[發明專利]人臉特征分析方法、裝置、計算機設備和存儲介質

有效

• 申請號: 201810844936.0
• 申請日: 2018-07-27
• 公開（公告）號: CN109086711B
• 公開（公告）日: 2021-11-16
• 發明（設計）人: 羅雄文;高英;沈雄
• 申請（專利權）人: 華南理工大學
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 劉艷麗

本發明涉及一種人臉特征分析方法、系統、計算機設備和存儲介質。所述方法包括：通過在目標人臉圖像上進行整張人臉的五官特征點檢測，確定所述目標人臉圖像中的各五官部分的粗略位置區域；通過在各所述粗略位置區域對應的五官部位圖像上分別進行對應的五官特征點檢測，確定各所述五官部分的精確位置區域；根據各所述精確位置區域進行人臉特征分析，獲得人臉特征信息或者/和統計分析結果。采用本方法能夠提升特征分析結果的準確度。

技術領域

本發明涉及圖像分析技術領域，特別是涉及一種人臉特征分析方法、裝置、計算機設備 和存儲介質。

背景技術

人臉特征分析是人臉識別最為關鍵的過程之一，在對目標人臉圖像進行識別之前，首先 需要分析出圖像中的人臉特征。人臉特征分析的質量，將直接決定人臉識別的效果。

然而，目前的人臉特征分析方式中，在人臉對齊算法中是在人臉尺度上進行五官特征點 檢測，這種方式容易受不相關區域干擾，影響特征分析結果的準確度。

發明內容

基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種能夠提升特征分析結果的準確度的人臉特 征分析方法、裝置、計算機設備和存儲介質。

一種人臉特征分析方法，所述方法包括：通過在目標人臉圖像上進行整張人臉的五官特 征點檢測，確定所述目標人臉圖像中的各五官部分的粗略位置區域；通過在各所述粗略位置 區域對應的五官部位圖像上分別進行對應的五官特征點檢測，確定各所述五官部分的精確位 置區域；根據各所述精確位置區域進行人臉特征分析，獲得人臉特征信息或者/和統計分析結 果。

一種人臉特征分析裝置，所述裝置包括：

第一區域檢測模塊，用于通過在目標人臉圖像上進行整張人臉的五官特征點檢測，確定 所述目標人臉圖像中的各五官部分的粗略位置區域；

第二區域檢測模塊，用于通過在各所述粗略位置區域對應的五官部位圖像上分別進行對 應的五官特征點檢測，確定各所述五官部分的精確位置區域；

特征分析模塊，用于根據各所述精確位置區域進行人臉特征分析，獲得人臉特征信息或 者/和統計分析結果。

一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機 程序，所述處理器執行所述計算機程序時實現以下步驟：通過在目標人臉圖像上進行整張人 臉的五官特征點檢測，確定所述目標人臉圖像中的各五官部分的粗略位置區域；通過在各所 述粗略位置區域對應的五官部位圖像上分別進行對應的五官特征點檢測，確定各所述五官部 分的精確位置區域；根據各所述精確位置區域進行人臉特征分析，獲得人臉特征信息或者/ 和統計分析結果。

一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實 現以下步驟：通過在目標人臉圖像上進行整張人臉的五官特征點檢測，確定所述目標人臉圖 像中的各五官部分的粗略位置區域；通過在各所述粗略位置區域對應的五官部位圖像上分別 進行對應的五官特征點檢測，確定各所述五官部分的精確位置區域；根據各所述精確位置區 域進行人臉特征分析，獲得人臉特征信息或者/和統計分析結果。

上述人臉特征分析方法、裝置、計算機設備和存儲介質，是通過在目標人臉圖像上進行 整張人臉的五官特征點檢測，確定所述目標人臉圖像中的各五官部分的粗略位置區域，通過 在各所述粗略位置區域對應的五官部位圖像上分別進行對應的五官特征點檢測，確定各所述 五官部分的精確位置區域，根據各所述精確位置區域進行人臉特征分析，獲得人臉特征信息 或者/和統計分析結果。該方案中，由于在定位出各五官部分的大致位置(即粗略位置區域) 后，在各粗略位置區域對應的五官部位圖像上進行五官尺度的細粒度特征點檢測，可以進一 步精準確認五官部位所在區域(精確位置區域)，能夠減少不相關區域或噪聲對后續各個五 官部位圖像特征提取的干擾，提升特征分析結果的準確度。

附圖說明

圖1為一個實施例中終端的內部結構示意圖；