[發(fā)明專利]表面波等離子體加工設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810876914.2 | 申請日: | 2018-08-03 |
| 公開(公告)號: | CN110797250B | 公開(公告)日: | 2022-12-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王桂濱;韋剛 | 申請(專利權(quán))人: | 北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司 |
| 主分類號: | H01J37/32 | 分類號: | H01J37/32 |
| 代理公司: | 北京天昊聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;張?zhí)焓?/td> |
| 地址: | 100176 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 表面波 等離子體 加工 設(shè)備 | ||
本發(fā)明提供一種表面波等離子體加工設(shè)備,包括反應(yīng)腔室和設(shè)置在反應(yīng)腔室頂部的諧振腔,諧振腔的底壁設(shè)置有介質(zhì)窗,還包括介質(zhì)板,介質(zhì)板設(shè)置于諧振腔的底壁的下方,其中,介質(zhì)板在諧振腔的底壁上的正投影遮擋至少部分介質(zhì)窗以及至少部分介質(zhì)窗以外的區(qū)域。本發(fā)明提供的表面波等離子體加工設(shè)備能夠使反應(yīng)腔室中的等離子體的密度分布更加均勻,從而提高刻蝕均勻性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體工藝設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,具體地,涉及一種表面波等離子體加工設(shè)備。
背景技術(shù)
目前,隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展,尤其是國際主流集成電路(IC)制造工藝已進(jìn)入14nm甚至10nm時代,對于等離子體源的性能要求也隨之提高,而表面波等離子體(SWP)源與傳統(tǒng)等離子體源相比具有諸多優(yōu)點,如能產(chǎn)生高等離子體密度,具有低電子溫度和低損傷的特點,并且無需外加磁場,結(jié)構(gòu)簡單,反應(yīng)腔室中無需引入電極,減少污染,因此,表面波等離子體(SWP)源設(shè)備是半導(dǎo)體設(shè)備制造商的理想選擇。
現(xiàn)有技術(shù)中,表面波等離子體源設(shè)備包括諧振腔,多個石英窗和反應(yīng)腔室,其中,諧振腔設(shè)置在反應(yīng)腔室上,多個石英窗均勻分布在諧振腔底壁的固定孔中,微波能量自外部發(fā)生裝置饋入諧振腔,并通過多個石英窗耦合進(jìn)入反應(yīng)腔室產(chǎn)生等離子體。
但是,由于表面波產(chǎn)生于石英窗與其下方形成的等離子體之間的交界面上,導(dǎo)致高密度表面波等離子體集中在石英窗口下方的區(qū)域,而其它區(qū)域只能依賴等離子體的自由擴(kuò)散,使等離子體的密度在反應(yīng)腔室中分布不均勻,這就必然會影響到刻蝕均勻性。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一,提出了一種表面波等離子體加工設(shè)備,其能夠使反應(yīng)腔室中的等離子體的密度分布更加均勻,從而提高刻蝕均勻性。
為實現(xiàn)本發(fā)明的目的而提供一種表面波等離子體加工設(shè)備,包括反應(yīng)腔室和設(shè)置在所述反應(yīng)腔室頂部的諧振腔,所述諧振腔的底壁設(shè)置有介質(zhì)窗,還包括介質(zhì)板,所述介質(zhì)板設(shè)置于所述諧振腔的底壁的下方,其中,所述介質(zhì)板在所述諧振腔的底壁上的正投影遮擋至少部分所述介質(zhì)窗以及至少部分所述介質(zhì)窗以外的區(qū)域。
優(yōu)選的,所述介質(zhì)板采用能夠?qū)⑽⒉詈现了龇磻?yīng)腔室中的介質(zhì)材料制作。
優(yōu)選的,所述介質(zhì)板采用石英或者陶瓷材料制作。
優(yōu)選的,所述介質(zhì)板設(shè)置有貫穿其厚度的通孔。
優(yōu)選的,所述通孔的內(nèi)徑的取值范圍為30mm-100mm。
優(yōu)選的,所述介質(zhì)板在所述諧振腔的底壁上的正投影遮擋全部所述介質(zhì)窗。
優(yōu)選的,所述介質(zhì)板在所述諧振腔的底壁上的正投影還遮擋全部所述介質(zhì)窗以外的區(qū)域;
所述通孔位于所述介質(zhì)板的中心。
優(yōu)選的,所述通孔在所述諧振腔的底壁上的正投影位于所述介質(zhì)窗所在區(qū)域和/或所述介質(zhì)窗以外的區(qū)域。
優(yōu)選的,所述介質(zhì)板平行于所述諧振腔的底壁設(shè)置;且所述介質(zhì)板與所述介質(zhì)窗之間的間隙小于或者等于0.5mm。
優(yōu)選的,所述介質(zhì)板的厚度的取值范圍為3mm-20mm。
本發(fā)明具有以下有益效果:
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