[發(fā)明專利]一種圖案化金屬薄膜的制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810874210.1 | 申請日: | 2018-08-03 |
| 公開(公告)號: | CN109179312B | 公開(公告)日: | 2019-09-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王清;鄭旭;欒金津;王寧 | 申請(專利權(quán))人: | 山東科技大學 |
| 主分類號: | G03F7/00 | 分類號: | G03F7/00;B81C1/00;C23C14/16;C23C14/24;C23C14/58 |
| 代理公司: | 青島智地領(lǐng)創(chuàng)專利代理有限公司 37252 | 代理人: | 邵朋程 |
| 地址: | 266590 山東省青島*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 制備過程 紫外光膠 硅基片 制備 圖案化金屬薄膜 金屬薄膜 圖案化 固化 金屬薄膜表面 真空蒸鍍技術(shù) 金屬銀薄膜 聚合物薄膜 表面轉(zhuǎn)移 光刻技術(shù) 化學廢料 化學試劑 人員操作 樣品表面 表面鍍 可控性 未固化 顯影液 預聚物 負壓 旋涂 去除 裸露 剝離 垂直 環(huán)保 健康 | ||
本發(fā)明公開了一種圖案化金屬薄膜的制備方法,包括以下步驟:(1)使用真空蒸鍍技術(shù)在硅基片表面鍍一層金屬薄膜;(2)在金屬薄膜表面旋涂一層紫外光膠;(3)使用光刻技術(shù)使紫外光膠固化,然后使用顯影液去除未固化的紫外光膠;(4)將預聚物倒在樣品表面,在負壓的條件下使其固化并與裸露的金屬薄膜緊密的結(jié)合在一起;(5)將聚合物薄膜從硅基片上垂直剝離,使圖案化的金屬銀薄膜從硅基片表面轉(zhuǎn)移到PDMS薄膜表面。本發(fā)明可提高制備過程的可控性,提高圖案化的精度,使制備過程簡單易行;減少化學試劑的使用,減少化學廢料的產(chǎn)生,使制備過程更加環(huán)保,實驗人員操作環(huán)境更加健康;減少制備所需的試劑,使成本降低。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及應(yīng)變傳感材料領(lǐng)域,具體地說是涉及一種圖案化金屬薄膜的制備方法。
背景技術(shù)
應(yīng)變傳感器已應(yīng)用到許多工業(yè)系統(tǒng)中,如觸摸屏、真空儀器的氣壓監(jiān)視器和飛機的大氣壓監(jiān)視器等,所有這些都需要能夠感知壓力產(chǎn)生應(yīng)變并將其轉(zhuǎn)換成電信號。并且,應(yīng)變傳感器已擴展應(yīng)用到可穿戴電子設(shè)備和生物醫(yī)學設(shè)備,推進了可穿戴、生物相容和可植入設(shè)備的發(fā)展。
而在這些應(yīng)用中,大都采用無彈性的應(yīng)變傳感材料,這種傳感材料即使在其表面施加很高的壓力,材料的應(yīng)變也很小進而使傳感系統(tǒng)敏感度不足。此外,使用層間堆疊粘合材料使應(yīng)變材料厚度較大,進一步降低了傳感的靈敏度。為了提高傳感系統(tǒng)敏感度,目前,應(yīng)變傳感材料逐漸采用圖案化金屬薄膜。
現(xiàn)有的圖案化金屬薄膜的制備方法為濕法刻蝕法,而這種方法需要進行兩次濕法刻蝕完成金屬薄膜的圖案化,制備過程不僅繁瑣可控性低,容易出現(xiàn)圖案缺陷,而且產(chǎn)生較多化學廢料不利于環(huán)保。下面對現(xiàn)有濕法刻蝕法的工藝步驟以及其存在的問題進行較為系統(tǒng)的說明。
現(xiàn)有濕法刻蝕法制備圖案化金屬薄膜的步驟如下:
(1)在聚酰亞胺薄膜(PI)旋涂銀納米線,然后加熱處理使溶液蒸發(fā),在PI表面留下一層金屬銀薄膜;
(2)在金屬銀薄膜表面旋涂一層紫外光膠(AZ GX-601);
(3)使用光刻系統(tǒng),導入要制備的圖案作為掩模板,然后在紫外光的照射下使紫外光膠固化,之后使用顯影液(化學試劑,弱堿溶液)洗掉未固化的紫外膠,得到與掩模板相同的圖案(即固化紫外膠的圖案);
(4)使用鉻刻蝕劑(化學試劑,酸性溶液)刻蝕掉裸露的金屬銀薄膜和固化的紫外光膠,得到圖案化的金屬銀薄膜;
(5)在表面旋涂一層聚合物薄膜(這里選擇性很多,如PDMS、PVA),并使之固化;
(6)通過轉(zhuǎn)移,得到圖案化的金屬銀薄膜。
顯然,這是一個純化學法制備圖案化金屬薄膜的方法,需要進行兩次濕法刻蝕,得到圖案化的金屬銀薄膜。
該方法所存在的缺點系統(tǒng)闡述如下:
(1)在濕法刻蝕過程中,“使用鉻刻蝕劑(化學試劑,酸性溶液)刻蝕掉裸露的金屬銀薄膜和固化的紫外光膠”,是對固化的紫外光膠和金屬銀薄膜進行同步刻蝕,但是同種刻蝕劑對不同材料的刻蝕速率是不同的,兩層薄膜的厚度對是否能夠成功刻蝕也有很大影響,在刻蝕過程需要嚴格控制刻蝕劑的溶度和反應(yīng)時間。因此使金屬薄膜的圖案化過程可控性低,圖案精度難以控制,容易產(chǎn)生圖案缺陷,而且隨著特征尺寸的減小,誤差會越來越大,因此極容易產(chǎn)生圖案缺陷。
如圖1所示,圖案缺陷可以分成以下四種情況:情況一(圖1a):紫外光膠被完全刻蝕,金屬薄膜未完全刻蝕,轉(zhuǎn)移金屬薄膜后,表面薄膜相連無法形成圖案;情況二(圖1b):紫外光膠未被完全刻蝕,金屬薄膜被完全刻蝕,轉(zhuǎn)移金屬薄膜后,基底和金屬薄膜之間會有光膠殘留,影響其性能;情況三(圖1c):過度刻蝕,如果金屬薄膜和紫外光膠被刻蝕完全后,繼續(xù)進行刻蝕,刻蝕劑會像兩邊擴散,使圖案破壞;情況四(圖1d):如果紫外光膠被刻蝕完全后,直接停止刻蝕,可能金屬薄膜會出現(xiàn)未完全刻蝕現(xiàn)象,同樣會影響圖案質(zhì)量。
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