[發(fā)明專利]一種抗章動失效衛(wèi)星接觸消旋方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810842396.2 | 申請日: | 2018-07-27 |
| 公開(公告)號: | CN109131941B | 公開(公告)日: | 2020-08-14 |
| 發(fā)明(設計)人: | 段文杰;徐拴鋒;張海博;朱志斌;魏春嶺;何英姿 | 申請(專利權)人: | 北京控制工程研究所 |
| 主分類號: | B64G1/24 | 分類號: | B64G1/24;B64G1/10 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 張曉飛 |
| 地址: | 100080 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 章動 失效 衛(wèi)星 接觸 方法 | ||
本發(fā)明一種抗章動失效衛(wèi)星接觸消旋方法,步驟如下:1)建立下一次消旋所有可能接觸點的集合;2)對每一個接觸點設定離散的自旋角、接近角,建立集合Sarr;3)指定集合Sarr中任意一個元素,設定最大撓度,根據失效衛(wèi)星自旋角速度,接觸點到失效衛(wèi)星質心坐標為,估算接觸時間;4)估算出元素Ci對應的接觸力沖量的大小和方向;5)Ci對應的接觸力矩沖量:6)建立可行集Sprr,將滿足判斷條件的接觸狀態(tài)加入到可行集Sprr中。7)重復步驟4?6,依次評價Sarr中所有元素,完成可行集Sprr;8)選擇可行集Sprr中的元素,選擇可行的接觸點、自旋角和接近角,結合接觸時間對失效衛(wèi)星進行下一次消旋。
技術領域
本發(fā)明涉及抗章動失效衛(wèi)星接觸消旋方法。
背景技術
國內外對空間失效衛(wèi)星的消旋研究處于概念研究階段,提出的方法有離子束消旋法、渦流消旋法、接觸消旋法、磁力矩消旋法等。對比這幾種方法的能耗、實現難度等,接觸式消旋的能耗較小、可實現程度較高。
接觸式消旋一般是將消旋機構安裝到空間在軌服務衛(wèi)星的機械臂末端,機械臂的伸縮以及服務衛(wèi)星的姿態(tài)和位置控制使得消旋機構的柔性部分與失效衛(wèi)星的帆板、天線等突出附件接觸。末端柔性部分彎曲變形產生撓性力,作用在失效衛(wèi)星上。生成的力矩可以分成兩部分,一部分指向自轉軸方向阻礙自轉運動,另一部分垂直于自轉軸方向,使得失效衛(wèi)星角動量方向偏離自轉軸方向,并且在非接觸段產生章動現象。
章動對在軌維護維修過程是非常不利的,會增強衛(wèi)星姿態(tài)估計的難度、減小安全接近區(qū)域,降低抓捕成功的可能性,影響抓捕成功后的組合體控制等。如何在消旋過程中盡量減小章動是迫切需要研究的問題。
發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于克服現有技術的上述不足,提供一種抗章動失效衛(wèi)星接觸消旋方法,該消旋方法通過在每一次消旋之前對接觸點、自旋角和接近角的預估計,提高了抗章動的消旋效果,實現了消旋過程中減小章動、減小角動量方向偏移的效果。
本發(fā)明的技術方案予以實現的:一種抗章動失效衛(wèi)星接觸消旋方法,包括如下步驟:
1)建立下一次消旋所有可能接觸點的集合SP={Pi|i=1......nP};nP為正整數;
2)對每一個接觸點Pi設定離散的自旋角θj、接近角αj,則每個元素表示為Cj=(Pi,θj,αj),并建立集合Sarr={Cj|j=1......nC};nC為正整數;
3)指定集合Sarr中任意一個元素Cj,設定最大撓度umax,根據失效衛(wèi)星自旋角速度ωz以及接觸點到失效衛(wèi)星質心坐標為rPi,估算接觸時間tev;
4)估算元素Ci對應的接觸力沖量的大小和方向;
5)計算得到Cj對應的接觸力矩沖量
6)接觸力矩沖量達到消旋效果判斷條件;
7)建立可行集Sprr,將滿足消旋效果判斷條件的接觸狀態(tài)加入到可行集Sprr中;
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