[發明專利]一種光纖光柵解調儀的標定方法及系統

有效

• 申請號: 201810835195.X
• 申請日: 2018-07-26
• 公開（公告）號: CN108896091B
• 公開（公告）日: 2019-08-06
• 發明（設計）人: 張天瑜;周萌;穆爭鳴;張曉彤;李振峰
• 申請（專利權）人: 吉林大學
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00;G01J9/00
• 代理公司: 北京高沃律師事務所 11569
• 代理人: 王戈

1.一種光纖光柵解調儀的標定方法，其特征在于，采用光纖光柵解調儀對第一梳狀濾波器進行波長測量，采用波長計對所述第一梳狀濾波器進行波長測量，所述標定方法包括：

獲取所述光纖光柵解調儀測量的所述第一梳狀濾波器的第一波長數據；

獲取所述波長計測量的所述第一梳狀濾波器的第二波長數據；

解調所述第一波長數據得到第一波長集合；

解調所述第二波長數據得到第二波長集合；

對所述第一波長集合的數據進行擬合，得到第一斜率；

對所述第二波長集合的數據進行擬合，得到第二斜率；

判斷所述第一斜率與所述第二斜率的差值小于設定閾值，得到第一判斷結果；

當所述第一判斷結果表示所述第一斜率與所述第二斜率的差值小于設定閾值時，確定所述波長計的精度為所述光纖光柵解調儀的精度；

當所述第一判斷結果表示所述第一斜率與所述第二斜率的差值大于或等于設定閾值時，將所述第一波長集合和所述第二波長集合中的對應波長做差值運算，得到最大差值；

對所述波長計的精度和所述最大差值求和，得到所述光纖光柵解調儀的精度。

2.根據權利要求1所述的標定方法，其特征在于，所述波長計的精度為0.3pm。

3.根據權利要求1所述的標定方法，其特征在于，所述光纖光柵解調儀包括：激光器、第一光隔離器、波分復用器、摻鉺光纖、第一耦合器、F-P濾波器、第二梳狀濾波器、第二光隔離器和第二耦合器；

所述激光器經過所述第一光隔離器進入環形光路，所述環形光路包括依次順次連接的波分復用器、摻鉺光纖、第一耦合器、F-P濾波器以及第二光隔離器，其中，所述第二光隔離器的輸出端與所述波分復用器的輸入端連接；所述第一耦合器的另一輸出端接第二耦合器，所述第二耦合器將光路分為兩路，一路接所述第二梳狀濾波器，另一路接所述第一梳狀濾波器。

4.根據權利要求3所述的標定方法，其特征在于，上位機通過采集卡輸出三角波至放大電路，經放大后的三角波輸入F-P濾波器作為其掃描電壓。

5.根據權利要求1所述的標定方法，其特征在于，采用全區間解調方式對所述第一波長數據進行解調，得到第一波長集合。

6.一種光纖光柵解調儀的標定系統，其特征在于，采用光纖光柵解調儀對第一梳狀濾波器進行波長測量，采用波長計對所述第一梳狀濾波器進行波長測量，所述標定系統包括：

第一波長數據獲取模塊，用于獲取所述光纖光柵解調儀測量的所述第一梳狀濾波器的第一波長數據；

第二波長數據獲取模塊，用于獲取所述波長計測量的所述第一梳狀濾波器的第二波長數據；

第一解調模塊，用于解調所述第一波長數據得到第一波長集合；

第二解調模塊，用于解調所述第二波長數據得到第二波長集合；

第一擬合模塊，用于對所述第一波長集合的數據進行擬合，得到第一斜率；

第二擬合模塊，用于對所述第二波長集合的數據進行擬合，得到第二斜率；

第一結果判斷模塊，用于判斷所述第一斜率與所述第二斜率的差值小于設定閾值，得到第一判斷結果；

第一確定模塊，用于當所述第一判斷結果表示所述第一斜率與所述第二斜率的差值小于設定閾值時，確定所述波長計的精度為所述光纖光柵解調儀的精度；

差值運算模塊，用于當所述第一判斷結果表示所述第一斜率與所述第二斜率的差值大于或等于設定閾值時，將所述第一波長集合和所述第二波長集合中的對應波長做差值運算，得到最大差值；

求和模塊，用于對所述波長計的精度和所述最大差值求和，得到所述光纖光柵解調儀的精度。

7.根據權利要求6所述的標定系統，其特征在于，所述波長計的精度為0.3pm。