[發(fā)明專(zhuān)利]高測(cè)試效率的通用模組測(cè)試裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810874413.0
• 申請(qǐng)日: 2017-08-04
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN109490745A
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-03-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張成;王麗;位賢龍;陳松;姚燕杰
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 江蘇凱爾生物識(shí)別科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 北京科億知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11350
• 代理人: 湯東鳳

1.一種高測(cè)試效率的通用模組測(cè)試裝置，其特征在于：包括：基座（10），所述基座（10）上連接有至少一組指紋模組測(cè)試組件；其中，所述指紋模組測(cè)試組件包括：

夾具（20），所述夾具（20）用于固定指紋模組，并與其固定的所述指紋模組電連接；

測(cè)試壓頭（30），所述測(cè)試壓頭（30）設(shè)置于所述夾具（20）的上方，并用于對(duì)所述夾具（20）固定的所述指紋模組進(jìn)行測(cè)試；以及

調(diào)節(jié)裝置（60），所述調(diào)節(jié)裝置（60）與所述夾具（20）連接，并用于調(diào)節(jié)所述夾具（20）的位置，使所述夾具（20）固定的所述指紋模組與所述測(cè)試壓頭（30）上下對(duì)應(yīng)；

所述基座（10）上還連接有用于驅(qū)動(dòng)各所述測(cè)試壓頭（30）共同沿Z軸方向上下移動(dòng)的Z軸驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)（50）；

每組所述指紋模組測(cè)試組件還包括壓力調(diào)節(jié)裝置（40），所述壓力調(diào)節(jié)裝置（40）與所述測(cè)試壓頭（30）連接，并用于調(diào)節(jié)所述測(cè)試壓頭（30）向?qū)?yīng)的所述指紋模組施加的壓力；

所述調(diào)節(jié)裝置（60）包括：頂面承載有所述夾具（20）的承載板（61）；

依次滑動(dòng)連接于所述承載板（61）的底面的兩個(gè)滑臺(tái)（62），兩個(gè)滑臺(tái)（62）的頂面均連接有第二滑軌（621），且一個(gè)所述第二滑軌（621）沿X軸方向設(shè)置，另一個(gè)所述第二滑軌（621）沿Y軸方向設(shè)置；

第一調(diào)節(jié)構(gòu)件，所述第一調(diào)節(jié)構(gòu)件與位于上方的所述滑臺(tái)（62）連接，并用于驅(qū)動(dòng)所述承載板（61）相對(duì)該滑臺(tái)（62）滑動(dòng)；

第二調(diào)節(jié)構(gòu)件，所述第二調(diào)節(jié)構(gòu)件與位于下方的所述滑臺(tái)（62）連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高測(cè)試效率的通用模組測(cè)試裝置，其特征在于：所述基座（10）上并排設(shè)置有四組所述指紋模組測(cè)試組件。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高測(cè)試效率的通用模組測(cè)試裝置，其特征在于：用于驅(qū)動(dòng)位于上方的所述滑臺(tái)（62）及所述承載板（61）相對(duì)位于下方的所述滑臺(tái)（62）同時(shí)滑動(dòng)。