[發明專利]具有非侵入式自測試的處理器

在審

• 申請號: 201810862842.6
• 申請日: 2018-08-01
• 公開（公告）號: CN109388516A
• 公開（公告）日: 2019-02-26
• 發明（設計）人: V·納塔拉詹;K·拉賈瑪卡姆
• 申請（專利權）人: 德州儀器公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10;G06F11/22
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287
• 代理人: 林斯凱

本申請案涉及一種具有非侵入式自測試的處理器。一種處理器(100)包含中央處理單元CPU(102)和診斷監測電路(112)。所述診斷監測電路(112)耦合到所述CPU(102)。所述診斷監測電路(112)包含監測和循環冗余檢查CRC計算單元(106)。所述監測和CRC計算單元(106)被配置成檢測所述CPU(102)對診斷程序的執行，以及計算多個CRC值。在所述CPU(102)執行所述診斷程序時，所述CRC值中的每一個對應于從所述CPU(102)的給定寄存器或從將所述CPU(102)耦合到存儲器和外圍子系統(108)的總線檢索的處理器值。

相關申請案

本申請案主張2017年8月3日提交的印度臨時申請案第201741027612號的優先權，所述臨時申請案以引用的方式并入本文中。

技術領域

本申請案涉及一種具有非侵入式自測試的處理器。

背景技術

微處理器、微控制器和類似電子裝置用于各種應用中。各種狀況和事件可致使此類裝置失效，從而不利地影響裝置操作。當發生失效的裝置正在執行影響用戶安全的關鍵任務的過程時，此類失效的后果通常是會造成更顯著影響。為確保此類應用正確操作，連續評估裝置的操作條件。所述裝置可包含支持操作連續評估的自測試特征。

發明內容

本文中公開用于監測處理器操作的設備和方法。在一個實例中，一種處理器包含中央處理單元(CPU)和診斷監測電路。所述診斷監測電路耦合到CPU。所述診斷監測電路包含監測和循環冗余檢查(CRC)計算單元。所述監測和CRC計算單元被配置成檢測所述CPU對診斷程序的執行，以及計算多個CRC值。在所述CPU執行診斷程序時，CRC值中的每一個對應于從所述CPU的給定寄存器或從將所述CPU耦合到存儲器和外圍子系統的總線檢索的處理器值。CRC值中的每一個對應于CPU的各個方面，例如寄存器、存儲器總線或在診斷程序的執行期間的內部狀態。

在另一實例中，處理器診斷電路包含診斷監測電路。所述診斷監測電路包含監測和循環冗余檢查(CRC)計算單元。所述監測和CRC計算單元被配置成檢測中央處理單元(CPU)對診斷程序的執行，以及計算多個CRC值。在所述CPU執行診斷程序時，CRC值中的每一個對應于從所述CPU的給定寄存器或從將所述CPU耦合到存儲器和外圍子系統的總線檢索的處理器值。CRC值中的每一個對應于CPU的各個方面，例如寄存器、存儲器總線或在診斷程序的執行期間的內部狀態。

在另一實例中，用于監測處理器健康狀態的方法包含通過處理器在不連續處理器空閑時間間隔期間執行診斷程序的指令。所述方法還包含通過診斷監測電路檢測所述不連續空閑時間間隔中的所述診斷程序的執行。所述方法另外包含計算多個循環冗余檢查CRC值，在所述處理器的中央處理單元(CPU)執行所述診斷程序時，CRC值中的每一個對應于從所述CPU的給定寄存器檢索的處理器值。

附圖說明

為了詳細描述各種實例，現在參考隨附圖式，在隨附圖式中：

圖1示出根據各種實例的包含非侵入式自測試的處理器的框圖；

圖2示出根據各種實例的用于非侵入式自測試的監測和循環冗余檢查計算單元的框圖；

圖3示出根據各種實例的包含非侵入式自測試的處理器中的自測試執行時間序列的實例；

圖4示出根據各種實例的用于非侵入式自測試的流水線抽取單元的框圖；

圖5示出根據各種實例的用于執行非侵入式自測試的方法的流程圖；和

圖6示出根據各種實例的用于非侵入式自測試的方法的流程圖。

具體實施方式