[發明專利]基于超聲成像的HIFU探頭調節架及調節方法

在審

• 申請號: 201810828602.4
• 申請日: 2018-07-25
• 公開（公告）號: CN109125961A
• 公開（公告）日: 2019-01-04
• 發明（設計）人: 簡小華;徐杰;劉鵬波;呂加兵;崔崤峣
• 申請（專利權）人: 蘇州國科昂卓醫療科技有限公司
• 主分類號: A61N7/02
• 分類號: A61N7/02;A61B8/08
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 成珊

1.一種基于超聲成像的HIFU探頭調節架，其特征在于，包括：

橫梁臂；

第一固定器，與所述橫梁臂通過第一擺臂連接，用于固定高頻成像探頭；

第二固定器，與所述橫梁臂通過第二擺臂連接，用于固定低頻HIFU探頭；

控制器，分別與所述第一擺臂和所述第二擺臂連接，用于根據所述高頻成像探頭的位置參數來調整所述第二擺臂和/或所述低頻HIFU探頭的位置；

其中，所述位置參數包括：所述第一擺臂與所述橫梁臂之間的角度；和/或，所述高頻成像探頭與所述第一擺臂之間的角度；和/或，所述高頻成像探頭探測到的目標區域位置。

2.根據權利要求1所述的HIFU探頭調節架，其特征在于，還包括：

第一角度計，設置在所述第一擺臂和所述橫梁臂的連接處，用于計量所述第一擺臂和所述橫梁臂之間的第一角度；

第二角度計，設置在所述第二擺臂和所述橫梁臂的連接處，用于計量所述第二擺臂和所述橫梁臂之間的第二角度。

3.根據權利要求1所述的HIFU探頭調節架，其特征在于，所述裝置還包括：

顯示器，與所述高頻成像探頭連接，用于顯示所述高頻成像探頭探測到的畫面；

其中，所述控制器還用于根據所述畫面調整所述第一擺臂和/或所述高頻成像探頭的位置。

4.根據權利要求2所述的HIFU探頭調節架，其特征在于，所述角度計還包括：

基座；

開設在所述基座側壁上的至少一個固定孔和/或槽，用于將所述角度計的0度位置與所述橫梁臂固定連接；

旋轉器，設置在所述基座上，并能夠沿所述基座的軸線自由轉動；

限位組件，設置在所述基座上，并用于固定所述旋轉器的旋轉位置；

所述旋轉器與靠近其的所述擺臂固定連接。

5.根據權利要求1所述的HIFU探頭調節架，其特征在于，所述固定器與所述擺臂為可動連接。

6.一種基于超聲成像的HIFU探頭調節架的調節方法，其特征在于，包括：

用高頻成像探頭獲取目標區域的位置信息；

獲取第一角度計的角度值；

根據所述位置信息和/或所述角度值，計算調整所述第二角度計的角度值和/或所述低頻HIFU探頭的焦距。

7.根據權利要求6所述的基于超聲成像的HIFU探頭調節架的調節方法，其特征在于，所述根據所述位置信息和/或所述角度值，計算所述第二角度計的角度值和/或所述低頻HIFU探頭的焦距的步驟，包括：

若所述高頻成像探頭的位置是(x₁，y₁)，則所述低頻HIFU探頭調整后的位置(x₂，y₂)為

其中，θ₁為所述第一角度計的角度值，l₀為所述橫梁臂的長度，l₁為所述第一擺臂的長度，l₂為所述第二擺臂的長度，T₁為所述高頻成像探頭露出所述第一固定器的長度，T₂為所述低頻HIFU探頭露出所述第二固定器的長度，H₁為所述高頻成像探頭的高度，H₂為所述低頻HIFU探頭的高度；θ₂為所述第二角度計的角度值。

8.根據權利要求7所述的基于超聲成像的HIFU探頭調節架的調節方法，其特征在于，所述根據所述位置信息和/或所述角度信息，計算所述第二角度計的角度值和/或所述低頻HIFU探頭的焦距的步驟，還包括：

根據所述高頻成像探頭探測到的目標區域位置(x₃，y₃)，確定所述低頻HIFU探頭的焦距f：

其中，(x₂₀，y₂₀)為所述低頻HIFU探頭的聲波發射位置。