[發(fā)明專利]一種儀表分塊刻度檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810852786.8 | 申請(qǐng)日: | 2018-07-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109063637B | 公開(公告)日: | 2021-12-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林傳文;鄧宏平;汪俊鋒;程炳權(quán) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 安徽慧視金瞳科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06K9/00 | 分類號(hào): | G06K9/00;G06K9/32 |
| 代理公司: | 合肥洪雷知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 34164 | 代理人: | 徐贛林 |
| 地址: | 230000 安徽省合肥市巢湖市*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 儀表 分塊 刻度 檢測(cè) 方法 | ||
1.一種儀表分塊刻度檢測(cè)方法,其特征在于,包括以下步驟:
S01:得到一張無刻度亮起儀表圖片和一組刻度區(qū)域發(fā)生順序亮起更新的儀表圖片:通過將相機(jī)的位置、視野、焦距調(diào)整至待拍攝的無刻度亮起儀表的正前方進(jìn)行拍攝,并使刻度區(qū)域發(fā)生順序亮起,將拍攝所得的無刻度亮起儀表圖片和一組刻度區(qū)域發(fā)生順序亮起更新的儀表圖片上傳至電腦;
S02:在無刻度亮起儀表圖片中選擇刻度條外框,實(shí)現(xiàn)對(duì)刻度區(qū)域定位:針對(duì)所得的無刻度亮起儀表圖片,利用鼠標(biāo)進(jìn)行人工標(biāo)記關(guān)鍵的標(biāo)記點(diǎn),檢測(cè)出無刻度亮起儀表圖片中刻度條的位置,并提取刻度條;
S03:對(duì)刻度區(qū)域進(jìn)行背景建模:針對(duì)所提取的刻度條,在初次檢測(cè)時(shí),使用無亮起的刻度區(qū)域認(rèn)定為背景,之后在刻度區(qū)域發(fā)生更新時(shí),認(rèn)定刻度區(qū)域發(fā)生更新之前的刻度區(qū)域?yàn)楸尘埃?/p>
S04:對(duì)刻度亮起狀態(tài)進(jìn)行采樣:刻度亮起是依次進(jìn)行的,通過使用對(duì)亮起刻度區(qū)域與背景模型差異檢測(cè),提取刻度亮起狀態(tài);
S05:檢測(cè)刻度亮起狀態(tài),并識(shí)別刻度亮起數(shù)量:根據(jù)不同的儀表圖片中刻度區(qū)域中指向數(shù)值的不同進(jìn)行代入,即可檢測(cè)出刻度所代表的信息,并完成儀表分塊刻度檢測(cè),匯總亮起狀態(tài)的刻度數(shù)量,根據(jù)不同的儀表中指向數(shù)值的不同進(jìn)行代入,即可檢測(cè)出刻度所代表的信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種儀表分塊刻度檢測(cè)方法及,其特征在于,所述步驟S02是通過以下方法實(shí)現(xiàn)的:在所得的無刻度亮起儀表圖片中,針對(duì)刻度條區(qū)域選中其左上角和右下角的頂點(diǎn)進(jìn)行標(biāo)記關(guān)鍵的標(biāo)記點(diǎn),通過兩標(biāo)記點(diǎn)確定一塊矩形區(qū)域,然后使用ROI方法根據(jù)確定的所述矩形區(qū)域在儀表圖像中提取出刻度條的區(qū)域。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種儀表分塊刻度檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟S04中對(duì)刻度亮起狀態(tài)進(jìn)行采樣包括以下分步驟:
S041:得到一組順序亮起更新的儀表圖片;
S042:對(duì)當(dāng)前儀表圖片與背景進(jìn)行差異檢測(cè):將亮起刻度區(qū)域的前景圖像與背景圖像使用Absdiff方法進(jìn)行進(jìn)行逐像素差異檢測(cè),通過步驟S03的背景建模方法實(shí)時(shí)更新背景模型,且控制好刻度亮起的順序以及對(duì)刻度前景圖像實(shí)時(shí)更新;
S043:通過二值化和計(jì)算最大連通域提取出刻度亮起來的前景像素和位置信息:通過二值化,即控制閾值在背景色與刻度前景色之間,過濾掉無關(guān)的信息,并通過計(jì)算最大連通域的方法提取出刻度亮起情況下的區(qū)域和前景信息;
S044:更新背景為當(dāng)前圖片;
S045:判斷后續(xù)是否還有圖片;
若是,則更新當(dāng)前圖片為下一張圖片,并返回至步驟S042進(jìn)行重復(fù);
若否,則結(jié)束,完成對(duì)刻度亮起狀態(tài)的采樣。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種儀表分塊刻度檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟S05中檢測(cè)刻度亮起狀態(tài)包括以下分步驟:
S051:得到待檢測(cè)的已完成刻度亮起狀態(tài)采樣的圖片:根據(jù)步驟S04得到已完成刻度位置信息以及亮起狀態(tài)信息采樣的圖片;
S052:根據(jù)步驟S02獲取的信息確定刻度的總體區(qū)域:首先進(jìn)行刻度位置確定,并重復(fù)步驟S02;
S053:對(duì)當(dāng)前圖片與無刻度亮起來的背景進(jìn)行差異檢測(cè):通過待檢測(cè)的刻度區(qū)域與刻度全部未亮起的背景建模進(jìn)行差異檢測(cè),因?yàn)槭侨课戳疗鸬臓顟B(tài),差異檢測(cè)可以獲取到待檢測(cè)區(qū)域中的全部亮起區(qū)域;
S054:通過步驟S04獲取位置信息提取待檢測(cè)圖片中的刻度區(qū)域,對(duì)采樣信息和步驟S053中得到的所述全部亮起區(qū)域中同一位置的前景像素進(jìn)行相似度檢測(cè);
S055:通過對(duì)比待檢測(cè)圖片中提取的刻度和采樣,獲取得到刻度相似度;
S056:判斷相似度是否大于預(yù)設(shè)值;
若是,則進(jìn)行下一步驟;
若否,則亮起刻度數(shù)量+1;
S057:判斷是否還有采樣數(shù)據(jù)未進(jìn)行比對(duì);
若是,則返回至步驟S054,進(jìn)行重復(fù)操作;
若否,則結(jié)束,完成刻度亮起狀態(tài)檢測(cè)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種儀表分塊刻度檢測(cè)方法及,其特征在于,所述步驟S054中相似度檢測(cè)是通過以下方法實(shí)現(xiàn)的:首先同ROI進(jìn)行區(qū)域提取然后通過使用Opencv中的matchTemplate方法進(jìn)行相似度檢測(cè),最終在最低相似度大于百分之八十的情況下認(rèn)定為該位置的刻度是亮起狀態(tài),否則判定為未亮起狀態(tài)。
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G06K 數(shù)據(jù)識(shí)別;數(shù)據(jù)表示;記錄載體;記錄載體的處理
G06K9-00 用于閱讀或識(shí)別印刷或書寫字符或者用于識(shí)別圖形,例如,指紋的方法或裝置
G06K9-03 .錯(cuò)誤的檢測(cè)或校正,例如,用重復(fù)掃描圖形的方法
G06K9-18 .應(yīng)用具有附加代碼標(biāo)記或含有代碼標(biāo)記的打印字符的,例如,由不同形狀的各個(gè)筆畫組成的,而且每個(gè)筆畫表示不同的代碼值的字符
G06K9-20 .圖像捕獲
G06K9-36 .圖像預(yù)處理,即無須判定關(guān)于圖像的同一性而進(jìn)行的圖像信息處理
G06K9-60 .圖像捕獲和多種預(yù)處理作用的組合
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





