[發(fā)明專利]一種顯示屏的圖像采集機(jī)構(gòu)和系統(tǒng)

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810869664.X
• 申請(qǐng)日: 2018-08-02
• 公開（公告）號(hào): CN108872251A
• 公開（公告）日: 2018-11-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王曉光;紀(jì)澤;田永軍;杜春紅
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京兆維科技開發(fā)有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/88
• 分類號(hào): G01N21/88
• 代理公司: 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11212
• 代理人: 吳瓊

本發(fā)明涉及一種顯示屏的圖像采集機(jī)構(gòu)和系統(tǒng)，顯示屏包括依次連接的顯示屏本體、COF膜和PCB板,COF膜通過(guò)UV膠與顯示屏本體的正面的一側(cè)固定；圖像采集機(jī)構(gòu)包括：反面檢測(cè)組件，用于對(duì)顯示屏本體的反面進(jìn)行圖像采集；顯示屏本體檢測(cè)組件，用于對(duì)顯示屏本體的正面進(jìn)行圖像采集；PCB檢測(cè)組件，用于對(duì)PCB板的正面進(jìn)行圖像采集；COF檢測(cè)組件，用于對(duì)COF膜的正面和UV膠進(jìn)行圖像采集；安裝支架，反面檢測(cè)組件、顯示屏本體檢測(cè)組件、PCB檢測(cè)組件和COF檢測(cè)組件均分別安裝在安裝支架上，本發(fā)明本發(fā)明將各類缺陷類型分成不同區(qū)域，由各個(gè)區(qū)域的檢測(cè)組件單獨(dú)采集并行處理，可以將各種類型的缺陷都充分采集到，提高檢測(cè)的精度。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及機(jī)器視覺檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種顯示屏的圖像采集機(jī)構(gòu)和系統(tǒng)。

背景技術(shù)

TFT-LCD液晶顯示屏的工藝制程包含很多貼附工作，比如TFT基板與CF基板的貼合，偏光片與玻璃基底的貼合等等，在此過(guò)程中會(huì)有異物夾雜在其中，形成各類異物、臟污缺陷；在玻璃切割、摩擦干燥、真空吸附等過(guò)程中，有可能會(huì)造成劃痕、壓痕等物理缺陷；COF與玻璃的貼附依賴UV膠固合，UV膠由點(diǎn)膠機(jī)進(jìn)行排列，點(diǎn)膠過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)斷膠等涂覆不良現(xiàn)象；PCB基板上的電元器件貼片有出現(xiàn)缺失或虛焊問(wèn)題。

以上的問(wèn)題都會(huì)導(dǎo)致各種各樣的缺陷，其中大部分缺陷可由終端的外觀檢測(cè)所檢出，因此在自動(dòng)化產(chǎn)線上實(shí)現(xiàn)機(jī)器視覺檢測(cè)將會(huì)極大提升工廠產(chǎn)能，現(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)顯示屏外觀進(jìn)行視覺檢測(cè)時(shí)，所有的缺陷都是由同一個(gè)光源和相機(jī)進(jìn)行圖像采集，有些缺陷能被完全照亮而被采集到，而有些缺陷在該光源下不能被很好的照亮，不能完全被相機(jī)采集到，使得整體的檢測(cè)精度受限。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種顯示屏的圖像采集機(jī)構(gòu)和系統(tǒng)，特別是適用于大尺寸顯示屏外觀檢測(cè)，可以實(shí)現(xiàn)大尺寸屏外觀檢測(cè)的所有類型缺陷圖像的采集，以解決上述技術(shù)問(wèn)題的至少一種。

一方面，本發(fā)明解決上述技術(shù)問(wèn)題的技術(shù)方案如下：一種顯示屏的圖像采集機(jī)構(gòu)，用于對(duì)經(jīng)過(guò)所述圖像采集機(jī)構(gòu)的顯示屏進(jìn)行圖像采集，所述顯示屏包括依次連接的顯示屏本體、COF膜和PCB板,所述COF膜通過(guò)UV膠與所述顯示屏本體固定連接；所述圖像采集機(jī)構(gòu)包括：

反面檢測(cè)組件，用于對(duì)顯示屏本體的反面進(jìn)行圖像采集；

顯示屏本體檢測(cè)組件，用于對(duì)顯示屏本體的正面進(jìn)行圖像采集；

PCB檢測(cè)組件，用于對(duì)PCB板的正面進(jìn)行圖像采集；

COF檢測(cè)組件，用于對(duì)COF膜的正面和UV膠進(jìn)行圖像采集；

反面安裝支架，所述反面檢測(cè)組件安裝在所述反面安裝支架上；

正面安裝支架，所述顯示屏本體檢測(cè)組件、PCB檢測(cè)組件和COF檢測(cè)組件均安裝在所述正面安裝支架上。

本發(fā)明的有益效果是：顯示屏本體、COF膜、UV膠和PCB板各自的缺陷類型不同，將具有不同缺陷類型的各區(qū)域進(jìn)行劃分，本發(fā)明通過(guò)不同的圖像采集組件分別進(jìn)行圖像采集，通過(guò)顯示屏本體檢測(cè)組件、PCB檢測(cè)組件、COF檢測(cè)組件和反面檢測(cè)組件分別對(duì)顯示屏本體的正面、PCB板的正面、COF膜的正面和顯示屏本體的反面進(jìn)行圖像采集，本發(fā)明將各類缺陷類型分成不同區(qū)域，由各個(gè)區(qū)域的檢測(cè)組件單獨(dú)采集并行處理，本發(fā)明針對(duì)不同缺陷類型的區(qū)域采用單獨(dú)的圖像采集，可以將各種類型的缺陷都充分采集到，提高檢測(cè)的精度，同時(shí)圖像采集機(jī)構(gòu)可將圖像信息獨(dú)立上傳保存至處理器，使得待檢測(cè)顯示屏快速通過(guò)檢測(cè)位置點(diǎn)時(shí)，短時(shí)間內(nèi)將顯示屏各個(gè)重點(diǎn)檢測(cè)區(qū)域的圖像采集到并交由圖像算法處理，相應(yīng)的可實(shí)現(xiàn)各類檢測(cè)算法的分離，可有效降低算法處理的整體時(shí)間；在自動(dòng)化設(shè)備產(chǎn)線內(nèi)，待檢顯示屏在通過(guò)外觀檢測(cè)環(huán)節(jié)過(guò)程中，無(wú)需停頓，直接上傳算法處理結(jié)果。本發(fā)明將大大縮短模組終端外觀檢測(cè)環(huán)節(jié)所消耗的時(shí)間，間接提升整條產(chǎn)線的產(chǎn)能，本發(fā)明適用于當(dāng)前各廠家自動(dòng)化設(shè)備生產(chǎn)線中，安裝方便簡(jiǎn)易，且可在外觀檢測(cè)環(huán)節(jié)不間斷地運(yùn)行并上報(bào)判斷結(jié)果，顯著提升產(chǎn)能。