[發明專利]一種光檢測電路、裝置及方法有效
| 申請號: | 201810836279.5 | 申請日: | 2018-07-26 |
| 公開(公告)號: | CN109115335B | 公開(公告)日: | 2021-07-06 |
| 發明(設計)人: | 劉華波;史程程 | 申請(專利權)人: | 青島大學 |
| 主分類號: | G01J1/42 | 分類號: | G01J1/42;G01J1/44 |
| 代理公司: | 北京青松知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11384 | 代理人: | 鄭青松 |
| 地址: | 266071 山東省青*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 檢測 電路 裝置 方法 | ||
1.一種光檢測裝置,其特征在于,包括:
光檢測電路(1);
壓板(2),其上排布有若干遮光罩(21),每個所述遮光罩(21)對應一個待檢測線路板上的LED指示燈,且所述遮光罩(21)面向所述LED指示燈的一端開口,所述壓板(2)下移至預設檢測位置后,所述遮光罩(21)通過所述開口將其對應的所述LED指示燈罩于其頂面和側面圍成的遮光空間內,所述光檢測電路(1)內置于所述遮光罩(21)的頂面;
控制機構(3),控制所述光檢測電路(1)先于其對應的待檢測線路板通電,并控制升降機構(4)上移或者下移所述壓板(2);
其中,控制升降機構(4)下移所述壓板(2)具體包括:
預先根據下移速度以及壓板的初始位置計算下移至預設檢測位置所需的時長,從升降機構下移時開始計時,下移至預設時長后,即控制升降機構停止下移,以控制壓板下移至預設檢測位置。
2.根據權利要求1所述的光檢測裝置,其特征在于,所述遮光罩(21)由彈性材料制成。
3.根據權利要求1或2所述的光檢測裝置,其特征在于,所述壓板(2)對應所述LED指示燈的位置處開有預設形狀的縫隙(22),所述縫隙(22)的周邊設置有若干柱狀體(23),所述遮光罩(21)固定于所述縫隙(22)上,且每個所述遮光罩(21)對應一個所述LED指示燈。
4.根據權利要求1所述的光檢測裝置,其特征在于,所述光檢測電路(1)包括:光敏器件(11)、比較單元(12)和控制單元(13);
所述光敏器件(11),其阻值隨外部光亮度變化而變化;
所述比較單元(12),其信號輸入端與所述光敏器件(11)的輸出端電連接,將所述光敏器件(11)輸出的電壓/電流信號與預設閾值進行比較,并將比較產生的比較信號傳輸至所述控制單元(13);
所述控制單元(13),根據所述比較信號生成相應的檢測信號并輸出。
5.根據權利要求4所述的光檢測裝置,其特征在于,所述光敏器件(11)為光敏電阻(R1),且所述比較單元(12)包括:第二電阻(R2)、第三電阻(R3)、第四電阻(R4)、可變電阻(R5)以及運算放大器(U1A);
所述光敏電阻(R1),其一端與電源的正極電連接,另一端同時與所述運算放大器(U1A)的正相輸入端以及所述第二電阻(R2)的一端電連接,所述第二電阻(R2)的另一端與所述電源的負極電連接;所述第四電阻(R4)的一端與所述電源的正極電連接,另一端與所述可變電阻(R5)的第一端電連接,所述可變電阻(R5)的調節端與所述運算放大器(U1A)的反相輸入端電連接,所述可變電阻(R5)的第二端與所述第三電阻(R3)的一端電連接,所述第三電阻(R3)的另一端與所述電源的負極電連接。
6.根據權利要求5所述的光檢測裝置,其特征在于,所述控制單元(13)包括:第六電阻(R6)、第七電阻(R7)、電容(C1)、二極管(D1)、三極管(Q1)以及繼電器(K1);
所述第六電阻(R6)的一端與所述運算放大器(U1A)的輸出端電連接,另一端同時與所述第七電阻(R7)的一端、所述電容(C1)的正極端以及所述三極管(Q1)的基極電連接,所述第七電阻(R7)的另一端、所述電容(C1)的負極端以及所述三極管(Q1)的發射極均與所述電源的負極電連接,所述三極管(Q1)的集電極與所述二極管(D1)的正極電連接,所述二極管(D1)的負極與所述電源的正極電連接,所述繼電器(K1)的線圈端與所述二極管(D1)并聯連接,所述繼電器(K1)的兩個常開觸點與遠端的可編程邏輯控制器的IO端口電連接,且所述常開觸點即為所述控制單元(13)的檢測信號輸出端口。
7.一種光檢測方法,其特征在于,采用權利要求1-6任一項所述的光檢測裝置對待檢測線路板進行檢測,具體包括:
將待檢測線路板放置到檢測臺的待檢位置處;
控制所述升降機構(4)推動所述壓板(2)向下移動至預設檢測位置;
控制所述光檢測電路(1)先于其對應的待檢測線路板通電;
輸出所述光檢測電路(1)的檢測信號。
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