[發明專利]一種觸摸屏的消影模擬方法和消影模擬裝置

在審

• 申請號: 201810825725.2
• 申請日: 2018-07-25
• 公開（公告）號: CN109117525A
• 公開（公告）日: 2019-01-01
• 發明（設計）人: 李保然;范文金
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;合肥鑫晟光電科技有限公司
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50;G06F3/041
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 柴亮;張天舒

本發明提供一種觸摸屏的消影模擬方法和消影模擬裝置，屬于觸控技術領域，其可解決現有技術中無法直接快速的檢測出觸摸屏的消影效果的問題。本發明的觸摸屏的消影模擬方法只需獲取設計的觸摸屏產品的觸控電極層和消影功能膜層的參數數據、模擬測試光照數據，就可以得到觸摸屏的圖案區與非圖案區的反射率差異數據，然后結合觸控電極層的圖案，進行模擬，即可得到觸摸屏的消影效果。該方法無需制備大量產品進行數據測試，可以直接快速的通過模擬判斷出設計的新產品的消影效果，使用該方法進行觸摸屏的消影模擬可以大大減少設計試驗投入。

技術領域

本發明屬于觸控技術領域，具體涉及一種觸摸屏的消影模擬方法和消影模擬裝置。

背景技術

近年來，觸摸屏出現一種技術是將透明導電材料如ITO直接蒸鍍在玻璃上得到ITO層，再將ITO層圖案化形成觸控電極。其中由ITO構成的透明觸控電極可以極大提高產品的光學性能，使得該觸控屏透光率更高，得到的觸控產品也較薄。

發明人發現現有技術中至少存在如下問題：由于ITO的反射率與玻璃的反射率相差太多，又由于人眼對不同波長的光敏感度存在差異，ITO直接蒸鍍在玻璃上形成圖案后，圖案化區域與非圖案化區域的蝕刻紋路較為明顯，肉眼就可觀察到ITO蝕刻痕跡。為了不容易看出ITO形成的圖案，現有技術中視圖嘗試多種消影設計方案，例如增加多層不同材料、不同厚度構成的消影層，但是每種新產品的消影效果卻只能根據人工經驗判斷或者逐一測試產品的ITO與玻璃的反射率差值，通過大量測試數據來判斷，這樣會造成大量的設計試驗投入，現有技術中無法直接快速的通過模擬判斷出設計的新產品的消影效果。

發明內容

本發明針對現有技術中無法直接快速的檢測出觸摸屏的消影效果的問題，提供一種觸摸屏的消影模擬方法和消影模擬裝置。

解決本發明技術問題所采用的技術方案是：

一種觸摸屏的消影模擬方法，所述觸摸屏包括基底，以及設于基底上的觸控電極層和消影功能膜層，所述模擬方法包括以下步驟：

獲取觸控電極層和消影功能膜層的參數數據，獲取模擬測試光照數據；根據所述參數數據和模擬測試光照數據得到觸摸屏的圖案區與非圖案區的反射率差異數據；

獲取觸控電極層的圖案，根據所述觸控電極層的圖案得到觸控電極層的圖形數據；

根據圖形數據和反射率差異數據進行模擬，得到觸摸屏的消影效果。

可選的是，所述參數數據包括觸控電極層和消影功能膜層的厚度、折射率，以及觸控電極層和消影功能膜層的材料的消光系數。

可選的是，所述模擬測試光照數據包括模擬測試光照的初始入射光強度，模擬測試光照的視見函數，模擬測試光照的最大光功當量。

可選的是，獲取觸控電極層的圖案，根據所述觸控電極層的圖案得到觸控電極層的圖形數據包括：

獲取包括觸控電極層的圖案的圖片；

將所述圖片轉換為矢量圖得到圖形數據。

可選的是，所述圖形數據包括觸控電極層的圖案的面積數據和觸控電極層的圖案的消影系數。

可選的是，根據圖形數據和反射率差異數據進行模擬包括使用matlab主程序進行模擬。

可選的是，根據所述參數數據和模擬測試光照數據得到觸摸屏的圖案區與非圖案區的反射率差異數據包括：使用膜系軟件TFCalc或者Macleod得到。

本案還提供一種觸摸屏的消影模擬裝置，所述觸摸屏包括基底，以及設于基底上的觸控電極層和消影功能膜層，所述模擬裝置包括：

第一輸入單元，用于輸入觸控電極層和消影功能膜層的參數數據，以及輸入模擬測試光照數據；

第二輸入單元，用于輸入觸控電極層的圖案；