[發(fā)明專利]一種通孔焊點(diǎn)可靠性評(píng)估試驗(yàn)方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810825864.5 | 申請(qǐng)日: | 2018-07-25 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110851936B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周桂法;匡芬;汪旭;潘宇雄;杜紹華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中車株洲電力機(jī)車研究所有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F30/20 | 分類號(hào): | G06F30/20 |
| 代理公司: | 湖南兆弘專利事務(wù)所(普通合伙) 43008 | 代理人: | 周長(zhǎng)清;廖元寶 |
| 地址: | 412001 湖*** | 國(guó)省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 通孔焊點(diǎn) 可靠性 評(píng)估 試驗(yàn) 方法 裝置 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種通孔焊點(diǎn)可靠性評(píng)估試驗(yàn)方法,包括:S01、根據(jù)通孔焊點(diǎn)的運(yùn)行故障數(shù)據(jù),確定失效率曲線,并得到壽命分布類型;S02、對(duì)樣品進(jìn)行加速試驗(yàn);S03、根據(jù)試驗(yàn)數(shù)據(jù)預(yù)估加速模型以及加速因子;S04、基于預(yù)估加速模型、加速因子以及壽命分布類型,評(píng)估出通孔焊點(diǎn)的可靠壽命。本發(fā)明還公開(kāi)了一種試驗(yàn)裝置,包括第一模塊,用于根據(jù)通孔焊點(diǎn)的運(yùn)行故障數(shù)據(jù),確定失效率曲線,并得到壽命分布類型;第二模塊,用于對(duì)樣品進(jìn)行加速試驗(yàn);第三模塊,用于根據(jù)試驗(yàn)數(shù)據(jù)預(yù)估加速模型以及加速因子;第四模塊,用于基于預(yù)估加速模型、加速因子以及壽命分布類型,評(píng)估出通孔焊點(diǎn)的可靠壽命。本發(fā)明的試驗(yàn)方法及裝置均具有操作簡(jiǎn)便且快速可靠等優(yōu)點(diǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明主要涉及焊點(diǎn)分析技術(shù)領(lǐng)域,特指一種通孔焊點(diǎn)可靠性評(píng)估試驗(yàn)方法及裝置。
背景技術(shù)
在焊接良好的情況下,焊點(diǎn)的使用壽命往往是整板壽命的幾倍,若采用常規(guī)的加速壽命試驗(yàn)方法,需要開(kāi)展3組以上試驗(yàn),每組試驗(yàn)時(shí)間達(dá)到數(shù)千個(gè)循環(huán),耗費(fèi)大量的試驗(yàn)時(shí)間和費(fèi)用。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題就在于:針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供一種操作簡(jiǎn)便、快速可靠的通孔焊點(diǎn)可靠性評(píng)估試驗(yàn)方法及裝置。
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提出的技術(shù)方案為:
一種通孔焊點(diǎn)可靠性評(píng)估試驗(yàn)方法,包括步驟:
S01、根據(jù)通孔焊點(diǎn)的運(yùn)行故障數(shù)據(jù),確定通孔焊點(diǎn)的失效率曲線,并根據(jù)失效率曲線得到壽命分布類型;
S02、對(duì)樣品進(jìn)行加速試驗(yàn):在設(shè)定的試驗(yàn)應(yīng)力下進(jìn)行多次周期循環(huán)直至樣品失效,得到失效時(shí)的循環(huán)次數(shù);其中樣品包括現(xiàn)場(chǎng)返回的樣本和新生產(chǎn)的樣本;
S03、根據(jù)試驗(yàn)數(shù)據(jù)預(yù)估加速模型以及加速因子;
S04、基于預(yù)估加速模型、加速因子以及壽命分布類型,評(píng)估出通孔焊點(diǎn)的可靠壽命。
作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn):
在步驟S01中,確定通孔焊點(diǎn)的失效率曲線的步驟為:
S11、假設(shè)現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行電路板在第i年生產(chǎn)數(shù)量為Ni,截至統(tǒng)計(jì)時(shí)間的焊點(diǎn)失效數(shù)為ni,截至統(tǒng)計(jì)時(shí)間時(shí)第i年生產(chǎn)的電路板運(yùn)行時(shí)間為ti;則焊點(diǎn)失效率為:λi=ni/(Niti);
S12、剔除失效率異常點(diǎn),繪制失效率散點(diǎn)圖,并對(duì)失效率數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)行擬合,得到通孔焊點(diǎn)的失效率曲線。
在步驟S12中,所述擬合為回歸擬合或線性擬合或指數(shù)擬合或冪指數(shù)擬合中的任意一種。
在步驟S01中,在得到壽命分布類型后,利用概率圖紙方法對(duì)壽命分布類型進(jìn)行分布檢驗(yàn),若通孔焊點(diǎn)的各數(shù)據(jù)點(diǎn)分布在一條直線附近,則判斷壽命分布類型與失效率曲線結(jié)果一致。
在步驟S02中,樣品的選擇要求為:所有從現(xiàn)場(chǎng)返回的樣品為同一生產(chǎn)年份,并且在同一車輛的相同部件運(yùn)行。
在步驟S02中,設(shè)定的試驗(yàn)應(yīng)力從以下幾種加速條件下進(jìn)行選擇:①0℃~100℃;②-25℃~100℃;③-40℃~125℃;④-55℃~125℃;⑤-55℃~100℃。
設(shè)定的試驗(yàn)應(yīng)力還包括實(shí)測(cè)的車輛路譜振動(dòng)量值。
在步驟S02中,失效判據(jù)同時(shí)滿足以下兩條:①焊點(diǎn)表面開(kāi)裂100%;②焊點(diǎn)所在電路板功能測(cè)試輸出異常。
在步驟S03中,預(yù)估加速模型為:
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