[發(fā)明專利]FD-SOI器件校正電路及其方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810874429.1
• 申請日: 2018-08-02
• 公開（公告）號: CN110798197A
• 公開（公告）日: 2020-02-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳曉雷;郭胤;周海天
• 申請（專利權(quán)）人: 恩智浦美國有限公司
• 主分類號: H03K19/003
• 分類號: H03K19/003
• 代理公司: 11021 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 楊靜

1.一種用于體偏置的校正電路，其特征在于，包括：

相位檢測器，具有配置為從環(huán)形振蕩器接收振蕩信號的輸入端，相位檢測器配置為提供表示振蕩信號和參考信號之間的相位差的輸出信號；

第一電壓發(fā)生器，配置為使用相位檢測器的輸出信號而產(chǎn)生第一參考電壓；

第一電壓調(diào)節(jié)器，接收第一參考電壓并使用第一參考電壓而產(chǎn)生第一經(jīng)調(diào)節(jié)電壓，以作為第一偏置電壓；

第二電壓發(fā)生器，配置為使用第一參考電壓而產(chǎn)生第二參考電壓；

第二電壓調(diào)節(jié)器，接收第二參考電壓并使用第二參考電壓而產(chǎn)生第二經(jīng)調(diào)節(jié)電壓，以作為第二偏置電壓。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校正電路，其特征在于：相位檢測器包括第一輸出端和第二輸出端，其中：

第一輸出端的第一輸出信號表示振蕩信號的頻率高于參考信號的頻率；以及

第二輸出端的第二輸出信號表示振蕩信號的頻率低于參考信號的頻率。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的校正電路，其特征在于：進(jìn)一步包括補(bǔ)償電路，耦接在第一電壓發(fā)生器和第一電壓調(diào)節(jié)器之間。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的校正電路，其特征在于，補(bǔ)償電路包括：

第一晶體管，與供電電壓相耦接；

第二晶體管，與供電電壓相耦接；

第三晶體管，耦接在第一晶體管與地之間；

第四晶體管，耦接在第二晶體管與地之間；以及

電容器，耦接在第一、第三晶體管之間的節(jié)點(diǎn)和第二、第四晶體管之間的節(jié)點(diǎn)之間。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的校正電路，其特征在于：第一晶體管、第二晶體管耦接為電流源。

6.一種校正環(huán)形振蕩器的體偏置的方法，其特征在于：環(huán)形振蕩器包括多個晶體管，該方法包括：

由相位檢測器檢測環(huán)形振蕩器的振蕩信號與參考信號之間的相位差，并提供表示相位差的相位檢測器輸出信號；

由第一電壓發(fā)生器使用相位檢測器輸出信號而產(chǎn)生第一參考電壓；

由第一電壓調(diào)節(jié)器使用第一參考電壓而產(chǎn)生第一經(jīng)調(diào)節(jié)電壓以作為第一偏置電壓；

由第二電壓發(fā)生器使用第一參考電壓而產(chǎn)生第二參考電壓；

由第二電壓調(diào)節(jié)器使用第二參考電壓而產(chǎn)生第二經(jīng)調(diào)節(jié)電壓以作為第二偏置電壓。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，檢測相位差并提供相位檢測器輸出信號包括：

在相位檢測器的第一輸出端提供第一輸出信號，其表示振蕩信號的頻率高于參考信號的頻率；以及

在相位檢測器的第二輸出端提供第二輸出信號，其表示振蕩信號的頻率低于參考信號的頻率。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，進(jìn)一步包括：在第一電壓發(fā)生器和第一電壓調(diào)節(jié)器之間耦接補(bǔ)償電路。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，耦接補(bǔ)償電路包括：

將第一晶體管與供電電壓相耦接；

將第二晶體管與供電電壓相耦接；

將第三晶體管耦接在第一晶體管與地之間；

將第四晶體管耦接在第二晶體管與地之間；以及

將電容器耦接在第一、第三晶體管之間的節(jié)點(diǎn)和第二、第四晶體管之間的節(jié)點(diǎn)之間。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，進(jìn)一步包括：將第一晶體管、第二晶體管耦接為電流源。