膜層以接收碰觸動(dòng)作，且依據(jù)碰觸動(dòng)作產(chǎn)生檢測(cè)影像；依據(jù)碰觸動(dòng)作來產(chǎn)生觸發(fā)信號(hào)；使光學(xué)膜層在初始時(shí)間區(qū)間依據(jù)觸發(fā)事件被點(diǎn)亮，在初始時(shí)間區(qū)間后的間隔時(shí)間區(qū)間，使光學(xué)膜層停止被點(diǎn)亮，并在間隔時(shí)間區(qū)間后的檢測(cè)時(shí)間區(qū)間再度點(diǎn)亮光學(xué)膜層；在檢測(cè)時(shí)間區(qū)間進(jìn)行檢測(cè)影像的識(shí)別動(dòng)作。

基于上述，本發(fā)明的光學(xué)式檢測(cè)裝置可以利用控制器來判斷感測(cè)元件陣列所檢測(cè)到的碰觸動(dòng)作是否被發(fā)生，若控制器判斷使用者通過觸控媒介(例如是手指)對(duì)光學(xué)膜層發(fā)生觸發(fā)事件時(shí)，控制器可以依據(jù)感測(cè)元件陣列所輸出的感測(cè)值來傳送觸發(fā)信號(hào)至驅(qū)動(dòng)器，并且驅(qū)動(dòng)器可以依據(jù)觸發(fā)信號(hào)來決定是否產(chǎn)生電源電壓至光學(xué)膜層以點(diǎn)亮或停止點(diǎn)亮光學(xué)膜層。如此一來，本發(fā)明可以有效地降低檢測(cè)影像在被點(diǎn)亮前/后時(shí)所產(chǎn)生的暗電流，進(jìn)而降低檢測(cè)影像被點(diǎn)亮前與被點(diǎn)亮后的暗電流的差值，以達(dá)到高品質(zhì)的影像畫面的效果。

為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合附圖說明書附圖作詳細(xì)說明如下。

附圖說明

圖1A至圖1C是現(xiàn)有的指紋識(shí)別器的操作過程的示意圖。

圖2是依照本發(fā)明的一實(shí)施例說明一種光學(xué)式檢測(cè)裝置的示意圖。