[發(fā)明專利]多通路設(shè)備射頻通信性能測試系統(tǒng)、測試方法及裝置

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810836730.3
• 申請(qǐng)日: 2018-07-26
• 公開（公告）號(hào): CN109004995A
• 公開（公告）日: 2018-12-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張洲川
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: OPPO廣東移動(dòng)通信有限公司
• 主分類號(hào): H04B17/15
• 分類號(hào): H04B17/15;H04B17/29;H04B7/0413
• 代理公司: 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201
• 代理人: 張潤

1.一種多通路設(shè)備射頻通信性能測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：陪測設(shè)備、信號(hào)衰減設(shè)備、N個(gè)功率分配設(shè)備及測試設(shè)備，其中，N為大于1的正整數(shù)；

所述陪測設(shè)備的每個(gè)射頻通路通過所述信號(hào)衰減設(shè)備，與一個(gè)功率分配設(shè)備的第一輸出端連接；

每個(gè)功率分配設(shè)備的輸入端與待測設(shè)備的每個(gè)射頻通路連接；

所述測試設(shè)備的第一連接端與所述信號(hào)衰減設(shè)備的控制端連接，用于控制所述信號(hào)衰減設(shè)備的衰減值；

所述測試設(shè)備的每個(gè)第二連接端與一個(gè)功率分配設(shè)備的第二輸出端連接，用于測試所述待測設(shè)備的每個(gè)射頻通路在每個(gè)速率模式下的射頻參數(shù)。

2.如權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述陪測設(shè)備中的射頻通路的數(shù)量L，大于或等于待測設(shè)備中射頻通路的數(shù)量M。

3.如權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述信號(hào)衰減設(shè)備，包括：N個(gè)信號(hào)衰減器；

每個(gè)信號(hào)衰減器與每個(gè)功率分配設(shè)備的第一輸出端連接；

所述測試設(shè)備，還用于根據(jù)當(dāng)前待測設(shè)備中包含的射頻通路數(shù)量M，控制所述N個(gè)信號(hào)衰減器的工作狀態(tài)，其中M為小于或等于N的整數(shù)。

4.如權(quán)利要求3所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，

所述測試設(shè)備，具體用于根據(jù)所述待測設(shè)備的屬性信息，調(diào)整N個(gè)信號(hào)衰減器的衰減量，以測試所述待測設(shè)備在不同速率模式下的射頻參數(shù)。

5.如權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試設(shè)備，還用于根據(jù)待測設(shè)備的每個(gè)射頻通路在每個(gè)速率模式下的射頻參數(shù)，確定待調(diào)整的目標(biāo)射頻通路。

6.一種多通路設(shè)備射頻通信性能測試方法，其特征在于，包括：

根據(jù)當(dāng)前待測電子設(shè)備的屬性信息，確定所述待測電子設(shè)備的應(yīng)用環(huán)境信息；

根據(jù)所述待測電子設(shè)備的應(yīng)用環(huán)境信息，確定信號(hào)衰減設(shè)備的目標(biāo)衰減量；

根據(jù)所述目標(biāo)衰減量，調(diào)整所述信號(hào)衰減設(shè)備的衰減量，以獲取所述待測電子設(shè)備在每個(gè)速率模式下的射頻參數(shù)；

根據(jù)所述待測電子設(shè)備在每個(gè)速率模式下的射頻參數(shù)，及與所述待測電子設(shè)備的射頻通路連接的功率分配設(shè)備的分配系數(shù)，確定所述待測電子設(shè)備在每個(gè)速率模式下的射頻性能。

7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述信號(hào)衰減設(shè)備中包括N個(gè)信號(hào)衰減器，其中，N為正整數(shù)；

所述方法還包括：

根據(jù)所述待測電子設(shè)備中包含的射頻通路數(shù)量M，從所述N個(gè)信號(hào)衰減器中選取M個(gè)目標(biāo)信號(hào)衰減器，其中，N大于或等于M。

8.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述確定信號(hào)衰減設(shè)備的目標(biāo)衰減量，包括：

確定M個(gè)目標(biāo)信號(hào)衰減器對(duì)應(yīng)的衰減量組合表；

所述獲取所述待測電子設(shè)備在每個(gè)測試模式下的射頻參數(shù)，包括：

根據(jù)所述衰減量組合表，依次調(diào)整每個(gè)目標(biāo)信號(hào)衰減器的衰減量，以獲取與每個(gè)目標(biāo)信號(hào)衰減器連接的每個(gè)射頻通路在不同速率模式下的射頻參數(shù)。

9.一種多通路設(shè)備射頻通信性能測試裝置，其特征在于，包括：

場景確定模塊，用于根據(jù)當(dāng)前待測電子設(shè)備的屬性信息，確定所述待測電子設(shè)備的應(yīng)用環(huán)境信息；

衰減量確定模塊，用于根據(jù)所述待測電子設(shè)備的應(yīng)用環(huán)境信息，確定信號(hào)衰減設(shè)備的目標(biāo)衰減量；

調(diào)整模塊，用于根據(jù)所述目標(biāo)衰減量，調(diào)整所述信號(hào)衰減設(shè)備的衰減量，以獲取所述待測電子設(shè)備在每個(gè)速率模式下的射頻參數(shù)；

測試模塊，用于根據(jù)所述待測電子設(shè)備在每個(gè)速率模式下的射頻參數(shù)，及與所述待測電子設(shè)備的射頻通路連接的功率分配設(shè)備的分配系數(shù)，確定所述待測電子設(shè)備在每個(gè)速率模式下的射頻性能。

10.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)，實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求6-8中任一項(xiàng)所述的多通路設(shè)備射頻通信性能測試方法。

11.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求6-8中任一項(xiàng)所述的多通路設(shè)備射頻通信性能測試方法。