[發明專利]曲面屏觸控性能測試控制方法、裝置及測試系統

在審

• 申請號: 201810848288.6
• 申請日: 2018-07-27
• 公開（公告）號: CN108983001A
• 公開（公告）日: 2018-12-11
• 發明（設計）人: 雷博琳;張德強;胡坤;劉艷玲
• 申請（專利權）人: 昆山國顯光電有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G06F3/041
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 唐清凱

本申請涉及一種曲面屏觸控性能測試控制方法、裝置及測試系統，獲取測試探頭與待測曲面屏的觸碰點的位置信息，根據位置信息識別所述觸碰點對應的坐標信息；根據坐標信息得到對應的軌跡方程，并根據軌跡方程得到預測試路徑；控制測試探頭按照預測試路徑對待測曲面屏進行觸控性能測試。通過在曲面屏上進行選點并得到對應的軌跡方程，以得到曲面屏的預測試路徑，即根據曲面屏的曲面形狀設置對應的預測試路徑，從而可以對曲面屏的所有待測試點進行觸控性能測試，提高測試結果準確度，并且在測試過程中不會破壞曲面屏。此外，通過得到不同的軌跡方程可以得到任意曲面屏或柔性屏的觸控性能測試路徑，從而對任意曲面屏或柔性屏都能進行觸控性能測試。

技術領域

本申請涉及顯示屏技術領域，特別是涉及一種曲面屏觸控性能測試控制方法、裝置及測試系統。

背景技術

隨著顯示屏行業的發展，曲面屏已經越來越廣泛地應用于各類電子設備。曲面屏是一種使用柔性材料制作的顯示屏，目前主要通過OLED(Organic Light-Emitting Diode，有機發光二極管)面板技術來實現。在曲面屏的制作過程中，需要對曲面屏的屏幕觸控性能進行測試，以防止不良產品流入市場。

傳統技術中在進行屏幕觸控性能測試時，都是針對平面的顯示屏進行測試，在進行測試時，通常采用水平、垂直或者斜線方向的測試路徑完成平面顯示屏的觸控性能測試，然而，由于傳統測試路徑都為平面直線路徑，使用傳統測試技術對曲面屏進行屏幕測試時，存在測試結果不準確的問題，甚至有可能對曲面屏造成損壞。

發明內容

基于此，有必要針對傳統屏幕測試技術測試結果不準確以及可能破壞曲面屏的問題，提供一種適用于曲面屏的曲面屏觸控性能測試控制方法、裝置及測試系統。

一種曲面屏觸控性能測試控制方法，包括：

獲取測試探頭與待測曲面屏的觸碰點的位置信息，根據所述位置信息識別所述觸碰點對應的坐標信息；

根據所述坐標信息得到對應的軌跡方程，并根據所述軌跡方程得到預測試路徑；

控制所述測試探頭按照所述預測試路徑對所述待測曲面屏進行觸控性能測試。

一種曲面屏觸控性能測試控制裝置，包括：

坐標獲取模塊，用于獲取測試探頭與所述待測曲面屏的觸碰點的位置信息，根據所述位置信息識別所述觸碰點對應的坐標信息；

路徑規劃模塊，用于根據所述坐標信息得到對應的軌跡方程，并根據所述軌跡方程得到預測試路徑；

測試控制模塊，用于控制所述測試探頭按照所述預測試路徑對所述待測曲面屏進行觸控性能測試。

一種曲面屏觸控性能測試系統，包括觸控測試裝置及上述測試控制裝置，所述觸控測試裝置與所述測試控制裝置通信連接；

所述觸控測試裝置包括固定臺及測試探頭，所述固定臺用于固定待測曲面屏；所述測試探頭用于與所述待測曲面屏進行觸碰以進行觸控性能測試，并將獲取的測試數據發送至所述測試控制裝置。

一種計算機設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，所述處理器執行所述計算機程序時實現以下步驟：

獲取測試探頭與待測曲面屏的觸碰點的位置信息，根據所述位置信息識別所述觸碰點對應的坐標信息；

根據所述坐標信息得到對應的軌跡方程，并根據所述軌跡方程得到預測試路徑；

控制所述測試探頭按照所述預測試路徑對所述待測曲面屏進行觸控性能測試。

一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現以下步驟：

獲取測試探頭與待測曲面屏的觸碰點的位置信息，根據所述位置信息識別所述觸碰點對應的坐標信息；