[發明專利]一種雙通道飛行時間質量分析器

在審

• 申請號: 201810822073.7
• 申請日: 2018-07-24
• 公開（公告）號: CN110706999A
• 公開（公告）日: 2020-01-17
• 發明（設計）人: 丁利;清江;蔣偉;王季誠
• 申請（專利權）人: 寧波海歌電器有限公司
• 主分類號: H01J49/40
• 分類號: H01J49/40
• 代理公司: 12214 天津創智天誠知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 陳昌娟;田陽

本發明公開了一種雙通道飛行時間質量分析器，包括雙通道加速器、無場飛行區、雙通道反射器、雙檢測器；所述雙通道飛行時間質量分析器有兩組并行分布的離子通道，其各組通道的中心軸均在同一平面上，兩個通道并行分布，互不干擾。裝置采用雙通道設計，將現有技術中的加速區、飛行區和反射區結構合為一體，滿足與不同離子源相對接的需求，實現飛行時間質量分析的同步性，進而實現同時獲得兩組分析數據，縮短了樣品分析的成本和時間。

技術領域

本發明屬于質譜分析儀器技術領域，具體涉及一種雙通道飛行時間質量分析器。

背景技術

飛行時間質量分析器(time-of-flight-MS，TOF-MS)的原理在于，進入飛行區的離子在動能和電場作用下飛行，質荷比較小的離子飛行時間短，質荷比較大的離子飛行時間長，從而使不同質荷比的離子到達檢測器的時間不同而被分離。現有的飛行時間質譜儀無法實現在一套設備中針對一次進樣的物質針對不同的離子源，同時進行分析處理，為了與不同離子源相對接，實現飛行時間質量分析的同步性，需要一種可同步接收兩束離子的飛行時間質量分析器。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術的不足，提供一種雙通道飛行時間質量分析器，該裝置采用雙通道設計，將現有技術中的加速區、飛行區和反射區結構并排設置，滿足與不同離子源相對接的需求，實現飛行時間質量分析的同步性，進而實現同時獲得兩組分析數據，縮短了樣品分析的成本和時間。

本發明是通過以下技術方案實現的：

一種雙通道飛行時間質量分析器，包括作為無場飛行區的真空腔體、雙通道加速器、雙通道反射器和檢測器，在真空腔體一側并排設置雙通道加速器和2組檢測器，在真空腔體另一側設置雙通道加速器，在在真空腔體形成供兩組經電離的離子飛行的并行離子通道，兩組經電離的離子分別經由加速器、無場飛行區、反射器、無場飛行區的拋物線飛行軌跡到達檢測器。

在上述技術方案中，所述雙通道加速器采用雙孔并行結構，即在一整體極片上設置并排的通孔。

在上述技術方案中，所述雙通道加速器由兩片獨立并行分布的單孔極片構成。

在上述技術方案中，所述雙通道反射器采用雙孔并行結構，即在一整體極片上設置并排的通孔。

在上述技術方案中，所述雙通道反射器由兩片獨立并行分布的單孔極片構成。

在上述技術方案中，所述真空腔體內沿離子飛行方向設置隔板，將真空腔體分隔相互獨立的腔體。

在上述技術方案中，所述雙通道加速器包括離子調制區與加速區。

在上述技術方案中，在所述離子調制區和加速區之間設置第一柵網電極g1。

在上述技術方案中，所述雙通道反射器僅包含一個反射區，及第一反射區b1。

在上述技術方案中，所述雙通道反射器包含第一反射區b1和第二反射區b2。

在上述技術方案中，所述第一反射區b1和第二反射區b2之間設置第四柵網電極g4。

在上述技術方案中，所述檢測器為雙微通道板離子檢測器。

在上述技術方案中，所述真空腔體與雙通道加速器之間設置第二柵網電極g2，真空腔體與雙通道反射器之間設置第三柵網電極g3，真空腔體與檢測器之間設置第五柵網電極g5。

本發明的優點和有益效果為：