[發(fā)明專利]一種數(shù)字式電位差計(jì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810853248.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-07-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108802471A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-11-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 戴蒙天;范崢嶸;吳衛(wèi)華;宋金威;陳紅;姜帆;周國(guó)友 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇理工學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | G01R17/20 | 分類號(hào): | G01R17/20 |
| 代理公司: | 常州佰業(yè)騰飛專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 王巍巍 |
| 地址: | 213001 江*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 升壓斬波模塊 電位差計(jì) 數(shù)字式 測(cè)量電壓 供電模塊 顯示模塊 微電流 穩(wěn)壓 測(cè)量精度高 供電 便于攜帶 待測(cè)電壓 工作原理 交互接口 教學(xué)領(lǐng)域 體積小 可用 演示 輸出 學(xué)生 | ||
本發(fā)明提供一種數(shù)字式電位差計(jì),穩(wěn)壓12V供電模塊與Boost升壓斬波模塊相連為Boost升壓斬波模塊供電,穩(wěn)壓5V供電模塊與MCU控制模塊相連為MCU控制模塊供電;Boost升壓斬波模塊通過(guò)A/D采樣與MCU控制模塊相連,MCU控制模塊通過(guò)PWM波控制Boost升壓斬波模塊;Boost升壓斬波模塊的輸出與微電流顯示模塊相連,微電流顯示模塊還與待測(cè)電壓相連;MCU控制模塊還與交互接口相連。本發(fā)明測(cè)量電壓范圍寬、測(cè)量電壓值相對(duì)較大、測(cè)量精度高;體積小,便于攜帶,可用于教學(xué)領(lǐng)域,方便向?qū)W生演示電位差計(jì)的工作原理。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)儀器技術(shù)領(lǐng)域,更具體地指一種基于Boost電路和MCU控制的精準(zhǔn)數(shù)字式電位差計(jì)。
背景技術(shù)
在本科大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)課程中,電位差計(jì)的使用是一個(gè)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn),電位差計(jì)分為交流和直流兩種,在生產(chǎn)和科研中廣泛使用。例如生產(chǎn)半導(dǎo)體材料和元件時(shí),常用鉑—鉑銠合金組成的溫差電偶測(cè)量爐溫,而溫差電動(dòng)勢(shì)的變化只有幾微伏到幾十毫伏,不宜用電壓表測(cè)量,一般都要用電位差計(jì)。電位差計(jì)還被用來(lái)準(zhǔn)確測(cè)量電流和電阻。交流電位差計(jì)可用于磁性測(cè)量。
圖1為傳統(tǒng)電位差計(jì)電路原理圖,現(xiàn)有的大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)室中普遍使用的電位差計(jì)測(cè)量過(guò)程比較煩瑣,工作時(shí)間比較長(zhǎng),工作電流容易變化,易影響測(cè)量結(jié)果,因此每次使用都采用校準(zhǔn)和測(cè)量?jī)蓚€(gè)步驟。
現(xiàn)有電位差計(jì)存在以下缺點(diǎn):1)飽和標(biāo)準(zhǔn)電池輸出電勢(shì)與環(huán)境溫度相關(guān),從而影響電位差計(jì)測(cè)量精度;2)電源工作電壓范圍太窄只有5.7-6.4V;3)測(cè)量電壓值太小為mV量級(jí),且測(cè)量范圍太窄,在0-171mV;4)測(cè)量時(shí)需要實(shí)驗(yàn)者人為讀數(shù);5)機(jī)械式操作容易使得儀器部件損壞;6)現(xiàn)代化和信息化程度不高。
從實(shí)踐化教學(xué)的提出到現(xiàn)在,電子技術(shù)應(yīng)用在實(shí)驗(yàn)教學(xué)的方方面面,在享受電子技術(shù)給生活帶來(lái)便捷的同時(shí),結(jié)合電子技術(shù),設(shè)計(jì)一款電位差計(jì)演示裝置不僅對(duì)本科課堂教學(xué),還是作為新型的大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)演示器材,都具有重要的意義。
(一)解決的技術(shù)問(wèn)題
本發(fā)明目的是針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)電位差計(jì)的缺陷問(wèn)題,提供一種利用Boost電路和MCU控制實(shí)現(xiàn)數(shù)字式電位差計(jì),應(yīng)用Boost電路輸出電壓作為標(biāo)準(zhǔn)電源,將其與待測(cè)電壓進(jìn)行相比較,調(diào)節(jié)Boost電路中開(kāi)關(guān)管PWM波的頻率和占空比,使得微電流檢流計(jì)為零,Boost電路的輸出電壓即是待測(cè)電壓值。
(二)技術(shù)方案
為實(shí)現(xiàn)以上目的,本發(fā)明通過(guò)以下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn):
一種數(shù)字式電位差計(jì),包括穩(wěn)壓12V供電模塊、穩(wěn)壓5V供電模塊、Boost升壓斬波模塊、MCU控制模塊、微電流顯示模塊、待測(cè)電壓、交互接口;穩(wěn)壓12V供電模塊與Boost升壓斬波模塊相連為Boost升壓斬波模塊供電,穩(wěn)壓5V供電模塊與MCU控制模塊相連為MCU控制模塊供電;Boost升壓斬波模塊通過(guò)A/D采樣與MCU控制模塊相連,MCU控制模塊通過(guò)PWM波控制Boost升壓斬波模塊;Boost升壓斬波模塊的輸出與微電流顯示模塊相連,微電流顯示模塊還與待測(cè)電壓相連;MCU控制模塊還與交互接口相連。
進(jìn)一步地,所述待測(cè)電壓與Boost升壓斬波模塊輸出電壓進(jìn)行電壓比較,使Boost升壓斬波模塊輸出電壓跟蹤待測(cè)電壓,實(shí)現(xiàn)待測(cè)電壓的精密測(cè)量。
進(jìn)一步地,所述Boost升壓斬波模塊為可調(diào)電壓輸出,輸出電壓為12.0-25.0V。
進(jìn)一步地,所述待測(cè)電壓的測(cè)量范圍為12.0-25.0V。
進(jìn)一步地,所述交互接口具有按鍵和數(shù)碼管,通過(guò)按鍵控制輸入,MCU控制模塊收到控制信號(hào)后會(huì)將設(shè)定的電壓值顯示在數(shù)碼管上。
進(jìn)一步地,所述MCU為STC89C52。
(三)有益效果
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于江蘇理工學(xué)院,未經(jīng)江蘇理工學(xué)院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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